成分分析四大家—XRF、ICP、EDS、WDS，来看看你需要哪一个？
XRF X射线荧光光谱仪XRF，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WDX，但市面上用的较多的为EDX。WDX用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如分光晶体和探测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，并以此进行定性和定量分析。EDX用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线进入Si（Li）探测器，便可进行定性和定量分析。EDX体积小，价格相对较低，检测速度比较快，但分辨率没有WDX好。 XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X......阅读全文
成分分析四大家—XRF、ICP、EDS、WDS，来看看你需要哪一个？
XRF X射线荧光光谱仪XRF，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或W
XRF－的这些应用，你不会都不知道吧？
XRF（X-ray Fluorescence Spectrometer），X 射线荧光光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质元素分析和化学分析方法。 相较于其他的元素分析方法，如电感耦合等离子光谱仪（ICP）、能量色散X射线谱仪（EDS）、全称波长分散谱仪（WDS）等， XRF 由于其超快的分析
成分分析的四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX
X射线荧光光谱仪(XRF) XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光
xrf和epma两种成分分析方法有何区别
xrf和epma两种成分分析方法有何区别基本原理电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。 利用特征X射线波长来确定元素的叫做波谱仪(WDS）
扫描电镜SEM/能谱仪EDS/WDS之定量分析ZAF修正
所有固体样品定量分析的方法都是利用一个已知成分的标样，在多数情况下，（尤其金属）纯元素是适用的。无论是样品还是标样，都是在相同的试验条件下检测的。测出的相对强度比k，必需很精确，否则任何定量分析方法均会造成相同的误差。假设k已经精确获得。由于存在几种效应，必需对他们进行修正，1、原子序
积极响应国家设备更新政策丨布鲁克电子显微分析仪器更新和升级指南
近期，国家连续推出多项政策，科学仪器行业均受到了不同程度的拉动。3月1日，国务院常务会议审议通过《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》（后简称《行动方案》）。一时间在行业中又激起千层浪，将近期的政策利好推向了高潮。作为优异的科学实验仪器制造厂商，布鲁克纳米分析部电子显微分析技术基于电子显微镜
超简洁！SEM与EPMA对比总结
扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 最常用的分析信号是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X-射线，可用EDS（X-射线能谱仪）或者WDS（X-射线波谱仪）进行探测分析，获得微区（作用区）元素成分信息，而WDS这
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
扫描电子显微镜（SEM）和电子探针显微分析装置（EPMA）
扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 最常用的分析信号是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X
赛默飞世尔科技发布全新电子显微分析产品
高效、易用 ------赛默飞世尔科技一体化EBSD 、WDS、 EDS微区分析系统 2010年6月28日，美国威斯康星州麦迪逊 —— 全球科学服务领域的领导者赛默飞世尔科技今天发布了全新电子显微分析产品QuasOr EBSD（电子背散射衍射），其与NOR
赛默飞世尔MagnaRay光谱仪问世
赛默飞世尔MagnaRay光谱仪问世—--世界上第一台整体波长色散/能量色散系统 2008年8月4日，Thermo Fisher Scientific Inc.宣布第一台智能波长色散X射线光谱仪(WDS)-- Thermo Scientific MagnaRay WDS光谱仪开始上市。该仪器将能量
EPMA和EMPA区别
一.电子显微探针分析 EMPA--Electron microprobe analysis基本原理 电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
阴极射线发光仪
阴极发光技术是用阴极射线管发出加速电子使宝玉石发光，根据不同成因，不同种类的宝玉石发光性不同，从而在鉴定和区别宝玉石工作中得到应用。又由于它具有成本低、无损、快捷和制样简单等优点，从20世纪70年代起开始被广泛地应用于宝玉石鉴定工作。一、阴极射线发光基本原理阴极发光是从阴极射线管发出的具有较高能量的
EDS分析
EDS元素分析 一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。
SEM知识点扫盲十四
44. 电子束与样品作用，当内层电子被击出后，外层电子掉入原子内层电子轨道而放出X光，不同原子序，不同能阶电子所产生的X光各不相同，称为特征X光，分析特征X光，可分析样品元素成份。 45. 分析特征X光的方式，可分析特征X光的能量分布，称为EDS，或分析特征X光的波长，称为WDS。X光能谱的分辨
日本电子发布新一代FEEPMA
分析测试百科网讯 近日，日本电子株式会社发布了肖特基式场发射电子探针显微分析仪(EPMA)JXA-8530F Plus。JXA-8530FPlus 产品研发背景 日本电子在2003年推出了世界上第一台商业化的FE-EPMA，JXA-8500F。一直被高度重视的FE-EPMA被应用于金属、材料
不锈钢所有元素成分分析，通常用哪些方法？用什么方...
不锈钢所有元素成分分析，通常用哪些方法？用什么方法比较精确？不锈钢所有元素成分分析，通常用哪些方法？用什么方法比较精确？可以采用的的方法主要包括以下两种：1）化学分析法，使用化学成分分析仪。 优点：认可度比较高，多用于第三方仲裁。 缺点：易受人为因素影响；制样比较麻烦；分析时间较长，
光学显微镜应用领域
应用领域：光学显微镜主要用于光滑表面的微米级组织观察与测量，因为采用可见光作为光源因此不仅能观察样品表层组织而且在表层以下的一定范围内的组织同样也可被观察到，并且光学显微镜对于色彩的识别非常敏感和准确。电子显微镜主要用于纳米级的样品表面形貌观测，因为扫描电镜是依靠物理信号的强度来区分组织信息的，因此
【每日一学】秒懂XRF、EDX、EDS三者的区别
XRF、EDX、EDS，作为最常见的元素分析仪器，它们之间有什么区别呢？ 1、定义 XRF指的是X射线荧光光谱仪； EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF； EDS是能谱仪。 2、应用 1）XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金；铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金；铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属
XRF之X射线金属成分无损快速分析仪
自然界中大约有70多种金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等。而合金是指两种或两种以上的金属或金属与非金属结合而成，具有金属特性的材料。 常见的合金如铁和碳所组成的钢合金;铁、铬、镍组成的不锈钢；铜和锌所形成的黄铜等。 金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属材料。
XRF原理的金属成分分析仪的介绍
金属成分分析仪是采用XRF（荧光光谱分析）原理，对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短，因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时，由于电离或激发使原子处于激发状态，原子回到基态过程中，由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线，这就是荧光。X射线使物
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
SEMEDS技术在表面成分分析中的应用
扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)是现代材料分析领域比较常见的两种分析设备,基本上都是组合在一起使用的,功能非常强大,即能观察样品的表面形貌又能对微区进行成分分析。因为特征X射线主要从微米级深度射出,SEM-EDS技术用于成分分析时,属于体分析,SEM所用的加速电压一般
SEMEDS技术在表面成分分析中的应用
扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)是现代材料分析领域比较常见的两种分析设备,基本上都是组合在一起使用的,功能非常强大,即能观察样品的表面形貌又能对微区进行成分分析。因为特征X射线主要从微米级深度射出,SEM-EDS技术用于成分分析时,属于体分析,SEM所用的加速电压一般20kV左右。因
EDS元素分析
EDS元素分析 一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材
EDS元素分析
EDS元素分析 一、实验目的 1.了解能谱仪（EDS）的结构和工作原理。 2.掌握能谱仪（EDS）的分析方法、特点及应用。 二、实验原理 在现代的扫描电镜和透射电镜中，能谱仪（EDS）是一个重要的附件，它同主机共用一套光学系统，可对材料中感兴趣部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。