扫描探针电化学工作站

扫描探针电化学工作站
阿美特克科学仪器部（普林斯顿及输力强）
普林斯顿/Princeton

　　它是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：

　　Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜

　　Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试

　　Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试

　　Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试

　　Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试

　　Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试

　　以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。

　　微区扫描探针平台系统主要技术参数：

　　1. 扫描范围(X、Y、Z)：70mm×70mm×70mm

　　2. 扫描驱动分辨率：8nm

　　3. 位移偏码：线性，零滞后

　　4. 位移：闭环定位

　　5. 线性位移编码分辨率：100nm

　　6. zei大扫速：2mm/s

　　7. 测量分辨率：16位@100kHz

　　8. 计算机通讯方式：USB接口

　　9. 控制与分析软件：Windows 32位MDI控制与分析软件

　　10. 环境池：TriCellTM(选配件)

　　11. SECM电化学微池：µTriCellTM (选配件)

　　12. 长距显微镜：VCAM2(选配件)

　　13. 三维图形软件：IsoPlotTM (选配件)

　　14. 微区技术：SECM、SVP(SVET)、SKP、LEIS(可选配)