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X 射线荧光制样方法浅谈(一)

导言: 第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF版面的专家ljzllj先生就 XRF制样的方法与大家一起交流切磋。ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。对XRF的仪器比较熟悉。欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XRF方面的高手前来与ljzllj先生交流切磋~ X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过 程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变 化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。 目录: 一、概......阅读全文

X 射线荧光制样方法浅谈(二)

一、概论 X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过 程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布

X 射线荧光制样方法浅谈(一)

导言: 第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF版面的专家ljzllj先生就 XRF制样的方法与大家一起交流切磋。ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。对XRF的仪器比较熟悉。欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XR

X荧光制样之液体样品制备

  上一章节讲解完固体样品制备大家应该都会有所了解了,下面给大家讲一下液体样品的制备要求。   液体样品可直接放在液体样品杯中进行直接测定,所用液体体积尽可能达到无限厚,体积应保持恒定。样品杯由不锈钢、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度为几个微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作为支撑保护。   液体样

X射线荧光光谱仪无标样分析方法

  对于以固体进样为主的X射线荧光分析技术,要获得一套高质量的固体标准样品有一定难度,限制了X射线荧光分析的应用范围。  而X射线荧光光谱无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术,其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。它的基本思路是:由仪器制造商测量标准样品,储存强度和工作曲线,然后将这些数据

X射线荧光光谱仪制样要求

X射线荧光光谱仪制样要求:   样品的尺寸(直径x高)50x 40mm,重量400g。   1、定量分析   定量分析是对样品中元素进行准确定量测定。定量分析需要一组标准样品做参考。常规定量分析一般需要5个以上的标准样品才能建立较可靠的工作曲线。   常规X射线荧光光谱定量分析对标准样品的基本要求:

X射线荧光分析方法的简介

  X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时,除发生散射现象和吸收现象外,还能产生次级X射线,即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此,根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分;再根据该荧光X射线的强度,还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展,6

X射线荧光分析方法的优点介绍

  ①分析的元素范围广,除少数轻元素外,周期表中几乎其他所有的元素都能进行分析。随着仪器的改进,分析元素已经扩展到F,O,C等轻元素。  ②荧光X射线谱简单,谱线干扰少,对于化学性质极其相似的元素,如稀土、锆铪、铂系等,不需经过复杂的分离,就能成功地完成分析工作。  ③分析的浓度范围较宽,从常量组分

X射线荧光光谱仪X射线防护系统出现故障可以怎么样解决

 X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分

质子激发X射线荧光分析的X 射线谱

  在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽

X荧光光谱仪制样方法

 一、X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性,所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。  X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度