荧光光谱仪的主要用途介绍
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.......阅读全文
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1
荧光光谱仪和稳态荧光光谱仪有什么区别
所用光源一般为氙灯，其激发为连续波，对于荧光物质来说其测得发射和激发可称作稳态荧光光谱，如光源为脉冲激光的荧光光谱仪可称作瞬态荧光光谱，在这里荧光光谱仪可能范围更广一些
荧光光谱仪的偏振荧光分析和时间分辨荧光分析
1、偏振荧光分析。荧光体的荧光偏振与荧光各向异性值的测定，能够提供与荧光体在激发态寿命期间动力学相关的信息，因此荧光偏振技术被广泛应用于研究分子间的作用，例如蛋白质与核酸、抗原与抗体、蛋白质与多肽的结合作用等。 2、时间分辨荧光分析。由于不同分子的荧光寿命不同，可在激发与检测之间延缓一段时间，
实验室光谱仪器无色散原子荧光光谱仪介绍
原子荧光光谱法在原则上与原子吸收光谱法和原子发射光谱法相同，可进行几十种元素的定量分析，且与原子发射光谱仪器一样，可以进行多元素同时测量，如上述的 Baird 公司的 AFS-2000 型原子荧光。但是迄今为止，原子荧光光谱法只成功地应用于测量那些易形成氢化物或冷蒸气的元素，如 As、Sb、Bi、H
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
波长色散X射线荧光光谱仪相关介绍
X射线荧光光谱仪根据分光方式不同，可分为波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪两大类；根据激发方式又可细分为偏振光、同位素源、同步辐射和粒子激发X射线荧光光谱仪；根据X射线的出射、入角还可有全反射、掠出入射X射线荧光光谱仪等。波长色散XRF光谱仪利用分光晶体的衍射来分离样品中的多色辐射，能量色散光谱仪则
X射线荧光光谱仪准直器介绍
准直器是由许多间距精密的平滑的薄金属片叠积而成，它分为初级准直器和次级准直器。初级准直器安装在样品和晶体之间，次级准直器安装在探测器的前面，初级准直器使样品发射出的X射线荧光通过准直器变成平行光束照射到晶体上，经晶体分光后再通过次级准直器准直后进入探测器，初级准直器对光谱仪分辨率起着重要作用。
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
天瑞为你介绍荧光光谱仪性能
荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 我公司生产的EDX6000BX
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪原理
X射线光谱仪(rohs检测仪)通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。 波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶
荧光光谱仪原理
目前荧光分析法已经发展成为一种重要且有效的光谱化学分析手段。在我国，50年代初期仅有极少数的分析化学工作者从事荧光分析方面的研究工作，但到了70年代后期，荧光分析法已引起国内分析界的广泛重视，在全国众多的分析化学工作者中，已逐步形成一支从事这一领域工作的队伍。 一、荧光分析特点 （1）荧光分
荧光光谱仪简介
结构 由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成。 分类 荧光光谱仪可分为 X射线荧光光谱仪和分子荧光光谱仪。 主要用途 1.荧光激发光谱和荧光发射光谱 2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱 3.3D（Ex Em Intensity) 4.Time Base和CWA
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪结构
荧光光谱仪(荧光分光光度计)是测量荧光的仪器，主要由光源、激发单色器、样品池、发射单色器和检测器等组成。(1)光源由于荧光样品的荧光强度与激发光的强度成正比，因此，作为一种理想的激发光源应具备：足够的强度、在所需光谱范围内有连续的光谱、强度与波长无关(即光源的输出是连续平滑等强度的辐射)、稳定的光强
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪分类
按荧光原理可分：原子荧光光谱仪、分子荧光光谱仪和X射线荧光光谱仪等。 原子荧光光谱仪是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下所产生的荧光发射强度,来测定待测元素含量的仪器。原子荧光激发光源一般为高强度空心阴极灯或无极放电灯一般原子荧光光度计用来对各类样品中痕量的铅、汞、砷、锗、锡、硒、碲、铋
荧光光谱仪原理
荧光光谱仪由激发光源、单色器、狭缝、样品室、信号检测放大系统和信号读出、记录系统组成。激发光源提供用于激发样品的入射光的来源。单色器用来分离出所需要的单色光。信号检测放大系统用来把荧光信号转化为电信号，结合放大系统上的读出装置可显示或记录荧光信号。一.激发光源因为物质的荧光强度与激发光的强度成正比，
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量，如光、化学、物理能后，其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去，形成分子激发态。分子激发态不稳定，将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。二、
X荧光硅铝分析仪的主要用途
X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品，检测所生产的二次特征X射线，即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料、石灰石、粘土等物料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O
X荧光硫元素分析仪的主要用途
主要用途1.测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油、等油品中的总硫质量百分比含量;2.测量煤化工产品,例如初级苯中总硫含量;3.测量固体细粉末样品中总硫或硫化物含量,如阳碳块、石油焦、改质沥青等碳素类材料；4.测量润滑油、石油添加剂中总硫或硫化物含量的测量；5.测量其它液体中总硫或硫化物含量
荧光偏振免疫测定的原理及主要用途
利用荧光物质在溶液中被单一平面的偏振光照射后，可吸收光能而产生另一单一平面的偏振发射荧光，该荧光强度与荧光标记物质在溶液中旋转的速度与分子大小成反比，主要用于测定小分子药物浓度。
TXRF全反射X射线荧光光谱仪的相关介绍
TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体
关于原子荧光光谱仪的基本信息介绍
原子荧光光谱仪利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后，原子激发到高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中所发射的光称为原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。 原子荧光可分为 3类：即共振荧光、
X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。 实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？微源实
X射线荧光光谱仪的主要组成部分介绍
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作，所以配有