电子探针X射线显微分析仪的阴极发光介绍
阴极发光是指晶体物质在高能电子的照射下，发射出可见光红外或紫外光的现像。阴极发光现象和发光能力、波长等均与材料基体物质种类和含量有关。阴极发光效应对样品中少量元素分布非常敏感，可以作为电子探针微区分析的一个补充，根据发光颜色或分光后检测波长即可进行元素分析。从阴极发光的强度差异还可以判断一些矿物及半导体中杂质原子分布的不均匀性。例如半导体和一些氧化物、矿物等，用EPMA的同轴光学显微镜可以直接观察可见光，还可以用分光光度计进行分光和检测其强度来进行元素分析。阴极发光现象是了解物质结合状态与结晶状态，是否含有杂质元素等最有效的手段。......阅读全文
X射线荧光分析仪的主要分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波
选择X射线荧光分析仪的误区
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
X射线荧光分析仪的发展历程
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
扫描电镜的分辨率和特点有哪些
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到
X射线显微镜的透射式X相关内容
用波带片作为聚光镜、显微波带片作为成像放大物镜、CCD 为探测器, 分辨力可达10 nm。将样品连上了制冷装置( 氦气)、转动机构，并使CCD 与计算机连接，则可做断层扫描(CT)，并从屏幕上直接观察CT 图。 水窗： 水窗是指从波长2.3 nm 至4.4 nm的一个波段范围。用此范围的X 射
关于阴极射线示波器的基本信息介绍
阴极射线示波器（cathode ray oscillograph）显示电压波形的电子仪器。由示波管、放大器和锯齿波发生器等部分构成。在示波管垂直偏转板上加信号电压，在水平偏转板上加锯齿波电压，可使电子束在荧光屏上描绘出欲研究的电压波形，以便观察、记录或拍摄照片。可用于测量频率、相位，电压，研究电
关于阴极射线示波器显像管介绍
示波器的核心是一个显像管，这种显像管与电视机和计算机监视器所用的显像管相似。在显像管的颈部有一个与真空电子管相似的电极系统，产生细小的电子束，也就是阴极射线。与电子管--样，显像管的电子束也是由加热的阴极发射的。栅极在这里称为门极，用于调节电子束流量，也就是电子束的强度。电子管只有一个阳极，但是
简述扫描电子显微镜的功能特性
可以通过电子学方法有效地控制和改善图像质量, 如亮度及反差自动保持, 试样倾斜角度校正, 图象旋转, 或通过Y调制改善图象反差的宽容度, 以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器, 可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。 可进行综合分析。装上波长色散X射线谱仪(WDX) 或能
地学实验室及仪器扫盲（5）电子探针实验室
实验设备 名称：SX51型电子探针 型号：SX51 性能指标：法国CAMRCA公司生产 1994年10月安装使用 配备3道波谱仪（WDS） 、OXFORD公司LINK ISIS能谱仪（EDS）以及阴极发光（CL）探头。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析Na-U间的元素。
X－射线显微镜的功能结构特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
概述X射线显微镜的成像与构造
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。 此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有
x射线显微成像原理是光的衍射吗
X射线成像不新鲜， 医院的X光机，CT, 都是X射线成像设备。作为x射线显微成像装置，其成像原理和X光机没有差别，--光散射原理。但X光不能聚焦，只能采用扫描X光线束微区光栅扫描。但X光束也不能聚焦很细，所以有效放大倍数极低。TEM的普通成像模式和X射线显微镜相似。
X射线荧光光谱分析仪的优点介绍
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在
关于X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪和能量（energy）色散X射线荧光光谱仪； 波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关(related)电子与控制部件，相对简单。 X射线荧光分析仪基本原理
X射线荧光光谱分析仪的缺点介绍
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
X射线应力仪的介绍的介绍
X射线为表面残余应力测定技术中数量较少的无损检测法之一，其是利用材料或制品晶面间距的变化来对应力进行测定的，作为残余应力分析和检测方法，对其研究的非常广泛，深入以及成熟。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器对X射线在给定角度入射后的全部衍射德拜环进行获取，不需要测角仪，使传统X射线残余应力分
扫描电子显微镜的类型及特点
扫描电子显微镜类型多样, 不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。根据电子枪种类可分为三种:场发射电子枪、钨丝枪和六硼化镧。其中, 场发射扫描电子显微镜根据光源性能可分为冷场发射扫描电子显微镜和热场发射扫描电子显微镜。冷场发射扫描电子显微镜对真空条件要求高, 束流不稳定, 发射体使用寿命短, 需要
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
关于x光机的X射线发现的介绍
X射线发现 1895年德国物理学家伦琴(W．C．RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时，用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极，一个叫做阴极)的密封玻璃管，在电极两端加上几万伏的高压电，用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄，在玻璃管外面套上一层黑色纸板。
关于X射线的本质的介绍
X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二像性。 1）波动性 X射线的波长范围：0.01~100 用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm 2）粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐
Nature：高分辨X射线发光扩展成像机制获解析
柔性平板探测器历来是X射线平板探测器开发的技术瓶颈，福州大学教授杨黄浩、陈秋水课题组提出了高能量X射线光子诱导缺陷产生长余辉发光的机理，打破传统X射线平板探测器的固有限制，为制备新一代柔性X射线成像设备提供了新思路和途径。2月18日，《自然》在线发表了他们的合作研究论文《高分辨X射线发光扩展成像
发光学报－|－钙钛矿直接型－X－射线探测成像
X射线探测广泛应用于医疗诊断、工业探伤、安防安检等诸多领域，其中X射线面阵探测器是影像设备中的关键部件。直接探测利用半导体材料一步将X射线转换为电信号，可以实现高空间分辨率。钙钛矿材料由于X射线衰减序数高、载流子扩散距离长、辐照稳定等优势，近年来已成为直接型X射线探测器的明星材料。基于此，武汉理工大
电子探针的技术支持
该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流(在10-9-10-7A范围)，常用的加速电压为
X射线衍射仪的的X射线探测器和控制装置介绍
（1）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置； 计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。 （2）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。 X射线能对人体组织造成伤害，在自己
什么是空心阴极灯的发光原理
空心阴极灯，为了解决原子吸收法的实际测量问题，1955年由A.Walsh提出，它是一种特殊形式的低压辉光放电锐线光源，因为空心阴极灯发射锐线光源，满足了原子吸收光谱法的条件。 空心阴极灯的发光原理 空心阴极灯(hollow cathode lamp,HCL)是一种特殊形式的低压气体放
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
微区X射线光谱分析仪的分析应用
电子探针全称电子探针X 射线显微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪，是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，英文简称为EPMA。 可用来分析薄片中矿物微区的化学组成，分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，
选购X射线荧光分析仪的注意点
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
简述X射线荧光分析仪的产品特点
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从