γ射线料位计的工作原理简介
γ射线料位计是利用γ射线能够穿透物质，并在物质中减弱的特征，对物位进行检测。基本射线衰减规律遵从下式： I=I0e 在实际应用中，测量方式的选择是很讲究的，放射源和探测器的位置也不一定是沿着料仓直径线正对着分布。也有这样的测量情况：将放射源置于被测料仓内部，此种测量方式，放射源插入料仓的角度、深度都需要考虑各种因素，周密计算后方可确定。......阅读全文
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
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X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
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X射线衍射仪工作原理
X射线衍射仪工作原理x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
X射线衍射仪工作原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的
x射线衍射仪的原理简介
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德
单晶X射线衍射的原理简介
利用晶体形成的 X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些 方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的 衍射现象。衍射X射线满足布拉格（W.L.Brag
X射线衍射分析的原理简介
X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定 波长的X 射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X 射线满足 布拉格（
阻旋式料位计的主要原理
该控制器采用机电位控原理，接触测量料位。当料仓内叶片部位无料时，料位器通电，指示灯亮，叶片逆时针旋转；当料仓内叶片部位有料时，叶片旋转受阻，控制信号转换，随之断开料位器电机电源，此状态一直维持到叶片部位无料，料位器自动复位，电机电源接通，指示灯亮，叶片开始旋转，控制信号切换。
雷达料位计的特点及测量原理
特点 NIVELCO 导波雷达料位计是测量料位的最佳方法；导波雷达料位计测量不受罐体形状的影响；也不受介电常数、温度、压力与密度的影响；导波雷达料位计的测量长度可以灵活变更，无须标定；测量结果具有高精度、可重复性、高分辩率；NIVELCO导波雷达料位计的测量范围可达24米，适用的介质温度范围-
雷达料位计的基本原理
雷达波是一种特殊形式的电磁波，雷达料位计利用了电磁波的特殊性能来进行料位检测。电磁波的物理特性与可见光相似，传播速度相当于光速。其频率为300MHz-3000GHz。电磁波可以穿透空间蒸汽、粉尘等干扰源，遇到障碍物易于被反射，被测介质导电性越好或介电常数越大，回波信号的反射效果越好。 雷达波的
阻旋料位计原理及特点
阻旋料位计简称“阻旋开关”“旋阻开关”“阻移开关”“料位器”、“料位计”、“料位开关”、“物位开关”、“料位仪”、“料位传感器”等，主要用于各种物料（如粉状、颗粒状或块状）料仓极限料位的自动检测与控制，不同型号的料位器可满足不同工况的要求，在冶金、粮食、面粉，建材，水泥、电力、煤炭、化工、铸造、
导波式雷达料位计的优缺点简介
导波式雷达料位计此为雷达料位计的一种变型，通常采用脉冲波方式工作。与雷达料位计不同微波脉冲不是通过空间传播，而是通过1根（或2根）从仓顶伸入、直达仓底的导波体传播。导波体可以是金属硬杆或柔性金属缆绳，微波脉冲沿杆或缆的外侧向下传播，在被测物料表面被反射，回波被天线接收，由发射与回波脉冲的时间差即
简介逆变器的工作原理
逆变器是一种DC to AC的变压器，它其实与转化器是一种电压逆变的过程。转换器是将电网的交流电压转变为稳定的12V直流输出，而逆变器是将Adapter输出的12V直流电压转变为高频的高压交流电；两个部分同样都采用了用得比较多的脉宽调制（PWM）技术。其核心部分都是一个PWM集成控制器，Adap
简介变流器的工作原理
变流器除主电路(分别为整流电路、逆变电路、交流变换电路和直流变换电路）外，还需有控制功率开关元件通断的触发电路（或称驱动电路）和实现对电能调节、控制的控制电路。变流器的触发电路包括脉冲发生器和脉冲输出器两部分。前者根据控制信号的要求产生一定频率、一定宽度或一定相位的脉冲；后者将此脉冲的电平放大为
简介透镜的工作原理
用于灯具上之一种玻璃或塑料性组件可以变化光线之方向或是控制配光分布情形。 透镜是组成显微镜光学系统的最基本的光学元件，物镜、目镜及聚光镜等部件均由单个和多个透镜组成。依其外形的不同，可分为凸透镜(正透镜)和凹透镜(负透镜)两大类。 当一束平行于主光轴的光线通过凸透镜后相交于一点，这个点称“焦
晶闸管的工作原理简介
当晶闸管承受正向阳极电压，而门极未受电压的情况下，式（1—1）中，Ig=0,(a1+a2)很小，故晶闸管的阳极电流Ia≈Ic0晶闸关处于正向阻断状态。当晶闸管在正向阳极电压下，从门极G流入电流Ig,由于足够大的Ig流经NPN管的发射结，从而提高起点流放大系数a2,产生足够大的极电极电流Ic2流过
球磨机的工作原理简介
球磨机是由水平的筒体，进出料空心轴及磨头等部分组成，筒体为长的圆筒，筒内装有研磨体，筒体为钢板制造，有钢制衬板与筒体固定，研磨体一般为钢制圆球，并按不同直径和一定比例装入筒中，研磨体也可用钢段。根据研磨物料的粒度加以选择，物料由球磨机进料端空心轴装入筒体内，当球磨机筒体转动时候，研磨体由于惯性和
光端机的工作原理简介
光端机是光通信系统中的传输设备，主要是进行光电转换及传输功用。光端机一般成对使用，由发射端和接收端构成。发射端将用户端的模拟信号通过放大、A/D转换、复用等处理，最后通过电/光转换把电信号转换成可经光纤传输的光信号由光纤传输到接收端。在接收端则进行相反的处理，先经过光/电转换把接收的光信号还原为
超声波料位计的相关原理介绍
超声波料位计是由微处理器控制的数字液位仪表。下面小编给大家介绍一下超声波料位计原理。 根据声波传播的介质不同，超声波物位计可分为固介式、液介式和气介式三种。超声换能器探头可以使用两个，也可以使用一个。 前者是一个探头发射超声波，另一个探头用来接收；后者是发射与接收声波均由一个探头
x射线衍射仪的工作原理是什么？
对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。 X射线衍射仪是
x射线衍射仪的工作原理和应用
什么是x射线衍射仪 X射线衍射仪(X-ray diffractometer，XRD)是利用X射线衍射原理研究物质内部结构的一种大型分析仪器。令一束X射线和样品交互，用生成的衍射图谱来分析物质结构。它是在X射线晶体学领域中在原子尺度范围内研究材料结构的主要仪器，也可用于研究非晶体。 x射线衍
x射线粉晶衍射仪的工作原理
x射线粉晶衍射仪主要应用在晶体材料的物相（包括元素、化合物、固溶体）分析，材料的晶格计算，残余应力等方面。主要原理是依据布拉格方程，利用已知波长的X射线照射在样品表面，获得图谱，从而得到所要信息。样品可以是块状也可以是粉末状
X射线晶体定向仪工作原理
利用X射线衍射原理，精密快速地测定天然和人造单晶(压电晶体，光学晶体，激光晶体，半导体晶体)的切割角度，与切割机配套可用于上述晶体的定向切割,是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器·该仪器广泛应用于晶体材料的研究，加工，制造行业。 工作原理 X射线晶体定向仪利用X射线衍射原理，精密快速地测定天