2974万！湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台采购LCMS、XRD、AAS等
一、采购项目基本信息1、采购项目名称：湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台项目2、政府采购计划编号：湘财采计[2025]000641号3、委托代理编号：2954-20250403-5254、采购项目预算：28,740,714元支持预付款，预付比例：%5、本项目对应的中小企业划分标准所属行业：6、评标方法： 最低价法 综合评分法7、合同定价方式： 固定总价 固定单价 成本补偿 绩效激励8、合同履行期限：详见招标文件9、本项目分阶段要求投标人提供以下保证：投标保证金：采购项目预算的 %；履约保证金：中标金额的 %；质量保证金：合同金额的 %；二、采购人的采购需求包名称最高限价（元）标的名称数量标的预算（元）包19,787,488X射线衍射仪13,390,000电子顺磁共振波谱仪13,099,488纳米力学测试系统12,520,000全自动气......阅读全文
XRD分析，峰高越高代表什么
峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。
EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：
xrd峰强度高低说明什么
xrd峰强度高低说明相对背地强度高低，表示晶相含量，跟面积表示晶相含量一致。峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。峰的强度低是XRD图谱的性质，就是峰不是很尖锐，峰很钝，学名叫做宽化，这样反应的样品性质就是粒径很小，结晶度低是样品的性质，反映在图谱上
XRD怎么根据2θ判断bcc
先利用XRD确定相，然后根据相判断晶体结构。xrd一般指X射线衍射。 1912年，劳厄等人根据理论预见，证实了晶体材料中相距几十到几百皮米（pm）的原子是周期性排列的；这个周期排列的原子结构可以成为X射线衍射的“衍射光栅”；X射线具有波动特性， 是波长为几十到几百皮米的电磁波.
XRD峰的偏移影响因素
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
SEM、TEM、XRD原理及区别
1、SEM搜索引擎营销：英文Search Engine Marketing ，我们通常简称为“SEM”。就是根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。简单来说，搜索引擎营销就是基于搜索引擎平台的网络营销，利用人们对搜索引擎的依赖和使用习惯，在人们检索信息的时候将
XRD分析，峰高越高代表什么
峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。
XRD峰的偏移影响因素
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：
XRD分析，峰高越高代表什么
峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。
EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：
xrd图中的峰代表什么
XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择
EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析
SEM、TEM、XRD原理及区别
XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。样品制备：通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。SEM是利用电子和物质的相互作用，可以获取被测
XRD峰值左移说明什么呢
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移，意味着晶格常数变大，常见是掺入了比主体原子半径大的杂原子。如果不是全谱所有峰都发生位移而只是少数或个别高角度衍射峰发生位移，则不是掺杂原子引起晶格常数变化所致，很可能是存在宏观残余应力引起晶格畸变的反映。宏观残余应力可能引起晶格各向异性收缩，对某些衍射为压应力
EDS,XRD,XPS有什么不同
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
xrd峰偏移原因有哪些
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于样品板参照面就会使衍射峰左移。 如果不是全谱所有峰都发生位移而
岛津公司新型多重分析超高速LCMS系统Nexera－MX
分析测试百科网讯 2016ASMS期间，岛津向质谱界展示了其新推出的一款多重分析超高速LCMS系统Nexera MX。Nexera MX配备双流技术（MX-DST），在相同的时间内可以处理常规LCMS两倍的样品。通过连续数据采集，Nexera MX可以显著提高通量，提高实验室
安捷伦ASMS发布新品6470三重四极杆LCMS
安捷伦科技公司推出功能极其强大的三重四极杆质谱仪新系统是食品检测、环境分析、药物开发和临床研究的理想选择 安捷伦科技公司（纽约证交所：A) 今日在 2015 ASMS 会议（美国质谱协会）上发布了安捷伦质谱和液相色谱系统家族的最新成员：Agilent 6470 三重四极杆液质联用系统。A
141万，岛津LCMS中标中科院兰州化物所采购项目
21日，中国科学院兰州化学物理研究所制备液相色谱质谱联用仪采购项目中标结果公布，岛津LCMS-2050以141.02万元的价格中标，配置的氢气发生器为楷来（上海）的KL20-1。 中标信息如下： 一、项目编号：1259-24386（招标文件编号：1259-24386） 二、项目名称：中国科
成分分析测试常见的使用方法有哪些
成分分析：指通过微观谱图及激光飞秒检测分子结构对产品或样品的成分进行分析，对各个成分进行定性定量分析的技术方法。 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量分析，鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助
在光谱领域中AAS是什么意思
原子吸收光谱(AAS)：原子吸收光谱包括火焰原子化吸收光谱，石墨炉原子化吸收光谱，氢化物发生原子吸收光谱等。
AAS光谱仪上原子化器介绍
原子化器主要有两大类，即火焰原子化器和电热原子化器。 火焰有多种火焰，目前普遍应用的是空气-乙炔火焰。电热原子化器普遍事用的是石墨炉原子化器，因而原子吸收分光光度计，就有火焰原子吸收分光光度计和石墨炉原子吸收分光光度计。
原子吸收AAS元素分析方法铊Tl
1. 基本特性: 原子量 204.37 电离电位 6.108 （ev） 离解能 < 3.9 （ev）2. 样品处理: HNO3; HNO3+HF; HNO3+H2SO4+HCLO4.3. 分析条件 分析线 276.8 nm 狭缝 0.4 nm （火焰） 2.0
原子吸收AAS元素分析方法铑Rh
1. 基本特性: 原子量 102.905 电离电位 7.5 （ev） 离解能 4.4 （ev）2. 样品处理: HNO3+HCL; Na2O2; KOH+K2CO3.3. 分析条件 分析线 343.5 nm 狭缝 0.2 nm 空心阴极灯电流（w） 3.0 mA4. 干扰
原子吸收AAS元素分析方法铷Rb
1. 基本特性: 原子量 85.47 电离电位 4.177 （ev） 离解能 3.6 （ev）2. 样品处理: HF+HNO3; HF+H2SO4; HCLO4+HF; HCLO4.3. 分析条件 分析线 780.0 nm 狭缝 0.4 nm 空心阴极灯电流（w） 2.0
原子吸收AAS元素分析方法钴Co
1. 基本特性: 原子量 58.93 电离电位 7.9 （ev） 离解能 3.7 （ev）2. 样品处理: HNO3; HCL+HNO3; HCL+HNO3+H2SO4; HF+HSO4; HF+H2SO4; H2SO4+HCLO4+HNO3.3. 分析条件: 分析线 240
原子吸收AAS元素分析方法银Ag
1. 基本特性: 原子量：107.868 电离电位：7.576 （ev） 离解能：1.4 （ev）2. 样品处理: HNO3+HCL; HNO3+H2SO4; HF+HCLO4+HNO3+HCL; HNO3+H2O2.3. 分析条件： 分析线
原子吸收AAS元素分析方法铊Tl
原子吸收AAS--元素分析方法--铊Tl1. 基本特性: 原子量 204.37 电离电位 6.108 （ev） 离解能 < 3.9 （ev）2. 样品处理: HNO3; HNO3+HF; HNO3+H2SO4+HCLO4.3. 分析条件 分析线 276.8 nm 狭缝 0.4
原子吸收AAS元素分析方法铑Rh
原子吸收AAS--元素分析方法--铑Rh1. 基本特性: 原子量 102.905 电离电位 7.5 （ev） 离解能 4.4 （ev）2. 样品处理: HNO3+HCL; Na2O2; KOH+K2CO3.3. 分析条件 分析线 343.5 nm 狭缝 0.2 nm 空心