原子力显微镜的技术优势
相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。原子力显微镜与扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）相比，由于能观测非导电样品，因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和工业界广泛使用的扫描力显微镜，其基础就是原子力显微镜。......阅读全文
原子力显微镜的硬件架构
在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样
原子力显微镜的成像模式
根据尖端运动的性质，原子力显微镜的操作通常被描述为三种模式之一的接触模式，也称为静态模式(与称为动态模式的其他两种模式相反)；敲击模式，也称为间歇接触、交流模式或振动模式，或在检测机制后调幅AFM；非接触模式，或者再次在检测机制之后，频率调制AFM。 应该注意的是，尽管有命名法，排斥接触在调幅
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样
原子力显微镜的薄弱处
许多技术都是有利有弊，原子力显微镜也不例外。原子力显微镜一个很大的弊端在于，由于测量是通过探针与物体表面的近乎直接接触来实现的，探针的质量会直接影响到测量的准确程度。例如有的情况下针尖会被所测量的材料所玷污，有的时候针尖会划伤所测量的表面，还有的时候针尖会折断，即便不发生这些意外情况，针尖也会逐渐磨
原子力显微镜的优缺点
相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用
原子力显微镜的样品要求
原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等，样品的载体选择范围很大，包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剥离的云母片，主要原因是其非常平整且容易处理。而抛光硅片要用浓硫酸与30%双氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用电性能测试时需
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜（AFM）的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。选择原
原子力显微镜结构的分析
在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。
原子力显微镜的成像模式
探针和样品间的力-距离关系是此仪器测量的关键点。当选择不同的初始工作距离时,探针所处的初始状态也是不同的。由此可将原子力显微镜的操作模式分为3大类型:接触模式(Contact Mode)、非接触模式(Non-contact Mode)和轻敲模式(Tapping Mode)。图2给出了AFM不同操作模
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样
关于原子力显微镜的简介
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜（AFM）的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。选择原
原子力显微镜的样品要求
原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等，样品的载体选择范围很大，包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剥离的云母片，主要原因是其非常平整且容易处理。而抛光硅片zui好要用浓硫酸与30%双氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用电性能测
原子力显微镜的原理详述
原子力显微镜的原理详述如下图所示，激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过检测光斑位置的变化
原子力显微镜的样品制备
粉末样品的制备：粉末样品的制备常用的是胶纸法，先把两面胶纸粘贴在样品座上，然后把粉末撒到胶纸上，吹去为粘贴在胶纸上的多余粉末即可。块状样品的制备：玻璃、陶瓷及晶体等固体样品需要抛光，注意固体样品表面的粗糙度。液体样品的制备：液体样品的浓度不能太高，否则粒子团聚会损伤针尖。（纳米颗粒：纳米粉末分散到溶
原子力显微镜的技术特点
优点相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可
原子力显微镜的原理简介
原子力显微镜（AFM）通过机械探针“触摸”样品表面表征其形貌并记录力学性质。它的工作原理类似人类用手指触摸物品表面，当探针靠近样品表面时，探针与样品表面间会产生一个相互作用力，此作用力会导致悬臂发生偏折。 激光二极管产生的激光束通过透镜聚焦到悬臂背面，然后再反射到光电二极管上形成反馈。 在扫
原子力显微镜（AFM）的原理
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样
原子力显微镜的功能、特点
原子力显微镜是利用原子之间的作用力通过仪器的检测系统、反馈系统等成像的仪器。具有原子级别分辨率，成像分辨率高，并且能提供三维表面图，近年来在纳米功能材料、生物、化工和医药方面得到广泛的使用。原子力显微镜的功能 原子力显微镜最基本的功能是：通过检测探针和样品作用力来表征样品表面的三维形貌
原子力显微镜的工作原理
1986年，G.Binning等人发明了原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)，AFM不仅具有很高的分辨率（横向分辨率达到1nm，纵向分辨率达到0.01nm），而且对工作环境、样品性质等方面的要求也非常低，因此，AFM的出现为人们更多的观察微观世界提供了一个有效的手段和方
原子力显微镜的操作步骤
2.1 开机a）打开计算机主机、显示器；b）打开Nanoscope控制器；c）打开Dimension Stage控制器。2.2 安装探针a）选择合适的探针和夹；b）安装探针；c）安装探针夹到仪器上。2.3 调节激光a）将激光打在悬臂前端；调整检测器位置；2.4 启动软件a）双击桌面Nanoscope
原子力显微镜的形貌图
当探针和样品之间的距离达到可以检测到原子力的范围时，悬臂在其固有本征频率(f0)被激发，悬臂的共振频率(f)会偏离其原始共振频率(固有本征频率)。换句话说，在可以检测到原子力的范围内，频移(df=f-f0)将被观察到。因此，当探针和样品之间的距离处于非接触区域时，随着探针和样品之间的距离变小，频
原子力显微镜的敲击模式
在环境条件下，大多数样品形成液体弯月层。因此，保持探针尖端足够靠近样品，以使短程力变得可检测，同时防止尖端粘附到表面，这对于环境条件下的接触模式来说是一个主要问题。动态接触模式（也称为间歇接触、交流模式或分接模式）被开发来绕过这个问题。[6] 如今，在环境条件或液体中操作时，分流模式是最常用的原
原子力显微镜的原理、结构
原子力显微镜(AFM)用一个微小的探针来“摸索”微观世界，它超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制，在立体三维上观察物质的形貌，并能获得探针与样品相互作用的信息。原子力显微镜具有分辨率高、操作容易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点。因此，原子力显微镜正在迅速应用于科学研究的
原子力显微镜的应用学科
AFM系统使用压电陶瓷管制作的扫描器精确控制微小的扫描移动。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。也就是说，可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。通常把三个分别代表X，Y，Z方向的压电
原子力显微镜及其应用
原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规
原子力显微镜测量架构
原子力显微镜测量架构AFM 的探针一般由悬臂梁及针尖所组成，主要原理是由针尖与试片间的原子作用力，使悬臂梁产生微细位移，以测得表面结构形状，其中最常用的距离控制方式为光束偏折技术。AFM 的主要结构可分为探针、偏移量侦测器、扫描仪、回馈电路及计算机控制系统五大部分。AFM 探针长度只有几微米长，探针
原子力显微镜测量架构
原子力显微镜测量架构AFM 的探针一般由悬臂梁及针尖所组成，主要原理是由针尖与试片间的原子作用力，使悬臂梁产生微细位移，以测得表面结构形状，其中最常用的距离控制方式为光束偏折技术。AFM 的主要结构可分为探针、偏移量侦测器、扫描仪、回馈电路及计算机控制系统五大部分。AFM 探针长度只有几微米长，探针
相位式原子力显微镜
相位式原子力显微镜(Phase Ima ging Force Microscope)原子力显微镜在轻敲式AFM(tapping mode)操作下，量测及回馈因表面抵挡及黏滞力的作用，会引起振动探针的相位改变量，而抵挡及黏滞力的差异为不同材料性质引起，因此有机会用相位差(Phase la g)来观察表