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芯片毁于噪声:FinFET使噪声效应叠加

FinFET技术已经成为工艺尺寸继续减小的主要动力。“在可预见的未来,极低的工作电压与漏电流使得FinFET工艺成为CMOS工艺的标准架构,” ANSYS应用工程高级总监Arvind Shanmugavel说道,“但上述优点是有代价的—电源噪声问题变得突出。一方面,10纳米或7纳米的FinFET器件在供电电压(Vsupply)为500mV时也能可靠地工作;另一方面,门限电压(Vt)并没有跟随工艺节点前进而成比例下降。这样一来,电压容限(Vsupply - Vt)急剧减少,设计工程师需要特别注意电源噪声变化。”平面工艺与FinFET(右)比较 FinFET工艺独有的特性带来了更多的麻烦。“FinFET器件温度更高,因此白噪声会增加,” Cadence电源签核(signoff)产品市场总监Jerry Zhao说,“FinFET器件的三维鳍型结构易聚集热量,这些热量会沿垂直方向传导到鳍型结构上面的走线层。温度升高增加......阅读全文

芯片毁于噪声:环境噪声

  上次说到FinFET噪声,这次来聊一聊环境噪声。与环境相关的噪声源于附近数字电路的开关或电源电压的波动(由于耗电大的器件动作可引起电源波动)。  “新技术发展使得晶体管集成密度不断提高,通信速率亦不断提高,环境噪声也相应增大了。” Synopsys的Brain Chen说道,“设