全反射X荧光技术在痕量元素检测中的应用

 TX2000全反射X荧光光谱仪

　　高沸点石油化工产品及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作，目前检测手段主要为AAS、ICP-OES、EDXRF等。 样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品，灰化法分解样品，湿法分解样品等。但是这些前处理手段都有其不足之处，如高温易挥发元素损失、耗时、使用 的酸易污染等。 溶剂稀释是一种快速、简单的方法，但是稀释样品，由于基体效应等因素很容易造成测量结果误差过大，并且由于样品的稀释，容易导致样品中本来就含量很低的目标元素低于仪器的检出限，从而造成该元素无法检测。因此，找到一种兼顾检出能力且前处理简单的检测方法变得犹为重要。

　　全反射X荧光(TXRF)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

　　TX2000全反射X荧光光谱仪可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg)，广泛的应用在环境分析(水、灰尘、沉积物、大气悬浮物)，制药分析(生物体液和组织样品中的有害元素)，法医学(微小证据分析)，化学纯度分析(酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂)，油品分析(原油、轻质油、燃料油)，染料分析(墨水、油漆、粉末)，半导体材料分析(挥发相分解)，核材料工业(放射性元素分析)。