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X射线显微镜的概念

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的。宏观成像与微观成像有相通之处,如衬度原理、设备的主要组成部件等,但也有区别。由于X 射线显微镜是用来观察肉眼无法分辨的微观结构与图形,因而在仪器结构和要求上有显著不同,如要求光源尺寸小而强度大,要将像放大和高分辨等 。......阅读全文

X 射线显微镜的概念

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的

x射线测厚仪概念

X射线测厚仪工作原理、结构特性:   X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度.    适用范围:生产铝板、铜板

X射线荧光光谱的概念

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

X射线显微镜的简介

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线显微镜的定义

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线显微镜原理

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线显微镜的光源的介绍

  三类X 射线光源:实验室X 射线光源(X 射线管)、直线加速器和同步辐射装置。同步辐射是既近平行又高强度,且波长可调而成为最理想的光源。未见有将直线加速器用于X 射线显微镜,实验室光源有使用的,但不能用焦点在10 mm×1 mm 左右的封闭X 射线管,可以用高功率的旋转阳极X 射线管。另外,可用

磁X射线显微镜的相关介绍

  同步辐射中所含的辐射均是偏振光,可以是线偏振光,也可以是椭圆或圆偏振光,X 射线也不例外。如果待测物质具有磁性,则具有不成对电子,具有电子自旋磁矩和轨道磁矩。磁矩与不同方向的偏振光的作用是不同的,如用不同方向的圆( 线) 偏振光照射磁性材料,可以得到不同的吸收谱,该性质称圆( 线) 二色性。  

X射线显微镜的全息显微术

  已经知道,像是依靠吸收衬度( 光的振幅)或位相衬度一种信息来显现的。而所谓全息,是指同时含有振幅与位相两种信息。这是Gabor在1948 年提出的。由于记录介质实际可记录的信息只能是光强,也即振幅,故需将位相信息转换成强度来记录。把光照射到试样上,试样以球面波形式将其散射,如有另一束已知振幅与位

X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有