X射线显微镜的简介

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的。宏观成像与微观成像有相通之处,如衬度原理、设备的主要组成部件等,但也有区别。......阅读全文

X-射线显微镜的基本构造

聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片,成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常,一种材料是高原子序数的重金属(H),另一种是低原子序数的非金属(L)。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL

X射线荧光分析的技术简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。  X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和γ射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的X射线的

X射线分析法的简介

中文名称X射线分析法英文名称X-ray analysis定  义测量试样在各种条件下所发射的特征X射线,或者是测定试样的X射线衍射图形,包括X射线衍射分析法、发射X射线谱法和吸收X射线谱法三类。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学

关于X射线荧光分析的简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

X射线分析器的简介

中文名称X射线分析器英文名称X-ray analyzer定  义对X射线波长进行分析的仪器。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

x射线衍射仪的原理简介

  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德

X射线检查的简介以及来源

  X射线检查  X-ray examination  X 射线摄影需要用特制的感光胶片,由于X射线穿过人体时,人体内密度高的部位吸收X射线多,在胶片上乳剂感光少,冲洗后呈白色。反之,密度低部位呈灰或黑色,从而形成人体影像。胶片可以长期保存 。射线剂量少,但价格比透视贵。体层摄影为临床上常用的一种特

X射线过滤器的简介

中文名称X射线过滤器英文名称X-ray filter定  义由吸收材料制成,用于减弱或改变X射线辐射光谱成分的装置。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

X射线测角仪的简介

中文名称X射线测角仪英文名称X-ray goniometer定  义在X射线分析法中,用于测量入射X射线束与衍射X射线束之间夹角的仪器。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

X射线光谱仪的简介

中文名称X射线光谱仪英文名称X-ray spectrometer定  义X射线波谱仪和X射线能谱仪的总称。用于获得试样X射线光谱,并测量谱线的位置和强度。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

发射X射线谱法的简介

中文名称发射X射线谱法英文名称emission X-ray spectrum定  义利用X射线或电子束激发试样产生的X射线,对试样所包含的某种元素进行定量定性分析的方法。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学科)

x射线衍射仪的相关简介

  特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。  X射线衍射仪的英文名称是

关于小角X射线散射的简介

  小角X射线散射是一种区别于X射线大角(2θ从5 ~165 )衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角(2θ从5 ~165 )衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品,相应的散射角2θ小(5 ~7 ),即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体

单晶X射线衍射的原理简介

  利用晶体形成的 X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些  方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的 衍射现象。衍射X射线满足布拉格(W.L.Brag

吸收X射线谱法的简介

中文名称吸收X射线谱法英文名称absorption X-ray spectrum定  义利用试样对X射线的特征吸收进行试样元素定性定量分析的方法。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学科)

X射线荧光分析方法的简介

  X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时,除发生散射现象和吸收现象外,还能产生次级X射线,即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此,根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分;再根据该荧光X射线的强度,还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展,6

X射线衍射分析的原理简介

  X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定 波长的X 射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X 射线满足 布拉格(

X射线异物检出机简介

  X射线异物检出机广泛应用于机场、地铁、博物馆、大使馆、海关车站、港口码头、旅游景点、体育文化场所、会议中心、博览中心、大型活动、科研机构、邮政证券、物流快递、边防军队、金融电力、酒店学校、公检法、工厂企业、及其他公共场所的重要部门。

X射线能谱仪简介

能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器,常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。

小角X射线散射仪简介

  小角X射线散射仪是一种用于物理学、化学领域的分析仪器,于2013年1月12日启用。  技术指标  最大功率:40kV、50mA;小角测量范围(q):0.07°~5°;大角测量范围(q):0.07°~40°。  主要功能  1)分散体系中粒子的形貌、尺寸、孔结构以及尺寸分布等;  2)高分子聚合物

X射线检查简介以及来源

  X射线检查  X-ray examination  X 射线摄影需要用特制的感光胶片,由于X射线穿过人体时,人体内密度高的部位吸收X射线多,在胶片上乳剂感光少,冲洗后呈白色。反之,密度低部位呈灰或黑色,从而形成人体影像。胶片可以长期保存 。射线剂量少,但价格比透视贵。体层摄影为临床上常用的一种特

X射线荧光分析技术简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

X射线显微镜的光源的介绍

  三类X 射线光源:实验室X 射线光源(X 射线管)、直线加速器和同步辐射装置。同步辐射是既近平行又高强度,且波长可调而成为最理想的光源。未见有将直线加速器用于X 射线显微镜,实验室光源有使用的,但不能用焦点在10 mm×1 mm 左右的封闭X 射线管,可以用高功率的旋转阳极X 射线管。另外,可用

X射线荧光分析显微镜的用途

  可以快速、无损地对样品(固体、粉末、液体、多层镀膜等)的元素组成进行定性、定量分析,还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图(扫描区域最大可达10 cm×10 cm)。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考

磁X射线显微镜的相关介绍

  同步辐射中所含的辐射均是偏振光,可以是线偏振光,也可以是椭圆或圆偏振光,X 射线也不例外。如果待测物质具有磁性,则具有不成对电子,具有电子自旋磁矩和轨道磁矩。磁矩与不同方向的偏振光的作用是不同的,如用不同方向的圆( 线) 偏振光照射磁性材料,可以得到不同的吸收谱,该性质称圆( 线) 二色性。  

X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

X射线显微镜的全息显微术

  已经知道,像是依靠吸收衬度( 光的振幅)或位相衬度一种信息来显现的。而所谓全息,是指同时含有振幅与位相两种信息。这是Gabor在1948 年提出的。由于记录介质实际可记录的信息只能是光强,也即振幅,故需将位相信息转换成强度来记录。把光照射到试样上,试样以球面波形式将其散射,如有另一束已知振幅与位

扫描X射线光谱仪的简介

中文名称扫描X射线光谱仪英文名称sequential X-ray spectrometer定  义能对其中不同波长的X射线光谱进行连续研究的X射光谱仪。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

X射线晶体光谱仪的简介

中文名称X射线晶体光谱仪英文名称X-ray crystal spectrometer定  义利用晶体作分光器的X射线光谱仪。晶体具有适当的点阵间隔,对一定波长的X射线产生衍射作用,可起到类似于光学式分析仪器中衍射光栅的作用。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱

X射线光束截捕器-的简介

中文名称X射线光束截捕器英文名称X-ray beam stop定  义X射线光谱分析器中吸收未被利用的入射X射线的装置。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)