X射线荧光光谱仪RoHS，卤素分析CIT3000SYB

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 

产品说明、技术参数及配置 

CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 

适用范围 

适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 

型号：CIT-3000SYB 

性能特点 

采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 

采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 

40KV-钨靶微型X射线管； 

采用2048道多道分析器，分析精度更高； 

一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 

测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 

校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 

技术指标 

分析元素范围：Na-U 

元素含量分析范围：1ppm -99.99% 

探测器能量分辨率优于150eV 

最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 

校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 

测量范围：1－40KeV 

高压：0kV-40kV 

管流：0μA-100μA 

专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 

检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 

圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 

工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 

工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 

额定功率：50W 

仪器重量：25Kg 

仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 

仪器配置 

仪器主机一台 

进口电制冷半导体探测器 

X光管（0-40KV） 

高压电源 

品牌计算机一台 

激光打印机一台 

真空泵一台 

压片机一台 

制样模具一套 

稳压电源一台 

测试软件一套

技术指标 

分析元素范围：Na-U 

元素含量分析范围：1ppm -99.99% 

探测器能量分辨率优于150eV 

最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 

校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 

测量范围：1－40KeV 

高压：0kV-40kV 

管流：0μA-100μA 

专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 

检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 

圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 

工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 

工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 

额定功率：50W 

仪器重量：25Kg 

仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 

仪器配置 

仪器主机一台 

进口电制冷半导体探测器 

X光管（0-40KV） 

高压电源 

品牌计算机一台 

激光打印机一台 

真空泵一台 

压片机一台 

制样模具一套 

稳压电源一台 

测试软件一套