安东帕携全新Litesizer500纳米颗粒及Zeta电位分析仪参展CPHI

　　分析测试百科网讯 2016年6月21日，第十六届世界制药原料中国展——CPHI China 2016在上海浦东新国际博览中心盛大开幕。安东帕携新产品——Litesizer TM 500 纳米颗粒及Zeta电位分析仪参展本届展会，并举办新产品技术交流会向用户展示其最新创新技术及应用。

奥地利安东帕展台

Litesizer TM 500 纳米颗粒及Zeta电位分析仪

　　Litesizer TM 500 是用于表征溶液中分散的纳米颗粒以及亚微米颗粒的仪器，可通过测量动态光散射（DLS）、电泳光散射（ELS）和静态光散射（SLS）来测定颗粒尺寸、Zeta电位和分子量。

　　最准结果测试：粒度采用最多三个检测角度，电位采用最新ZL连续监控相位光散射技术，使结果准确性达到最高。

　　双层保护外壳设计：仪器所有光学器件放置在内置保护壳中，降低振动带来的影响，确保测量不受灰尘或温度波动影响。

　　一键式操作：输入参数、测量和分析集中在一个页面，只需轻触一键即可完成测试。

　　持续透光率测量：仪器根据透光率自动设置测试参数，比如聚焦位置、检测角度、滤光强度以及测试时间。

　　样品池：电位测试采用倒置Ω形毛细管样品池，在测试通道内形成均匀电场，保证结果的稳定性和可重复性。

安东帕激光粒度仪销售工程师 顾梦懿

　　在Litesizer TM 500 纳米颗粒及Zeta电位分析仪新产品技术交流会上，安东帕激光粒度仪销售工程师顾梦懿向参会观众介绍了这款新产品的优势特性、技术创新和应用领域。

　　Litesizer TM 500 纳米颗粒及Zeta电位分析仪可用于测量颗粒粒径、粒径分布、动态光散射、Zeta电位、电泳光散射、分子量、静态光散射和透光率。

　　Litesizer TM 500 纳米颗粒及Zeta电位分析仪具有超短时间预热，防尘、防温度波动、抗震，友好的用户体验软件设计，样品连续测试，全自动测试模式、3角度检测器等优势，可用于纳米粒度相关行业包括生物制药领域中的影响药物药效、污染物指示的应用方向，例如静脉注射液、脂质体的应用。

　　在本届CPHI展会上，安东帕还展出了包括MCP系列高精度智能旋光仪，Abbemat系列折光仪，密度声速仪DSA 5000M、便携式密度计DMA 35、模块化智能型高级流变仪MCR72/MCR92 、高效微量落球粘度计Lovis 2000 M/ME 、微波消解仪Multiwave GO等一系列制药行业的主打产品。

密度声速仪DSA 5000M

便携式密度计DMA 35

模块化智能型高级流变仪MCR72/MCR92

高效微量落球粘度计Lovis 2000 M/ME

微波消解仪Multiwave GO

MCP系列高精度智能旋光仪