万能显微镜的功能介绍
中文名称万能显微镜英文名称universal microscope定 义配备多种附加装置，具有多种用途的高级显微镜，常用于几何参数的精密测量。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）......阅读全文
显微镜物镜的功能介绍
物镜是显微镜最重要的光学部件，利用光线使被检物体第一次成象，因而直接关系和影响成象的质量和各项光学技术参数，是衡量一台显微镜质量的首要标准。物镜的结构复杂，制作精密，通常都由透镜组组合而成，各镜片间彼此相隔一定的距离，以减少像差。每组透镜都由不同材料、不同参数的一或数块透镜胶合而成。物镜有许多具体的
工具显微镜的功能介绍
工具显微镜又称工具制造用显镜，是一种工具制造时所用高精度的二次元坐标测量仪。它是利用光学原理将工件成像经物镜投射至目镜，即借着光线将工件放大成虚像，再利用装物台与目镜网线 (eyepiece reticle) 等辅助， 以作为尺寸、角度和形状等测量工作，可作为检验非金属光泽的工件表面。
金相显微镜的功能介绍
电脑型金相显微镜或是数码金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等以及对图片进行输出、打印。
读数显微镜的功能介绍
读数显微镜(reading microscope) 读数显微镜是光学精密机械仪器中的一种读数装置，适用于有关计量单位，工厂的计量室或精密刻度车间对分划尺或度盘的刻线进行对准检查和测定工作。
万能转台的组成及功能
中文名称万能转台英文名称universal stage定 义支承物体的机构，它可使物体绕三轴旋转并可测量转角。主要用在偏光显微镜中。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）
万能工具显微镜的特点简介
采用进口精密光栅系统作为测量元件，具有发热量低、抗腐蚀、耐污染、耐震性好等众多优点； 带有功能强大的图像处理软件，可以完成复杂的测量工作，软件数据能与CAD通讯，完成测绘工作； 采用半导体激光器作为指向器，用于快速确定测量部位，提高了定位图像的效率； 软件采用数码图像技术，自动识别轮廓边界
万能工具显微镜的工作原理
万能工具显微镜具有直角坐标测量系统、光学系统和被瞄准装置、角度测量装置。坐标测量系统由纵向、横向标准量和可移动的工作台构成。被测工件的轮廓经光学系统投影放大成像后，由瞄准装置瞄准被测轮廓的某一几何要素，从标准量细分装置上读出纵横两个方向的坐标值，然后移动工作台及安装在其上的被测工件，瞄准被测轮廓的另
万能工具显微镜的测量流程
1．安装工件，打开电源1)非回转体类工件非回转体类工件一般装夹在位于船形工作台中部的方工作台上，安装前应先拧松前面的两个调节旋钮，调节工作台在船形工作台上的位置。尺寸较小的工件可以用橡皮泥固定。尺寸较大的工件可用压板固定，其中压板可装在压板座的T形槽内，而压板座可以前后移动，以适应不同大小的工件。2
万能工具显微镜的维护保养
(1)注意防止灰尘、潮湿及其他有害物质的侵蚀，不能置于暖气设备或水源附近，存放环境最好有恒温装置，维持室温20℃左右，相对湿度不超过60%，否则光学零件容易滋生霉菌。(2)仪器光源采用的是低压电源照明，必须使用专用变压器，以防止事故发生。(3)随机配备的所有透镜和未做防锈处理的表面不得用手直接接触，
万能工具显微镜的原理简介
以影像法和轴切法按直角坐标与极坐标精确地测量各种零件。 该类仪器分为万能工具显微镜,数据处理,图像处理等几类,他的国标参数相差不大,主要是他们的实现的方式不一样. 国家标准代码:JX J 代表计量检测 X代表显微镜 数字代表企业所生产的代码.如:JX13B,JX11B,JX13C等，B，C代
万能工具显微镜的测量步骤
1．安装工件，打开电源1)非回转体类工件非回转体类工件一般装夹在位于船形工作台中部的方工作台上，安装前应先拧松前面的两个调节旋钮，调节工作台在船形工作台上的位置。尺寸较小的工件可以用橡皮泥固定。尺寸较大的工件可用压板固定，其中压板可装在压板座的T形槽内，而压板座可以前后移动，以适应不同大小的工件。2
万能工具显微镜的用途简介
能精确测量各种工件尺寸、角度、形状和位置，以及螺纹制件的各种参数。适用于机器制造业，精密工、模具制造业、仪器仪表制造业、军事工业、航空航天及汽车制造业、电子行业、塑料与橡胶行业的计量室、检查站和高等院校、科研院所，对机械零件、量具、刀具、夹具、模具、电子元器件、电路板、冲压板、塑料及橡胶制品进行
万能工具显微镜的规格参数
规格参数： 工作台 测量行程（mm） X坐标：200 Y坐标：100 X、Y坐标测量分辨率：0.0002mm X、Y坐标准确度：(1+L/100)μm， 式中L为被测长度，单位为mm 方工作台尺寸（mm）：260×270 方工作台承放工件最大高度（mm）：140 显微镜立柱 角度倾斜
万能工具显微镜的维护保养
(1)注意防止灰尘、潮湿及其他有害物质的侵蚀，不能置于暖气设备或水源附近，存放环境最好有恒温装置，维持室温20℃左右，相对湿度不超过60%，否则光学零件容易滋生霉菌。(2)仪器光源采用的是低压电源照明，必须使用专用变压器，以防止事故发生。(3)随机配备的所有透镜和未做防锈处理的表面不得用手直接接触，
关于万能工具显微镜的简介
万能工具显微镜是指可作二维坐标尺寸测量的光学仪器。除作长度测量外，还可作角度、轮廓和极坐标测量等。万能工具显微镜是一种在工业生产和科学研究部门中使用十分广泛的光学量测仪器。它具有较高的量测精度，适用于长度和角度的精密量测。主要的量测对象有刀具、量具、模具、样板、螺纹和齿轮类零件等。
万能工具显微镜的工作原理
万能工具显微镜具有直角坐标测量系统、光学系统和被瞄准装置、角度测量装置。坐标测量系统由纵向、横向标准量和可移动的工作台构成。被测工件的轮廓经光学系统投影放大成像后，由瞄准装置瞄准被测轮廓的某一几何要素，从标准量细分装置上读出纵横两个方向的坐标值，然后移动工作台及安装在其上的被测工件，瞄准被测轮廓的另
屏显液压万能试验机的软件功能介绍
◆ 本系列试验机采用Windows9x/2000/XP操作系统为工作平台。 ◆ 试验数据采用数据库管理方式，可打印试验数据。 ◆ 微机屏幕显示，负荷及变形自动标定，试验量程自动转换，自动存储数据和结果，数据和曲线动态显示。软件操作简单，界面友好。 ◆ 执行国标GB228-87、GB/T22
单臂式电子万能试验机的功能介绍
功能介绍 1）自动停机：试样断裂后，移动横梁自动停止； 2）自动标定：系统可自动实现示值准确度的标定； 3）过程实现：试验过程、测量、显示等均由单片机实现； 4）限位保护：具有程控和机械两级限位保护； 5）过载保护：当负荷超过各档最大值的3-5%时，自动停机。
万能工具显微镜年检校准
年检校准的基本要求校准应满足的基本要求如下： 1)环境条件校准如在检定(校准)室进行，则环境条件应满足实验室要求的温度、湿度等规定。校准如在现场进行，则环境条件以能满足仪表现场使用的条件为准。 2)仪器作为校准用的标准仪器其误差限应是被校表误差限的1/3~1/10。 3)人员校准虽不同于
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
光电显微镜的功能介绍
中文名称光电显微镜英文名称photoelectric microscope定 义应用光电装置进行精确瞄准、定位或测量的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
单目显微镜的功能介绍
中文名称单目显微镜英文名称monocular microscope定 义只供单眼观察物像的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
金相显微镜系统的功能介绍
金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机（数码相机）通过光电转换有机的结合在一起，不仅可以在目镜上作显微观察，还能在计算机（数码相机）显示屏幕上观察实时动态图像，电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
倒置显微镜的功能介绍
倒置显微镜inverted microscope组成和普通显微镜一样，只不过物镜与照明系统颠倒，前者在载物台之下，后者在载物台之上，用于观察培养的活细胞，具有相差物镜。
示教显微镜的功能介绍
中文名称示教显微镜英文名称multi-teaching head microscope定 义为教育示范专门设计或附加配备装置的显微镜。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜名称（三级学科）
干涉显微镜的功能介绍
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法，把相位差(或光程差)转换为振幅（光强度）变化的显微镜，根据干涉图形可分辨出样品中的结构，并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。由于分开光束的方法不同，有不同类型的干涉显微镜，以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固
紫外显微镜的功能介绍
紫外显微镜，是一种利用紫外线作光源观察细小物体的显微镜，其分辨率比普通光学显微镜高一倍。
荧光显微镜的功能介绍
荧光显微镜(Fluorescence microscope) ： 荧光显微镜是以紫外线为光源， 用以照射被检物体， 使之发出荧光， 然后在显微镜下观察物体的形状及其所在位置。
相差显微镜的功能介绍
相差显微镜是荷兰科学家Zernike于1935年发明的，用于观察未染色标本的显微镜。
倒置显微镜的功能介绍
倒置显微镜inverted microscope组成和普通显微镜一样，只不过物镜与照明系统颠倒，前者在载物台之下，后者在载物台之上，用于观察培养的活细胞，具有相差物镜。