波长色散台式X射线荧光光谱仪的技术指标
分析元素范围：从氟到铀（F→U）。分析：固体、液体、粉末、合金以及薄膜。大气：空气、氦气或真空。X射线管：50kV，200W Pd阳极。一次光束滤光片：Zr。探测器：SC。 晶体：三位转换器。 自动进样器：12位标准。真空：旋转泵标准。 电源：100–120V(50/60Hz)15A或200–240V(50/60Hz)10A。......阅读全文
波长色散X射线荧光光谱仪的原理和应用领域分析
X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关生产企业提供了一种检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪（W
实验应用波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析
X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。 俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗
能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
《波长色散－X－射线荧光光谱仪》等校准规范（征求意见稿）
各有关单位、各位专家、各位委员： 现将市场监管总局《2020年国家计量技术规范制定、修订及宣贯计划》中的两份计量技术规范：《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》和《环境空气挥发性有机物采样器校准规范》（征求意见稿）发给你们，请你们在百忙之中抽出时间对征求意见稿提出宝贵意见和建议。征求意见截止时间
波长色散X射线荧光光谱仪精度测定标准制订完成
近日，国家标准《铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定》完成草案编制并公开征求意见，截止时间为2021年10月12日。该标准由广州海关技术中心、钢研纳克检测技术股份有限公司、宁波海关技术中心等单位起草，使用翻译法等同采用ISO/TR 18231:2016(E)《铁矿石 波长色散X射线荧光光
能量色散X射线荧光光谱仪
在20世纪80年代初，EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪，它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成，通常一次仅能测定1～2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F，甚至可检出C; 可携式XRF
能量色散X射线荧光光谱仪
(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪，系指可以随身携带的谱仪，用于现场分析; ②手持式谱仪， 要求整机质量小于1.5 kg，可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期，由英、
波长色散荧光光谱仪是X射线荧光分析仪的一种吗
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。能
能量色散和波长色散X荧光光谱仪比较和说明
1、测量精度：波长色散类X荧光光谱仪有其固有的高分辨率和高精度，能提供极高的稳定性和优良的分析精度，但对样品的形状和制备方法有所要求；能量色散X荧光光谱仪如果经过精心的设计和方法优化，也可提供行业接受的测量结果，它的一个优点是可以在不对样品进行处理的情况下给出可供参考的数据。目前波长色散类仪器也已经
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
能量色散X射线荧光光谱仪的开发
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
能量色散X射线荧光光谱仪的开发
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。 能量色散X射线荧光光谱仪技术原理能量色散X射线荧
能量色散型与波长色散型X－射线荧光分析仪的特点与差异
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显
波长色散荧光光谱仪简介
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，特别是进口的都在百万元以上，所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样，不需要专业人员。 波长型最大优点是用在原材料厂上，其测定的数据准确，给
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理
能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比，它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可
单波长色散型X荧光光谱仪原理及优缺点
单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。 单波长色散型X荧光光谱仪原理： 用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射线)的X射线单色化并聚焦于样品测试表面，激发样品中元素的荧光X射线。由
海关总署发布近4500万采购需求，涉XRF、定氮仪等
分析测试百科网讯 近日，海关总署发布波长色散X射线荧光光谱仪、能量色散X射线荧光光谱仪、蛋白质测定仪等采购项目公开招标公告，此次招标预算金额共计4496万元（人民币）。招标详情如下： 项目名称：海关总署2019年波长色散X射线荧光光谱仪采购项目 项目编号：HG19GK-A0000-D084
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
主要技术指标： 分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） 检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状 最大460×380mm(高150mm) 样品 塑料/金属
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状 最大460×380mm(高150mm)样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛 大气X射
单波长X射线荧光光谱仪原理与应用
一、 概述 单波长X射线荧光光谱仪（Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF），也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪，其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长（对应单一能量）衍射取出并照射样品，由于消除
波长干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
①X射线管 由X射线管发射出来的干扰线，首先，可能来自靶材本身，包括靶元素及有关杂质（例如钨靶中的铜）的发射线，其次，在x射线管的长期使用中，可能由于灯丝及其它有关构件（包括银焊料）的升华喷溅或其它原因，造成靶面或管窗的玷污，也是产生干扰线的一种来源。再次，由于x射线管构件受激发或阴极电子束
能量色散型X射线荧光光谱仪的应用简介
分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。
波长色散荧光光谱仪的相关介绍
波长法是因其激发出的荧光足够强，进到仪器中用来分析的光谱是单一元素（“过滤”了不需测的元素），不含其它元素的光谱，所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测