比较显微镜的功能介绍
中文名称比较显微镜英文名称comparison microscope定 义将两个标本成像在同一视场中进行比较观察的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）......阅读全文
比较显微镜的使用方法
比较显微镜是通过光学放大及多种成像方式，把物体的像呈现在同一组目镜视场中，再运用视场切割、对接、重叠使操作者能多方位地对两个或两个以上的物体进行宏观或微观比较。 比较显微镜使用方法 1、把比较显微镜调在高度适合的高度，取出双目头两个防尘盖，将需要的一组目镜插入双目头目镜筒内。 2
图像分析显微镜的功能介绍
中文名称图像分析显微镜英文名称quantitative image analysis microscope定 义利用扫描原理和光度测量法进行图像分析的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
高温金相显微镜的功能介绍
中文名称高温金相显微镜英文名称high temperature metallurgical microscope定 义呈现和记录金相样品的显微组织在高温下变化情况的金相显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
高温金相显微镜的功能介绍
中文名称高温金相显微镜英文名称high temperature metallurgical microscope定 义呈现和记录金相样品的显微组织在高温下变化情况的金相显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
红外显微镜的功能介绍
中文名称红外显微镜英文名称infrared microscope定 义为红外显微术专门设计或附加配备装置的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
单目显微镜的功能介绍
中文名称单目显微镜英文名称monocular microscope定 义只供单眼观察物像的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
金相显微镜系统的功能介绍
金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机（数码相机）通过光电转换有机的结合在一起，不仅可以在目镜上作显微观察，还能在计算机（数码相机）显示屏幕上观察实时动态图像，电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
倒置显微镜的功能介绍
倒置显微镜inverted microscope组成和普通显微镜一样，只不过物镜与照明系统颠倒，前者在载物台之下，后者在载物台之上，用于观察培养的活细胞，具有相差物镜。
示教显微镜的功能介绍
中文名称示教显微镜英文名称multi-teaching head microscope定 义为教育示范专门设计或附加配备装置的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
光电显微镜的功能介绍
中文名称光电显微镜英文名称photoelectric microscope定 义应用光电装置进行精确瞄准、定位或测量的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
紫外显微镜的功能介绍
紫外显微镜，是一种利用紫外线作光源观察细小物体的显微镜，其分辨率比普通光学显微镜高一倍。
荧光显微镜的功能介绍
荧光显微镜(Fluorescence microscope) ： 荧光显微镜是以紫外线为光源， 用以照射被检物体， 使之发出荧光， 然后在显微镜下观察物体的形状及其所在位置。
相差显微镜的功能介绍
相差显微镜是荷兰科学家Zernike于1935年发明的，用于观察未染色标本的显微镜。
倒置显微镜的功能介绍
倒置显微镜inverted microscope组成和普通显微镜一样，只不过物镜与照明系统颠倒，前者在载物台之下，后者在载物台之上，用于观察培养的活细胞，具有相差物镜。
示教显微镜的功能介绍
中文名称示教显微镜英文名称multi-teaching head microscope定 义为教育示范专门设计或附加配备装置的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
光电显微镜的功能介绍
中文名称光电显微镜英文名称photoelectric microscope定 义应用光电装置进行精确瞄准、定位或测量的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
显微镜照相室的功能介绍
中文名称照相室英文名称camera chamber定 义电子显微镜的记录部分，用于拍摄样品电子放大像的图片。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学部件（三级学科）
光学显微镜的功能原理介绍
光学显微镜（简写OM）是利用光学原理，把人眼所不能分辨的微小物体放大成像，以供人们提取微细结构信息的光学仪器。
倒置显微镜的功能介绍
倒置显微镜inverted microscope组成和普通显微镜一样，只不过物镜与照明系统颠倒，前者在载物台之下，后者在载物台之上，用于观察培养的活细胞，具有相差物镜。
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
原子力显微镜的功能介绍
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它
扫描探针显微镜的功能介绍
扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等）的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技
光切显微镜的功能介绍
光切显微镜是采用光切法原理测量被测工件表面的微观平面幅度的显微镜。所谓光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微观平面度的轮廓显现出来，从而对其进行测量。测量对象除金属表面外，还可对纸张、木材、塑料等非金属材料表面进行测量。
光切显微镜的功能介绍
光切显微镜是采用光切法原理测量被测工件表面的微观平面幅度的显微镜。所谓光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微观平面度的轮廓显现出来，从而对其进行测量。测量对象除金属表面外，还可对纸张、木材、塑料等非金属材料表面进行测量。
共聚焦显微镜与普通光学显微镜的比较
显微镜是观察细胞的主要工具。根据光源不同，可分为光学显微镜和电子显微镜两大类。前者以可见光（紫外线显微镜以紫外光）为光源，后者则以电子束为光源。普通光学显微镜与激光共聚焦显微镜同属于光学显微镜。 一、普通光学显微镜 普通生物显微镜由3部分构成，即：①照明系统，包括光源和聚光器；②光学放大系统，
原子力显微镜的工作模式比较
原子力显微镜的应用范围十分广泛，其适用于生物、高分子、陶瓷、金属材料、矿物、皮革等固体材料等的显微结构和纳米结构的观测，以及粉末、微球颗粒形状、尺寸及粒径分布的观测等。原子力显微镜的三种工作模式 目前原子力显微镜有三种工作模式，接触模式、轻敲模式和非接触模式。 1、接触模式 原子
微分干涉显微镜的功能介绍
用于观察活细胞显微结构的细节，利用两束光线通过光学系统中相位的变化发生相互干涉，从而增强样品反差，实现对非染色活细胞观察。微分干涉显微镜适于研究活细胞中较大的细胞器。将微分干涉显微镜接上录像装置，可以观察记录活细胞中的颗粒及细胞器的运动。