CIT3000SMD能量色散X荧光分析仪

一、应用领域

有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。

二、性能特点：

♦　样品平台自动升降，工作十分方便；

♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能最大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；

♦　抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量；

♦　先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；

♦　采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；

♦　更先进的硅漂移SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。

三、仪器技术指标

（1）测量范围：1-40kev；

（2）可分析元素范围：Na-U；

（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；

（4）分辨率：优于130Ev；

（5）最低检出限：Pb≤5ppm；

（6）工作环境温度：0-40℃；

（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）

（8）测量时间：10-2550s（时间可调）

（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；

（10）额定功率：300W；

（11）探测器类型：采用最新的高性能电制冷硅漂移SDD探测器；

（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；

（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm

（14）样品腔尺寸：样品腔：300*300*100mm

（15）重量：约100Kg

仪器技术指标

（1）测量范围：1-40kev；

（2）可分析元素范围：Na-U；

（3）分析含量范围：1ppm-99.99%；

（4）分辨率：优于130Ev；

（5）最低检出限：Pb≤5ppm；

（6）工作环境温度：0-40℃；

（7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露）

（8）测量时间：10-2550s（时间可调）

（9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz；

（10）额定功率：300W；

（11）探测器类型：采用最新的高性能电制冷硅漂移SDD探测器；

（12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；

（13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm

（14）样品腔尺寸：样品腔：300*300*100mm

（15）重量：约100Kg