一、 应用概述
矿石是矿产冶炼的原材料,其元素含量的测定对于选矿以及冶炼加工至关重要。各类矿石中主量元素以及微量元素的测定通常采用化学滴定、AA、ICP、ICP-MS等多种分析方法,操作过程繁琐,耗时耗力。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪与快速基本参数法正在改变这一现状,针对各类矿石样品,同步分析其主量元素以及杂质元素含量,检测速度快,减少人力物力消耗,为矿产开发与冶炼企业带来新的元素分析方法。
二、 方法原理
1) 单色化聚焦激发技术原理
单波长X射线荧光光谱仪(HS XRF)采用全聚焦型双曲面弯晶技术,全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点,大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰,提升元素检测信噪比,相对传统XRF检出限降低1-2个数量级,单波长X射线荧光光谱仪从而实现对微量和痕量元素的检测分析。
2) 快速基本参数法
快速基本参数法(Fast FP2.0)通过对X射线荧光物理学明确的物理现象建立基本参数库和系列数学模型,经过大量计算直接得到样品中各元素的含量,解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性,实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。快速基本参数法(Fast FP)提升XRF样品适应性与定量精度。
三、 性能数据
1) 矿石种类与元素类型
本方案可以测试铬矿,镍矿,铜矿和锰矿四种类型矿石,关注元素如下所示:
针对以上样品,快速基本参数法(Fast FP)可以依赖少量(2-3个)定值或标准样品快速开发相关分析方法,得到高精度的定量结果。
2) 准确度与精密度
3) 结论
高灵敏度X射线荧光光谱仪与快速基本参数法针对Cu, Ni, Mn, Cr四种矿石样品,可以快速建立分析方法,快速基本参数法通过对基体效应,元素吸收增强效应的精确计算,消除各种干扰带来的分析误差,可以大幅降低背景干扰,降低检出限;计算值与真值之间有极佳的线性关系,主元素不需要校正或只需极少标样进行校正,即可达到快速精确定量的目的。
一、应用概述矿石是矿产冶炼的原材料,其元素含量的测定对于选矿以及冶炼加工至关重要。各类矿石中主量元素以及微量元素的测定通常采用化学滴定、AA、ICP、ICP-MS等多种分析方法,操作过程繁琐,耗时耗力......
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