2974万！湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台采购LCMS、XRD、AAS等
一、采购项目基本信息1、采购项目名称：湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台项目2、政府采购计划编号：湘财采计[2025]000641号3、委托代理编号：2954-20250403-5254、采购项目预算：28,740,714元支持预付款，预付比例：%5、本项目对应的中小企业划分标准所属行业：6、评标方法： 最低价法 综合评分法7、合同定价方式： 固定总价 固定单价 成本补偿 绩效激励8、合同履行期限：详见招标文件9、本项目分阶段要求投标人提供以下保证：投标保证金：采购项目预算的 %；履约保证金：中标金额的 %；质量保证金：合同金额的 %；二、采购人的采购需求包名称最高限价（元）标的名称数量标的预算（元）包19,787,488X射线衍射仪13,390,000电子顺磁共振波谱仪13,099,488纳米力学测试系统12,520,000全自动气......阅读全文
XRD进行定性分析时所得信息？
A. 根据XRD谱图信息，可以确定样品是无定型还是晶体：无定型样品为大包峰，没有精细谱峰结构；晶体则有丰富的谱线特征。把样品中最强峰的强度和标准物质的进行对比，可以定性知道样品的结晶度。B. 通过与标准谱图进行对比，可以知道所测样品由哪些物相组成（XRD最主要的用途之一）。基本原理：晶态物质组成元素
XRD峰的偏移影响因素都有什么
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
XRD图谱如何做物相分析
xrd可做块体样品表面物相分析xrd图中有很多信息,如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同.比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将xrd图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物数据库,供调用比对,做到这一点,外行也可以很快入门,是最简单的分析了；
怎么可以通过xrd分析矿物纯度很高
一、分析方法： 1、数据的输入 Jade软件可以直接读取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射仪的原始数据。打开File\patterns,将出现如附件中所示画面，先（I）找到你文件位置，从（III）的下拉框中选择你的数据格式，按（II）选择。很多仪器输出文件的格式
xps和xrd材料分析方法的区别
差别太大了。。X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过
XRD峰的偏移影响因素都有什么
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
XRD物相鉴定的10条军规
X射线衍射最基本的应用就是鉴定物相。其它的应用都只有在物相鉴定完成以后才能做。那么物相是怎么鉴定出来的呢？ 首先，X射线衍射方法只能证明一个物相的存在，而不能证明一个物相的不存在。 这是因为，X射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值（1%-10%左右，不同物
做XRD的样品要求是什么
看仪器了吧，只要是晶体都可以做xrd，不管是固体液体还是什么的。这是我们老师说的。不过我只做过粉末，都是研磨很细的粉末，表面压平整。你可以向你们xrd设备管理老师询问。
XRD图谱如何做物相分析
首先简单说下m原理—— 角度θ为7布拉格角或称为2掠射角。关于kXRD的测量原理比1较复杂，要知道晶体学和X射线知识。简单的来说（对粉末1多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中3一x个c晶粒的一a组面网（hkl）取向和入c射线夹角为3θ，满足衍射条件，则在衍射角2θ（衍射线与u入b射X射线的延长5
XRD物相鉴定的10条军规
X射线衍射最基本的应用就是鉴定物相。其它的应用都只有在物相鉴定完成以后才能做。那么物相是怎么鉴定出来的呢？ 首先，X射线衍射方法只能证明一个物相的存在，而不能证明一个物相的不存在。 这是因为，X射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限
XRD图谱如何做物相分析
XRD图中有很多信息，如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等，其分析方法各不相同。比如，若是做物相分析，样品是已知物质的，你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断，一般设备中都会提供已知物数据库，供调用比对，做到这一点，外行也可以很快入门，是最简单的分析了；当然杂相分析就需要一定的经验了
做XRD,样品不够多怎么办
酒精不行，可以考虑一下其他挥发溶剂。。lwqxhm(站内联系TA)你的样品要是负载型的 可以试着加载体相 做XRDandrewjtx(站内联系TA)XRD 样品不够 ，把样品 放在 玻璃片上，均匀涂开，再在上面 放一片称量纸 用拇指压 称量纸 保证样品 表面均匀 形成一个平面 可以做XRD，结果很准
做XRD的样品必须要干燥么
不需要，液体又不是晶体，所以不会影响物相分析。可是样品如果是非晶材料就需要考虑了。
XRD图谱如何做物相分析
xrd可做块体样品表面物相分析xrd图中有很多信息,如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同.比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将xrd图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物数据库,供调用比对,做到这一点,外行也可以很快入门,是最简单的分析了；
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射
EDS及XRD的区别有哪些内容
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。\x0d\x0a2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物
xrd薄膜法能够测定薄膜什么性质
不知道你所说的薄膜法指什么.一般对于薄膜材料,XRD能够做:掠入射(GIXRD): 分析晶态薄膜物相,残余应力反射率测量(XRR): 对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度掠入射小角散射(GISAXS): 分
XRD峰宽化是什么意思
理想条件是无应力存在的单晶，体积无穷大。原子按照晶体的结构有序排列，构成一排排原子面。X射线反射时相邻上下两层原子面的光程差为波长整数倍时，衍射光明亮。实际上再理想的单晶其衍射峰也是宽化的，称为仪器宽化。如果晶体远小于理想尺寸，也会引起宽化。其三，存在应力，影响晶格参数，有些区域晶格参数大，有些小，
纳米氧化铝XRD图谱怎么分析
很好撒，峰很强，很清楚的阿尔法氧化铝图谱。你要分析什么东西？如果你要看是不是阿尔法氧化铝，那么它是。你可以比照标准图谱，就清楚了。最多再看看有没有其他晶型的氧化铝杂质峰。其他的估计看不出来。特别是纳米不纳米的，XRD看不出来
XRD峰的偏移影响因素都有什么
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
做XRD,样品不够多怎么办
酒精不行，可以考虑一下其他挥发溶剂。。lwqxhm(站内联系TA)你的样品要是负载型的 可以试着加载体相 做XRDandrewjtx(站内联系TA)XRD 样品不够 ，把样品 放在 玻璃片上，均匀涂开，再在上面 放一片称量纸 用拇指压 称量纸 保证样品 表面均匀 形成一个平面 可以做XRD，结果很准
xps和xrd材料分析方法的区别
差别太大了。。X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过
XRD峰宽化是什么意思
理想条件是无应力存在的单晶，体积无穷大。原子按照晶体的结构有序排列，构成一排排原子面。X射线反射时相邻上下两层原子面的光程差为波长整数倍时，衍射光明亮。实际上再理想的单晶其衍射峰也是宽化的，称为仪器宽化。如果晶体远小于理想尺寸，也会引起宽化。其三，存在应力，影响晶格参数，有些区域晶格参数大，有些小，
XRD峰宽化是什么意思
理想条件是无应力存在的单晶，体积无穷大。原子按照晶体的结构有序排列，构成一排排原子面。X射线反射时相邻上下两层原子面的光程差为波长整数倍时，衍射光明亮。实际上再理想的单晶其衍射峰也是宽化的，称为仪器宽化。如果晶体远小于理想尺寸，也会引起宽化。其三，存在应力，影响晶格参数，有些区域晶格参数大，有些小，
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射
xrd半峰宽表示什么物理意义
表征的是晶体的晶粒大小，晶粒越小，宽化越严重，反之晶粒越大，衍射峰越尖锐，有个谢乐公式可以根据半峰宽和d值计算晶粒大小，但这公式只能用于计算粒度小于100nm的晶粒。
XRD峰的偏移影响因素都有什么
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射
金属的XRD扫描范围是多少呢
一般根据仪器来确定，比如仪器扫描角度为5度以上，那起始角度一般为20，最好别低于10，我要是使用仪器我是不会让低于10的，正常的角度按照楼上说的那样20到80就行了，当然你也可以看看铁的三强峰，如果主要峰都集中在某一个区段，那你直接按照那一区段检测就可以了！
XRD峰的偏移影响因素都有什么
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete