关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。......阅读全文
XRF的选型误区（二）
重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器，一定是建立在分析技术研究基础之上的，否则
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRD与XRF的区别
XRD与XRF的区别： 1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。 2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。 3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
XRF分析的基本介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
XRF的选型误区（四）
听别人多，看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察，一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况，作一些相互比较；另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如：以全厂质量控制为主要目的，样品种类多，需要做全分析，准确度要
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的发展过程
1895 年，德国物理学家伦琴 ( Roentgen WC) 发现了 X射线。1896 年，法国物理学家乔治( Georgs S) 发现了 X射线荧光。1948 年，弗利德曼( Friedman H． ) 和伯克斯( Birks L S)首先研制了第一台商品性的波长色散 X射线荧光( WDXRF)
关于光谱定性分析方法有几种，你知道吗？
光谱仪器的定性分析是指：由于各种元素的原子结构不同，在光源的作用下都可以产生自己特征的光谱。如果一个样品经过激发摄谱在感光板上有几种元素的谱线出现，就证明该样品中有这几种元素。这样的分析方法就叫做光谱定性分析方法。 光谱仪器用于定性分析方法有以下几种： 1.比较光谱分析法：这种方
关于XRF岩芯扫描仪的技术指标介绍
XRF岩芯扫描分析系统支持大多数沉积物元素组成及含量测试，其采用SSD硅漂移检测器，有效检测区域为20mm2，并配有铬、钼、铑3个不同类型的X射线光管，适用于不同类型样品测试，样品纵向测试最大分辨率为0.1mm；数字X射线成像分析系统主要用于测量岩芯沉积物密度的面分布情况，其采用1000像素的线
定性分析的干扰因素介绍
试验因共存物质而受到阻碍的现象。干扰物质与被检物质有相同的反应时，引起的干扰称“正干扰”，例如以铬酸盐沉淀Ba2+时，Pb2+也可以PbCrO4形式沉淀，两者的颜色也近似。如果干扰物质抢先与试剂起反应，会使被检物与试剂之间的反应受阻碍，则引起“负干扰”。例如在F-存在下Fe3+与SCN -反应，由于
定性分析的分析方法介绍
分干法分析和湿法分析，前者所用的试样不须制成溶液，如熔珠分析、焰色分析、原子发射光谱法、X射线荧光光谱分析法等。湿法分析则要将试样配成溶液，常用的溶剂有水、酸、碱溶液。不溶于上述溶剂的试样可用碳酸钠、过氧化钠、硫酸钾等助熔剂使试样熔融分解，然后再溶于水或稀酸。干法分析只用少量试剂和仪器，便于在野
定性分析的鉴定方法介绍
在湿法分析中，一个理想的试验应该具有较好的分辨力、较高的选择性和灵敏度。分辨力指反应时出现的现象和生成的产物是否容易辨认。只有少数几种物质能起同样响应的试验称为选择性高的试验，所用的试剂被称为选择性高的试剂。如果只有一种物质能与某种试剂起作用,则该试剂称为特效试剂，该鉴定反应称为特效反应。但只有
定性分析消除干扰的方法
消除干扰的方法有：①用各种分离方法将干扰物质除去；②用隐蔽法(见隐蔽和解蔽)将干扰物质隐蔽起来，例如 F-的干扰常用加硼酸根使其变为很稳定的BF嬄而起隐蔽作用；在用H2S检验Cd2+时,如果有Cu2+存在,在CdS沉淀时，也会产生CuS，如果加入KCN产生稳定的【Cu(CN)3】2-，使Cu2+隐蔽
定性分析的分析原理简介
定性分析必须通过一系列的试验去完成，如果试验结果与预期相符，称为得到一个“正试验”，或称试验阳性，也就是说某组分在试样中是存在的；反之，得到一个“负试验”或试验阴性表示某组分不存在。 组分存在与否的根据是： ①物质的物理特性,如颜色、臭味、比重、硬度、焰色、熔点、沸点、溶解度、光谱、折射率、
定性分析的方法有哪些
定性分析法主要根据除企业财务报表以外有关企业所处环境、企业自身内在素质等方面情况对企业信用状况进行总体把握。 亦称“非数量分析法”。主要依靠预测人员的丰富实践经验以及主观的判断和分析能力，推断出事物的性质和发展趋势的分析方法，属于预测分析的一种基本方法。这类方法主要适用于一些没有或不具备完整的
定性分析法的应用
定性分析在与化学有关的科学领域，如矿物学、地质学、海洋学、生物学、医药学、农业科学、天文学、考古学、环境科学、材料科学、生命科学等都起着重要地作用。如农业方面，农药、化肥、残留物的成分分析等。
光谱的定性分析有哪些？
光谱定性分析就是根据光谱图中是否有某元素的特征谱线(一般是最后线)出现来判断样品中是否含有某种元素。定性分析方法常有以下两种。(1)标准试样光谱比较法将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某一元素的
色谱法的定性分析
在给定的条件下，表示组分在色谱柱内移动速度的调整保留时间是判断组分是什么物质的指标，即某组分在给定条件下的t恼值必定是某一数值。为了尽量免除载气流速、柱长、固定液用量等操作条件的改变对使用t恼值作定性分析指标时产生的不方便，可进一步用组分相对保留值α或组分的保留指数来进行定性分析。计算组分 i在给定
定性分析的分类及介绍
分干法分析和湿法分析，前者所用的试样不须制成溶液，如熔珠分析、焰色分析、原子发射光谱法、X射线荧光光谱分析法等。湿法分析则要将试样配成溶液，常用的溶剂有水、酸、碱溶液。不溶于上述溶剂的试样可用碳酸钠、过氧化钠、硫酸钾等助熔剂使试样熔融分解，然后再溶于水或稀酸。干法分析只用少量试剂和仪器，便于在野外做
元素定性分析的基本介绍
分析化学的一个分支。任务是鉴定物质由哪些元素、原子团或化合物所组成。根据分析条件的不同,可分为干法分析和湿法分析。根据取样多少的不同,可分为常量分析、半微量分析、微量分析和超微量分析等。对于来源不清楚的样品,应先进行定性分析,然后作定量分析。许多定性分析的反应,加以控制或改进,可作为定量分析的基
色散型与能量型x射线光谱仪各有什么优缺点
一、X一射线荧光分析仪(XRF)简介X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是
X射线机的优缺点
一、x一射线荧光分析仪(xrf)简介x一射线荧光分析仪(xrf)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在x射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级x射线(即x一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述x射线所采用的两个物理i.波长色徽型x射线荧光光诺仪(wd-xrf)是
WD－XRF与ED－XRF有什么区别
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的定性分析原理及步骤
一、定性分析的基础——Moseley定律X射线荧光的波长随着原子序数的增加有规律地向波长变短方向移动。Moseley(莫塞莱)根据谱线移动规律,建立了X射线波长与元素原子序数的定律。数学表达式为:(1/λ)1/2=K(Z-S)其中,K , S为常数,随不同谱线系列(K , L)而定;Z是原子序数。由
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
XRF问题汇总（八）
71.铁基中PB的LA线除了因为AS的干扰，还有什么因素干扰？ Pb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 72.x荧光光谱报24v故障是怎么回事？ (1) 应该是提供24V的电路板有故障， 测一下24V输出，， 有问题赶快换电路板。 (2) X射线荧光谱仪的各
XRF问题汇总（一）
1. 用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？ (1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。 我的建议是： A 压样之后在破碎之前进行分析。（不得已而为之） B 增加压样的时间，减小压样的压力
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X