522万华中科技大学高分辨扫描电子显微镜采购项目中标结果出炉
一、项目编号：HW20250293、FZHB-0162506-098（招标文件编号：HW20250293、FZHB-0162506-098）二、项目名称：华中科技大学高分辨扫描电子显微镜采购项目三、中标（成交）信息供应商名称：广东省中科进出口有限公司供应商地址：广州市越秀区先烈中路100号大院9号102房自编A一楼（仅限办公）中标（成交）金额：522.0000000（万元）四、主要标的信息序号 供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 1 &......阅读全文
全面认识扫描电子显微镜
扫描电子显微镜，是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器，被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。如图1所示，是扫描电子显微镜的外观图。 特点 制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大、保真度高、有
扫描电子显微镜应用范围
扫描电子显微镜是一种多功能的仪器,具有很多优越的性能,是用途最为广泛的一种仪器,它可以进行如下基本分析:(1)三维形貌的观察和分析;(2)在观察形貌的同时,进行微区的成分分析。①观察纳米材料。所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0. 1～100 nm范围内,在保持表面洁净的条件下加压成型而得
扫描电子显微镜概览（二）
电子束系统电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分组成，主要用于产生一束能量分布极窄的、电子能量确定的电子束用以扫描成象。电子枪 电子枪用于产生电子，主要有两大类，共三种。一类是利用场致发射效应产生电子，称为场致发射电子枪。这种电子枪极其昂贵，在十万美元以上，且需要小于10-10torr的极高真空。但它具
扫描电子显微镜发展简史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
扫描电子显微镜工作原理
扫描电子显微镜透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜
扫描电子显微镜的优点
和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点：(一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜
扫描电子显微镜的简介
扫描电子显微镜 (scanning electron microscope, SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 [3] 。具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原
冷场发射扫描电子显微镜
冷场发射扫描电子显微镜是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2011年5月1日启用。 技术指标 分辨率：1.0nm (15KV), 1.4 nm (1KV) 放大倍数：25-100万倍加速电压：0.1KV-30KV 束流强度：10-13-2x10-9。主要附件：牛津仪器INCA 能谱仪。 主
扫描电子显微镜概览（一）
扫描式电子显微镜的电子束不穿过样品，仅在样品表面扫描激发出次级电子。放在样品旁的闪烁晶体接收这些次级电子，通过放大后调制显像管的电子束强度，从而改变显像管荧光屏上的亮度。显像管的偏转线圈与样品表面上的电子束保持同步扫描，这样显像管的荧光屏就显示出样品表面的形貌图像，这与工业电视机的工作原 理相类
扫描电子显微镜工作原理
扫描电子显微镜透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜
扫描电镜SEM扫描电子显微镜JSMit100（A）
标准配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不仅能获取高分辨率的图像，还采用了无需液氮制冷的EDS检测器 (DRY SD)，能够进行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭载的大型全对中形样品台可以对应各种样品。 电子光学系统
扫描电镜SEM扫描电子显微镜JSMit100（A）
扫描电子显微镜JSM-it100(A)主要特长标准配置EDS分析功能的分析型扫描电镜 标准配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不仅能获取高分辨率的图像，还采用了无需液氮制冷的zui新EDS检测器 (DRY SD)
650万大单！这一公司中标南京大学场发射扫描电镜项目
近日，南京大学发布了场发射扫描电子显微镜系统采购结果，蔡司以649.86万元中标，中标仪器型号为GeminiSEM360。详情如下： 一、项目编号：ZH2022020072、JG066022982409（招标文件编号：ZH2022020072、JG066022982409） 二、项目名称：南京大
电子显微镜原理－扫描电子显微镜成像原理
1、扫描电子显微镜通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。2、电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号。电子束通常以光栅扫描图案扫描，并且光束的位置与检测到的信号组合以产生图像。3、扫描电子显微镜可以实现分辨率优于1纳米。样品可以在高真空，低真空
环境扫描电子显微镜的特点
一、环境扫描电镜的特点 普通扫描电镜的样品室和镜筒内均为高真空（约为10ˆ-6个大气压），只能检验导电导热或经导电处理的干燥固体样品。低真空扫描电镜可直接检验非导电导热样品，无需进行处理，但是低真空状态下只能获得背散射电子像。 环境扫描电镜除具有以上两种电镜的所有功能外，还具有以下几个主要特点：
台式－扫描电子显微镜的简介
台式 扫描电子显微镜（Desktop Scanning Electron Microscope, Desktop SEM）的概念是由美国FEI公司（1997年原FEI和 飞利浦电子光学合并而成)提出的，并于2006年正式发布了旗下的Phenom飞纳台式扫描电镜，而后于2009年成立Phenom-
台式扫描电子显微镜的组成
真空系统：一般采用机械泵与分子泵联动 电子枪：一般为CeB6（ 六硼化铈）或钨灯丝，其中钨灯丝的寿命较短，仅为40-100小时，需频繁更换，CeB6灯丝寿命超过1500小时，且亮度更高。目前尚没有采用 场发射（Field Emission）的台式扫描电镜。 电磁透镜 探测器： 背散射电子或
环境扫描式电子显微镜
环境扫描式电子显微镜是一种用于物理学、地球科学、材料科学领域的分析仪器，于2003年01月15日启用。 技术指标 分辨率：3.5nm(30kv，高真空模式)；放大倍率：5～200000倍 加速电压：30KV 样品最大尺寸：X=50mm，Y=50mm，Z=50mm 能量分辨率：130ev；空间
扫描电子显微镜的应用概述
扫描电子显微镜 (scanning electron microscope, SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 [3] 。具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原
扫描电子显微镜的工作原理
扫描电子显微镜的工作原理：扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇
扫描电子显微镜的优点介绍
电子显微镜技术的应用是建立在光学显微镜的基础之上的，光学显微镜的分辨率为0.2μm，透射电子显微镜的分辨率为0.2nm，也就是说透射电子显微镜在光学显微镜的基础上放大了1000倍。扫描电子显微镜的优点介绍扫描电子显微镜的电子束不穿过样品，仅以电子束尽量聚焦在样本的一小块地方，然后一行一行地扫描样本。
扫描电子显微镜的仪器特点
在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应, 称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图
扫描电子显微镜的原理结构
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。 扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下，经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成
扫描电子显微镜的应用介绍
扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富，几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形
扫描电子显微镜的产品特点
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。 1 仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。2 仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同时在高放大
扫描电子显微镜的应用特点
由于扫描电子显微镜具有上述特点和功能，所以越来越受到科研人员的重视，用途日益广泛。扫描电子显微镜已广泛用于材料科学（金属材料、非金属材料、纳米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害（火灾、失效分析）鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等
扫描电子显微镜的工作原理
扫描电子显微镜的工作原理：扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇
扫描电子显微镜的工作原理
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope, SEM）的工作原理是利用极细的聚焦电子束在样品表面作光栅扫描，电子束与样品表面相互作用产生各种信号，包括：二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线等，这些信号被探测器接收放大显示在显示屏上，可用于分析样品的微观形貌、晶体特
扫描电子显微镜的工作原理
扫描电子显微镜的工作原理：扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇
扫描电子显微镜的功能特点
扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以