微区时空分辨扫描电化学探针显微镜研制成功

由中科院长春应化所完成的中科院科研装备研制项目“新型微区时空分辨扫描电化学探针显微镜系统”近日在长春通过了专家验收。专家认为,该仪器有望成为目前微尺度界面电化学研究领域我国唯一有竞争力的综合型先进科研设备。 该系统结合微尺度三维空间位置运动控制技术、电化学控测技术和光学光谱测量技术,采用了宏微尺度两级可自动切换的步进电机与压电晶体互换模式,实现了三维大空间范围、高空间精度的运动和定位控制;设计了多通道独立的精密恒电位系统,实现了微电极和微信号的控制和检测,从而可快速获取电化学信息。 此外,研究人员还将上述特点结合,优化微尺度运动控制和电化学控测的协同,提高位置控制的精度和运动的平稳度,实现微电流高精度测量,结合光学监测和光谱联用技术扩展了仪器的应用范围。 ......阅读全文

电子探针显微镜之元素分析范围广

电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(U),因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线,而氢和氦原子只有 K 层电子,不能产生特征 X 射线, 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线,但产生的特征 X 射线波长太长,通常无法进 行检测,少数电子探针

电子探针显微镜之不损坏试样探测

现在电子探针均与计算机联机,可以连续自动进行多种方法分析,并自动进行数据处理 和数据分析,对含 10 个元素以下的样品定性、定量分析,新型电子探针在 30min 左右可以 完成,如果用 EDS 进行定性、定量分析,几 min 即可完成。对表面不平的大样品进行元素 面分析时,现在可以自动聚焦分析

扫描探针显微镜的先进控制技术研究

     随着科学技术的发展,科学家和工程师们对扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的性能也提出越来越高的要求。扫描探针显微镜具有高精度成像、纳米操纵等功能,它已经广泛物理、化学、生物、医学等基础学科,以及材料、微电子等应用学科。如今SPM的工作速度已经成为S

如何选择合适的共聚焦显微镜荧光探针?

  2019-12-03作者:浏览次数:34 来源:北京欧普特科技有限公司   荧光探针的作用是标记待测物质,使之能够利用荧光测定的方法得到检测,并获得正确的实验结果。那么如何选择合适的共聚焦显微镜荧光探针呢?   根据实验目的确定需要检测的指标选择探针一旦检测指标确定,则荧光探针的选择范围也随

扫描探针显微镜原理和特点是哪些

  扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜,静电力显微镜,磁力显微镜,扫描离子电导显微镜,扫描电化学显微镜等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激

扫描探针显微镜(SPM)粗调定位装置的要求

粗调定位装置的要求:1、能把Tip从毫米距离逼近到距离样品5nm范围而不会撞针。2、粗调进针装置应有大的运动范围和小到5nm的步进精度。

扫描探针显微镜的性能及应用研究

扫描探针显微镜是一种强有力的表面分析仪器,它主要包括扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM).敲击模式的AFM更是被广泛地用来研究各种材料的表面及微观结构.但是由于敲击模式工作原理的复杂性,为了得到真实的样品结构,就必须选择合适的扫描参数.该文用敲击模式AFM研究了不同材料的微观结构,研究了

原子力显微镜(AFM)探针技术简介和展望

一.  原子力显微镜(AFM)简介二.  AFM探针分类三.AFM探针生产、销售资讯四.展望 一.  原子力显微镜(AFM)简介      原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年,STM(scan

带您更加深入的了解微区电化学显微镜

 微区电化学显微镜是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。是一种无接触,无破坏性的仪器,可以用于测量导电,涂膜,或半导体材料,与样品探针之间的功函差。这种技术是用一个振动电容探针来工作的,通过调节一个外加的前级电压测量样品表面和扫描探针的参比针

环球分析测试仪器公司参加国际介观太阳能电池座谈会

  第一届国际介观太阳能电池座谈会及格兰泽尔介观太阳能电池研究中心成立仪式(IMSC2010)于2010年7月19日至20日在华中科技大学武汉光电国家实验室举办,会议邀请到诺贝尔提名奖获得者、欧洲科学院院士、染料敏化太阳能电池发明人、瑞士洛桑联邦理工大学迈克尔•格兰泽尔教授(Prof

比较扫描探针显微镜与扫描电子显微镜的异同点

     扫描探针显微镜具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子,这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。扫描探针显微镜得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表面结构。扫描探针显微镜使用环境宽松。电子显微镜等仪器对工作环境要求比较苛

扫描探针显微镜研究聚合物表面电特性

     研究聚合物电介质在亚微米尺度微区结构中的表面电学特性,具有极其重要的理论价值及潜在的应用价值。近年来,采取可靠的实验手段在显微结构下有效地表征这些性能已成为聚合物纳米复合电介质材料研究领域的焦点问题。研究电介质材料微区结构中的表面电学特性,对于改进与提高聚合物电介质材料的性能和应用水平具有

实验室检验检测工具扫描探针显微镜

扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技

电子探针显微镜之显微结构分析

电子探针是利用 0.5μm-1μm 的高能电子束激发待分析的样品,通过电子与样品的相 互作用产生的特征 X 射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样 品的微区内(μm 范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm 范围内的 微区分析, 微区分析是它的一个重要

用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法

      一种用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法。旋转空气轴承高速旋转,从旋转编码器获得旋转的角度,气浮导轨沿着待测工件的径向运动,从线性编码器获得气浮导轨的位移,旋转空气轴承和气浮导轨从而构成扫描模块,利用DSP综合控制系统模块驱动SPM测量头获得待测工件表面的高度信息,再利用高速数据采集与处理

扫描探针显微镜的最新技术进展及应用

扫描探针显微镜(SPM s )是用来探测表面性质的仪器家族,是由B inn ig 和Roh rer 等人最早于1982年发明[1]。虽然SPM 在目前可以测量许多表面的其它性质,但是揭示表面形貌一直是它的主要应用目的。SPM 是我们这个时代中最为有力的表面测量工具,其测量表面特征的尺寸可以从原子间距

用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法

     一种用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法。旋转空气轴承高速旋转,从旋转编码器获得旋转的角度,气浮导轨沿着待测工件的径向运动,从线性编码器获得气浮导轨的位移,旋转空气轴承和气浮导轨从而构成扫描模块,利用DSP综合控制系统模块驱动SPM测量头获得待测工件表面的高度信息,再利用高速数据采集与处理模

扫描探针显微镜微型镜盒的制作方法

自从1982年发明了第一台扫描探针显微镜---扫描隧道显微镜(简称STM)以来,以其极高的分辨率(原子分辨率),丰富的物理信息(样品表面电子云密度信息),以及低廉的造价,立刻得到了极为广泛的应用。不久,又出现了原子力显微镜,磁力显微镜等等。它们利用电致伸缩效应的器件如电致伸缩步进器及电致伸缩扫描管,

扫描探针显微镜扫描器运动误差的研究

对由压电陶瓷的压电误差造成的扫描探针显微镜扫描器的运动误差进行了较详细的实验研究和理论分析,分析了各项误差的产生原因及其实验现象,据此可对误差进行判断和修正。  1 概述  扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,简称SPM)是指包括扫描隧道显微镜[1](Scanning

介电损耗扫描探针显微镜及其测量方法

     该显微镜包括有PZT扫描管,导电金属探针及下表面具有导电层的非导电样品、扫描隧道显微镜控制器、频率信号发生和相位检测器、前置放大器和微型计算机。采用具有较小或不要直流分量的交流偏压方法,在探针和被测样品间电容或介电损耗角随频率变化的曲线峰值附近或斜率变化最大处,选择若干个工作频率,用电容(

光子扫描隧道显微镜探针的研制和应用

    研究光子扫描隧道显微镜(PSTM)探针的研制和PSTM探针在distearyl3,3’-thiodipropionate自组装分子膜STM研究中的应用。PSTM探针是既能传输电子又能传输光子的多功能扫描探针。它能够应用到STM上通过传输电子获得和金属探针一样效果,又能应用到近场光学显微镜上获

共聚焦激光扫描显微镜的应用及荧光探针

一、LSCM常用的检测内容及其荧光探针 LSCM检测内容和应用范围非常广泛,以下仅简单介绍LSCM常用的检测内容及其荧光探针。 1.细胞内游离钙 共聚焦激光扫描显微镜常用的有Fluo-3、Rhod-1、Indo-1、Fura-2等,前两者为单波长激光探针,利用其单波长激发特点可直接测量细胞内Ca

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

扫描电化学工作站是一个模块化的系统,可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。2、SV

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

M370扫描电化学工作站是一个模块化的系统,可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。

扫描探针显微镜和扫描电子显微镜有哪些不同点?

     扫描探针显微镜具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子,这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。扫描探针显微镜得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表面结构。扫描探针显微镜使用环境宽松。电子显微镜等仪器对工作环境要求比较苛

扫描探针显微镜与扫描电子显微镜到底有何区别?

扫描探针显微镜与扫描电子显微镜都是显微镜,但他们的功能和用途不同,工作原理也不一样。当然了,价格上也是不一样的,扫描电子显微镜要贵得多。 1、功能 扫描探针显微镜具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子,这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。扫描探针显微镜得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。2、SVP370(SVET)扫描振动电极技术是一种非破坏性扫描,利用振动探针,测量电化学化学样品表面产生的电特

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。2、SVP370(SVET)扫描振动电极技术是一种非破坏性扫描,利用振动探针,测量电化学化学样品表面产生的电特

环球分析测试仪器公司参加染料敏化和有机太阳电池会议

  “第五届亚太染料敏化和有机太阳电池会议”(The 5th Aseanian Conference on Dye-sensitized and Organic Solar Cells)由中国科学院等离子体物理研究所承办,会议于2010年8月25日至28日在美丽的风景旅游城市黄山召开

想了解扫描探针显微镜从它的工作原理开始

     扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用,即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场,通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜丰要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。  控制器通过扫描器在竖直舛由方向移