质谱分析法术语稳定离子
稳定离子（stable ion）指在离子源生成的，离开离子源后直至到达检测器不发生裂解的离子。通常指寿命比10-5s长的离子。......阅读全文
质谱分析法术语电离度
电离度（degree of ionization）泛指液体、气体或气溶胶在高温或高频电场作用下，生成的离子浓度M+与该体系中仍然存有的自由原子浓度M和生成离子浓度M+之和的比[M+（M＋M+)]。电离度遵从Saha方程，即原子的电离度与原子蒸气的分压强、元素原子的电离电位和体系的温度密切相关。
质谱分析法术语激光消融
激光消融（ laser ablation）又称激光烧蚀。用强脉冲激光对固体表面照射时，表面被迅速加热并被熔化，由于产生的蒸气激烈释放，使固体表面受到侵蚀的现象。
质谱分析法术语电荷数
电荷数（chargenumber）以电子电量e去除离子的总电荷q得到的值。其整数值用z表示，z＝q/e。
质谱分析法术语放电电离
放电电离（discharge ionization）一种利用放电现象（如电弧、辉光、火花、电晕等）进行离子化的方法。
质谱分析法术语绝对测量
绝对测量（ absolute measurement）绝对测量泛指不依赖任何参照物，在测量过程中有效消除仪器系统误差，给出具有不确定度测量值的方法。绝对测量值的不确定度依赖于样品制备、消除仪器系统误差等系列操作产生的误差分量和仪器测量精度。
质谱分析法术语无机质谱法
无机质谱法（ inorganic mass spectrometry）用质谱仪器对无机元素或无机化合物进行定性定量分析的方法。早期以火花源质谱法、二次离子质谱法为主，随着电感耦合等离子体质谱法、辉光放电质谱法的成熟，拓宽了无机质谱法的应用领域。在高纯气体、高纯材料中痕量杂质分析，无机物元素分析，固体
质谱分析法术语弹性碰撞
弹性碰撞（elastic collision）如果离子与原子，或离子与分子之间的碰撞，仅仅是改变了离子的运动方向，并不发生相互间的能量交换，这种相互碰撞就称为弹性碰撞。
质谱分析法术语电离效率
电离效率（ionization efficiency）电离效率泛指在特定环境下，经电离生成的原子离子数与进入电离区预测量样品原子总数之比，电离效率的高低取决于所采用的电离方法、电离机制和电离时的相关参数。
质谱分析法术语表面电离
表面电离（surface ionization，SI）原子或分子与炽热的固体表面相互作用实现离子化。样品涂覆在金属表面，当加热金属表面时样品受热蒸发，蒸发出的原子（或分子）大部分飞离金属表面，一部分与热金属表面直接作用形成离子的过程即表面电离。样品受热激发释放电子形成正离子称其为正热电离；样品吸收电
质谱分析法术语标准物质
标准物质（reference materials，RM）亦称参考物质。已确定其一种或几种特性量值，用于校准测量器具、评价测量方法或确定材料特性量值的物质。标准物质是国家计量部门颁布的一种计量标准，具有以下的基本属性:均匀性稳定性和准确量值。标准物质可以是纯的或混合的气体、液体或固体，也可以是一件制品
质谱分析法术语功函数
功函数（work function）亦称逸出功，脱出功。一个电子从金属或半导体的原子外层逸出时所需要的功，单位伏特。
质谱分析法术语基准物质
基准物质（primary reference materials，PRMs）用权威（或绝对）方法确定其特性量值，具有最高计量特性，并给出了包括物质变动性在内的总不确定度的估计值的标准物质，其特性量值的总不确定度达到最高水平。目前国际上公认的基准物质有:用库仑法定值的纯度标准物质，用同位素稀释质谱法定
质谱分析法术语延迟引出
延迟引出（ delayed extraction）用于飞行时间质谱的一种技术，对利用激光解吸等脉冲式方法产生的离子，在离子产生一定时间（几十纳秒）之后再施加引出电压，这样可以抵消运动能量的分散。通过此方法可提高飞行时间的分辦能力，从而得到较高分辨率的质谱图。
质谱分析法术语原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是该元素所含各稳定性同位素以碳-12的原子质量作为标准计算的原子质量的加权平均值。
质谱分析法术语不确定度
不确定度（uncertainty）是表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相关的参数。
质谱分析法术语同位素
同位素（isotope）质子数Z相同，即原子序数相同，中子数N不同，在元素周期表中占有同一位置的核素称作同位素，同位素的化学性质相似，物理性质不同。
质谱分析法术语精密度
精密度（precision）或称精度。定义为在规定条件下所获得的独立测量结果之间的一致程度。在理解精密度的定义时，应该充分注意以下要点:精密度只取决于随机误差的分布，而与真值或规定值无关；精密度的度量通常用不精密度术语表示，并计成测量结果的标准偏差（standard deviation， SD）
质谱分析法术语电离效率曲线
电离效率曲线（ionization efficiency curve）特定离子的离子流强度随提供的能量大小变化的曲线。
质谱分析法术语非弹性碰撞
非弹性碰撞（inelastic collision）在离子与原子或离子与分子发生碰撞时，离子不仅仅改变了运动方向，而且离子与这些粒子还发生能量交换，这类碰撞就称为非弹性碰撞。
质谱分析法术语系统误差
系统误差（systematic error）对同一测量物的测量过程中保持不变或以可以预见的方式变化的误差分量。它是独立于测量次数的，不能在相同的测量条件下通过增加测量次数的方法使之减小。但是，可以根据对产生误差的原因分析，用已知的相关因子进行校正来消除系统误差。
质谱分析法术语精确质量测定
精确质量测定（ exact mass measurement）以12C的质量12.00000000标准，采用高分辨质谱仪准确地测定元素（或核素）质量的方法，称精确质量测定。
质谱分析法术语原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是该元素所含各稳定性同位素以碳-12的原子质量作为标准计算的原子质量的加权平均值。
质谱分析法术语随机误差
随机误差（random error）在测试过程中因随机因素作用产生的具有抵偿性的误差称为随机误差。随机误差遵循统计规律，随着测量次数增加逐渐降低；理论上当测量次数足够多时，随机误差的平均值趋向于零。
质谱分析法术语火花源质谱法
火花源质谱法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源质谱仪对被测成分（元素、同位素）进行定性、半定量和定量分析的质谱方法。该法电离效率高，几乎能使所有被测成分电离，且对所有元素有大致相同的电离效率，实现多元素同时检测，曾经是高纯材料、痕量杂质测量的有效方法
质谱分析法术语表面电离质谱法
表面电离质谱法（surface ionization mass spectrometry）热电离质谱法的一种，将预测量样品涂覆在高熔点、高功函数的金属带表面或金属丝表面，借助通过带或丝的电流产生的高温而电离，电离生成的离子进入质量分析器进行分离和测量。
质谱分析法术语标准偏差
标准偏差（standard deviation，SD）表征测定值离散性的一个特征参数。从总体抽取容量为n的样本进行重复测定，由所测得的n次测定值计算得出，以S表示。其特点:①全部测定值都参与标准偏差的计算，充分利用了得到的所有信息②对一组测定值中离散性大的测定值反应灵敏，当一组测量中出现离散性大的测
质谱分析法术语静态真空质谱法
静态真空质谱法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）当进行样品分析时，质谱仪的分析系统处于静态真空，即在离子源、分析器和接收器恒定真空状态下测量，称之为静态真空质谱法。静态真空质谱法主要应用于惰性气体同位素分析，故也称为惰性气体质谱法（inert gas mas
质谱分析法术语质量数
质量数（mass number）这里指特定原子的整数质量数，该原子原子核的质子和中子之和计算，无量纲。
质谱分析法术语基体校正
基体校正（matrix correction）克服基体效应的一组操作称作基体校正。
质谱分析法术语场致电离
场致电离（field ionization，FI）将金属丝或金属针加上高电压，形成107～108V/cm的高场强，气态的样品分子在强电场作用下失去电子生成分子离子，分子离子的能量为12～13eV，适用于可以气化的有机化合物的离子化，是一种温和的“软”电离方式。