称重样品要放置在秤盘的中间的原因
对于微量和半微量电子天平,秤盘在长于30分种的称量停顿后需先行一次简短的加载(初始称重作用)。在称重过程完全结束后才能把称重样品从秤盘上移走,防止产生因称重样品引起的称重室温度和空气湿度变化。......阅读全文
电子分析天平常见故障及排除
FA型系列电子天平常见故障及排除1.故障现象:天平开机自检无法通过，出现下列故障代码"ECI”:CPU损坏"EC2”:键盘错误"EC3”:天平存储数据丢失"EC4”:采样模块没有启动原因:致命错误造成天平不能正常工作解决方法:将天平送修2.故障现象:天平显示“L"原因:1)没有安敞秤盘；2)秤盘下面
微量天平的正确称量方法
称重是实验中最常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平(可读性为0.1ug-0.1mg)已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步同样对使用
微量天平的正确称量方法
称重是实验中最常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平(可读性为0.1ug-0.1mg)已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步同
微量天平的正确称量方法
称重是实验中zui常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平（可读性为0.1ug-0.1mg）已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步同样
微量天平的正确称量方法
称重是实验中最常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平(可读性为0.1ug-0.1mg)已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步
微量天平的正确称量方法
称重是实验中zui常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平（可读性为0.1ug-0.1mg）已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步同
微量天平的正确称量方法
称重是实验中最常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平(可读性为0.1ug-0.1mg)已非常完善了，因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样，天平的适应性也增强了，现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而，这些进步同样对使用
万分之一电子天平故障原因处理方法
万分之一电子天平的几则故障处理 1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数时读取显示值乘
万分之一电子天平故障原因处理方法
万分之一电子天平的几则故障处理 1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数时读取显示值乘
万分之一电子天平故障原因处理方法
万分之一电子天平的几则故障处理 1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数
万分之一电子天平故障原因处理方法
万分之一电子天平的几则故障处理 1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数
进口万分之一天平故障处理方法
进口万分之一天平故障处理方法：1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数时读取显示值乘以倍数
进口万分之一天平故障处理方法
进口万分之一天平故障处理方法：1.天平显示“E1”，显示溢出，显示值己超过99999999 原因：计件或百分比称重时，样品值过小。 解决方法：计件时出现“E1”，首先取走秤盘上的物体，重新选择样品的件数，可选10样品的整数2倍、5倍、10倍等作为样品。记下当前样品的倍数，读数时读取显示值乘以倍数
电子天平使用特别注意事项
一、电子天平的心脏一重力电磁传感器簧片（一般共有六一八片）细而薄，极易受损，且天平的精度越高，其重力传感簧片也越薄，所以在使用中应特别注意加以保护，不要向天平上加载重量超过其称量范围的物体，绝不能用手压称盘或使天平跌落地下，以免损坏天平或使重力传感器的性能发生变化，另外称量一个物体一般不要是较重
盐雾试验箱内试验样品如何放置
盐雾试验箱利用一定浓度的盐溶液或酸性盐溶液，在一定的温度和通过盐雾喷淋的方法在一定的相对湿度的环境下对进行加速盐雾腐蚀试验。盐雾试验箱主要用来考核样品材料及其涂层、电镀层等防护层的抗盐雾腐蚀的性能，以及相似相同的防护层之间的工艺质量的比较。 盐雾试验箱工作温度为室温至55℃之间，并能保持恒
电子天平不能称重原因
电子天平不称重解决方法： 方法一：打开内码值，如果为没有内码值或有一个数值但物品放上去后秤盘数值也不会变化，这种称为无内码或死码，均会造成不校正或不秤重；这种情况请检查称重传感器的焊线是否有掉. 方法二：如果出现不稳或内码太高或太低，一般是主板的阻波器以及电容不良，或者是AD坏
SEM样品破坏的原因
样品破坏的原因 样品的破坏与加速电压有关，灯丝产生的电子可以与样品原子中的电子相互作用。如果样品中的价电子（可以参与形成化学键的电子）碰巧从原子中被激发，它将留下一个电子空位。该电子空位必须在100飞秒内被另一个电子填充，否则化学键将被破坏。 在导电材料中，这不是问题，因为电子空位填充在1飞秒（fs
温度冲击试验箱两种放置样品的方式
温度冲击试验箱是环试行业难度高的试验设备之一，其价格便宜的也是十万以上上。用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。大家都知道温度冲击试验箱分为两箱式与三箱式。三箱式分为高温区低温区和测试区。两箱式与三箱式
盐水喷雾试验箱样品的三种放置方法
盐水喷雾试验箱样品的三种放置方法 盐水喷雾试验箱的盐雾试验主要针对于金属产品，从小配件如螺丝螺帽到整个金属物件，体积、大小参差不齐。对于不同物品的放置也是有讲究的，盐水喷雾试验箱样品架有：圆棒、V型样品架及箱体，具体放置如下： 一、盐水喷雾试验箱圆棒样品放置 圆棒材质是内不锈钢，外镀PVC
万分之一天平如何标定与安装
1.确保稳定，无振动的安放位置，并且尽可能地水平。2.避免阳光直射，强烈的温度变化，空气对流。应放于房间角落稳固的操作台，并使之免受来自房门，窗户，散热片或空调通风口的气流。3.调整水平脚，使水平泡中的气泡处于正中位置。注：天平每移动一次位置都需重新调整水泡。4.天平接通电源，显示器即显示“OFF”
梅特勒电子天平日常故障因素分析
梅特勒电子天平日常故障因素分析，珠海天创仪器公司为大家详细介绍：1、梅特勒电子分析天平故障现象：开机显“H”或“L”，加载显示无变化原因：传感器损坏解决方法：请送恒平更换传感器。2、梅特勒电子分析天平故障现象：天平显示“E1”，显示溢出，显示值已超过99999999原因：计件或百分比称重时，样品值过
梅特勒电子天平故障原因及相应解决方法
1、梅特勒电子分析天平故障现象：开机显“H”或“L”，加载显示无变化原因：传感器损坏解决方法：请送恒平更换传感器。 2、梅特勒电子分析天平故障现象：天平显示“E1”，显示溢出，显示值已超过99999999原因：计件或百分比称重时，样品值过小 梅特勒电子分析天平解决方法： 1)计件时出现“E1”，
高低温试验箱试验时样品放置
高低温试验箱做试验时对于试验样品的大小，试验样品的种类及摆放有明确规定。本文就试验样品的摆放及其他注意事项做详细介绍：首先，试验样品体积最好不要超过高低温试验箱内箱容积的1/3。若超过则可能会影响试验箱内的风道循环，从而影响均匀度。然后，试验样品的摆放，应放置于箱体中中间，不能遮住上面的风道，也不
电子天平常见故障以及解决方案
故障原因：1)秤盘下存有异物；2)未安装秤盘；3)气流墨和秤盘碰在一起；排除方法:1)查看秤盘下是否有异物存在，轻轻拿走；2)请把秤盘安装在秤盘座上；3)慢慢转动秤盘或气流罩查看是否有碰触的情况，调整气流罩的位置；2.加载天平显示“H”的故障：故障原因：1)曾经用过小于校准砝码值的砝码或其它物体校准
微量天平的正确称量方法介绍
称重是实验中最常见的操作之一。当今的微量、半微量及分析天平(可读性为0.1ug-0.1mg)已非常完善了,因此一般情况下称重过程无需在特殊的称重室内完成。 电子技术的进步大大简化了操作过程并明显缩短了称重时间。同样,天平的适应性也增强了,现在它甚至可被直接应用在生产现场。然而,这些进步同样对使用
为什么要校准称重传感器？
称重传感器是用于测量多个不同应用中的重量或力的设备。称重传感器本身是一个传感器，用于将力转换为电信号。此信号通常只有几毫伏，需要放大才能使用。大多数称重电池使用应变片技术。这项技术非常成熟，已经证明了40多年。 称重传感器经常用作称重系统的一部分，因为它们提供非侵入性、高精度的负载测量数据
SEM样品要烘干水分？
1、高真空环境是分子流,湿的样品不断释放水蒸气,使高真空情况下,真空度很难上升,往往达不到比较优越的条件. 2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应,会加速电子枪灯丝挥发,极大降低灯丝寿命. 3、对电子束的散射,会造成信号损失 4、污染样品
测vsm要多少样品
适合振动样品磁强计测量的样品大小：块状样品最好做成直径3mm x 3mm的圆柱或薄片3mm x 3mm x1mm,以减少或方便确定退磁因子的影响，但也可以为任意形状，尺寸相当于上述圆柱或薄片，最好不要超过5mm；通常粉末样品应压成样块以获得最精确结果，若不能提供压块，应将其制成塑料小管等材料包裹的样
测vsm要多少样品
适合振动样品磁强计测量的样品大小：块状样品最好做成直径3mm x 3mm的圆柱或薄片3mm x 3mm x1mm,以减少或方便确定退磁因子的影响，但也可以为任意形状，尺寸相当于上述圆柱或薄片，最好不要超过5mm；通常粉末样品应压成样块以获得最精确结果，若不能提供压块，应将其制成塑料小管等材料包裹的样
电子天平常见故障以及解决方案
1. 电子天平显示“L”：故障原因：1)秤盘下存有异物；2)未安装秤盘；3)气流墨和秤盘碰在一起；排除方法:1)查看秤盘下是否有异物存在，轻轻拿走；2)请把秤盘安装在秤盘座上；3)慢慢转动秤盘或气流罩查看是否有碰触的情况，调整气流罩的位置； 2.加载天平显示“H”的故障：故障原因：1)曾经用过小于校