地学实验室及仪器扫盲（5）电子探针实验室
实验设备 名称：SX51型电子探针 型号：SX51 性能指标：法国CAMRCA公司生产 1994年10月安装使用 配备3道波谱仪（WDS） 、OXFORD公司LINK ISIS能谱仪（EDS）以及阴极发光（CL）探头。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析Na-U间的元素。 名称：JXA-8100型电子探针 型号：JXA-8100 性能指标：日本JEOL公司生产 2006年7月安装使用 配备4道波谱仪（WDS） 、OXFORD公司INCA能谱仪（EDS）以及GATAN公司MonoCL具展谱功能的阴极发光分析仪（CL）。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析F-U间的元素。 实验室简介 所属系统：地球物质成......阅读全文
地学实验室及仪器扫盲（5）电子探针实验室
实验设备 名称：SX51型电子探针 型号：SX51 性能指标：法国CAMRCA公司生产 1994年10月安装使用 配备3道波谱仪（WDS） 、OXFORD公司LINK ISIS能谱仪（EDS）以及阴极发光（CL）探头。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析Na-U间的元素。
电子探针的原理
电子探针的原理如图1所示。图1（1）电子光学系统。电子束直径0.1～1μm，电子束穿透深度1～3μm。被激发原子发射特征X射线谱过程如下：围绕原子核运动的内层电子，被电子束的电子轰击后，其他外层电子为补充轰击出的电子而发生跃迁，在跃迁过程中释放出能量，即发射出X射线。（2）X射线谱仪。测量各种元素产
电子探针分析方法
利用电子探针分析方法可以探知材料样品的化学组成以及各元素的重量百分数。分析前要根据试验目的制备样品，样品表面要清洁。用波谱仪分析样品时要求样品平整，否则会降低测得的X射线强度。 1 点分析用于测定样品上某个指定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的某钢定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可使样品中所有元素
电子探针谱仪概述
原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。 适合分析材料:金属及合金，高分子材料、陶瓷、混
电子探针的产品优势
1、能进行微区分析。可分析数个μm3内元素的成分。2、能进行现场分析。无需把分析对象从样品中取出，可直接对大块试样中的微小区域进行分析。把电子显微镜和电子探针结合，可把在显微镜下观察到的显微组织和元素成分联系起来。3、分析范围广。Z>4其中，波谱：Be~U，能谱：Na~U。
验室电子探针介绍
电子探针是通过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中的某一微小区域，使其发出特征X射线，由仪器配备的四道波谱仪、一道能谱仪、一个阴极发光成像系统接收并测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定量或定性分析。将其与电镜功能相结合，能有效的把显微组织和元素成分联系起来，成为目前研究亚微观结构和
电子探针的功能特点
电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）。还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。由于电子探针技术具有操作迅速简便（相对复杂的化学分析方法而言）、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品
电子探针的功能特点
电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）。还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。由于电子探针技术具有操作迅速简便（相对复杂的化学分析方法而言）、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品
电子探针的结构原理
（1）电子光学系统。电子束直径0.1～1μm，电子束穿透深度1～3μm。被激发原子发射特征X射线谱过程如下：围绕原子核运动的内层电子，被电子束的电子轰击后，其他外层电子为补充轰击出的电子而发生跃迁，在跃迁过程中释放出能量，即发射出X射线。（2）X射线谱仪。测量各种元素产生的X射线波长和强度，并以此对
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
电子探针的功能介绍
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
电子探针的技术支持
该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流(在10-9-10-7A范围)，常用的加速电压为
电子探针的技术优势
1、能进行微区分析。可分析数个μm3内元素的成分。2、能进行现场分析。无需把分析对象从样品中取出，可直接对大块试样中的微小区域进行分析。把电子显微镜和电子探针结合，可把在显微镜下观察到的显微组织和元素成分联系起来。3、分析范围广。Z>4其中，波谱：Be~U，能谱：Na~U。
电子探针检测样品的说明
定量分析的样品必须磨平抛光、清洗干净。 若样品不能进行表面磨平抛光(将影响分析精度)处理应事先说明。 为测试方便和节约机时，样品应先切成小薄片，不能切割制样，必须先与测试人员商量。 应先标记好分析面上的测试点，无标记测试位置时，测试时只选有代表性、较平整位置测试。液体样必须先浓缩干燥。
电子探针仪的相关介绍
电子探针仪是一种用于物理学、材料科学领域的分析仪器，于2017年06月05日启用。 技术指标 1. 二次电子像分辨率：5nm，背散射电子像分辨率：20nm（拓扑像、成分像）； 2. 加速电压：0 ～ 30kV；束流范围：10-5～ 10-12A；图像放大倍数：×40～×300,000；
电子探针的分析特点介绍
第一、微区性、 微量性：几个立方μm范围能将微区化学成分与显微结构对应起来。而一般化学分析、 X射线荧光分析及光谱分析等， 是分析样品较大范围内的平均化学组成，也无法与显微结构相对应, 不能对材料显微结构与材料性能关系进行研究。 第二、方便快捷：制样简单，分析速度快。 第三、分析方式多样化：
电子探针，有几种类型
何为电子探针，有几种类型电子探针是一种分析仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。该仪器将高度聚焦的电子束聚焦在矿物上，激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长，并将其强度与标准样品对比，或根据不同强度校正直接计数出组分含量。电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学
电子探针仪器的分析特点
1.微区性、微量性:几个立方um范围能将微区化学成分与显微结构对应起来。而一般化学分析、X射线荧光分析及光谱分析等，是分析样品较大范围内的平均化学组成，也无法与显微结构相对应，不能对材料显微结构与材料性能关系进行研究。 2.方便快捷:制样简单，分析速度快。 3.分析方式多样化:可以连续自动进
电子探针分析的基本介绍
以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X
电子探针的功能和应用特点
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
电子探针显微分析的原理
用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线。 分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是x射线谱仪，
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
电子探针的工作原理及构造
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元素分析，其
电子探针测试前需要准备什么
电子探针一般对样品表面抛光质量要求较高，在尺寸方面也有要求。具体制样要求如下：（1）光、薄片尺寸：薄片大小为 48.0±5mm x 26.0±5mm，光片大小为直径≤29mm的圆形光片（2）表面平整洁净。对表面不清洁的样品，需进行精细抛光。（3）抛光后或不需抛光的薄片，需要送样人用炭素笔在薄片上圈定
电子探针图像系统的微机接口设计
前,世界上仍然使用着很多模拟图像系统的旧型电子探针和扫描电镜,仅国内就有数百台。它们的主机性能仍然良好,但使用单色CRT显示,没有图 像处理能力,图像质量不高,灰度分辨率不超过40级。基于这一缺陷,我们在地质矿产部科学技术司的资助下,研制了电子探针和扫描电镜的模拟图像系统与微形 计算机的接口,以实现
电子探针可以用于汽车制造吗？
众所周知，用于汽车制造的材料不仅有金属等无机材料，还包括塑料等有机材料。而且金属材料也要经过喷涂、热处理等多种不同的表面处理方法。电子产品也需要在耐热耐震等安全方面的可靠性保证。近年来随着环境保护意识的提高，也引起了汽车尾气催化剂、混合动力车的锂离子二次电池等的研发热潮。因此汽车行业是一个涉及多
扫描电镜与电子探针的区别
扫描电镜和电子探针的根本区别在于电子束流:电子探针的束流(指打在样品表面的电流)要比扫描电镜大几个数量级.由此造成:电子探针的空间分辨率差,二次电子和背散射电子分辨率差.如果要求不高, 电子探针可以当作扫描来用.
简介电子探针显微分析的特点
1.显微结构分析 电子探针是利用0.5μm－1μm的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样品的微区内(μm范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm范围内的微区分析， 微区分析是它的一个重要