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2012年度北京市电子显微学年会在京顺利召开

2012年12月17日,北京天文馆,2012年度北京市电子显微学年会隆重召开,年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。 旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自科研院所、高等院校、仪器耗材厂商的300余位专家学者、技术工程师,参加了此次年会,共同探讨了电镜产品的最新进展和相关应用技术。年会现场北京服装学院 张大省教授 北京服装学院张大省教授作了《服装学院电镜技术在服装研究中应用现状及其展望》的报告。 张教授介绍了服装材料纤维的分类。依据原料的来源,纤维分为天然纤维、化学纤维(人造有机纤维)、人造无机纤维(由无机原料制取)。展示了众多纤维的显微照片:羽绒的显微结构,蜘蛛丝的显微结构;世界上最细的超细纤维的结构;防弹衣用无纬布;高强高模聚乙烯纤维;静电纺丝纤维;各种高分子纤维材料的电池隔膜......阅读全文

新技术,真应用——第10次华北五省电镜研讨会的饕餮盛宴

  分析测试百科网讯 2018年7月22日,第十次华北五省市电子显微学研讨会及2018年全国实验室协作服务交流会在山东省烟台市举行。本次会议由华北五省电子显微镜学会主办,北京理化分析测试技术学会协办。此次会议旨在推动华北五省市电子显微分析技术的发展,促进电子显微分析工作者的学术交流,加强实验室资源共

2016北京市电子显微学年会召开 探讨电镜技术应用新进展

  分析测试百科网讯 2016年12月20日,2016年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开,会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自电子显微学领域相关单位的200余人参加了此次会议。2016年度北京市电子显微学

从样品制备到实际操作,手把手教你拍出高质量TEM照片

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)具有很高的分辨率和放大倍数高,广泛应用于材料科学、地球科学、医学和生命科学等领域。透射电子显微镜结合不同的附件(X射线能谱分析(EDS)、电子能量损失谱(EELS)),可以同时提供形貌、成分、结构信息,它可以揭

第9次华北五省市电镜会在呼伦贝尔召开 新技术层出不穷

  分析测试百科网讯 2016年7月23日,由华北五省电子显微镜学会和北京理化分析测试技术学会组织的“第九次华北五省市电子显微学研讨会及2016年全国实验室协作服务交流会”在内蒙古呼伦贝尔市召开。会议囊括了透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜、激光共聚焦显微镜等在材料、生命科学、

2015北京市电子显微学研讨会报告集锦

  分析测试百科网讯 2015年7月18日,2015年度北京市电子显微学研讨会暨第十届全国实验室科学管理交流会在东北黑龙江省牡丹江市举办。本次会议由北京理化分析测试技术学会以及北京市电镜学会主办,旨在推动电子显微技术的进步和发展,提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平,促进电镜分析技术

金属和合金微观分析常用技术盘点

  一种金属或合金的性能取决于其本身的两个属性:一个是它的化学成分,另一个是它内部的组织结构。所以,对金属材料的成分和组织结构进行精确表征是金属材料研究的基本要求,也是实现性能控制的前提。材料分析的内容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、热性能分析、电性能分析等。本文就金属材料的形貌分析、物相分析

聚焦离子束系统知多少?

纳米科技是当今国际上的一个热点。纳米测量学在纳米科技中起着信息采集和分析的不可替代的重要作用,纳米加工是纳米尺度制造业的核心,发展纳米测量学和纳米加工的一个重要方法就是电子束,离子束技术。近年来发展起来的聚焦离子束纳米加工系统用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,结合扫描电子显微镜实时观察,开辟了从

2013年度北京电子显微学年会大会报告(一)

  2013年12月24日, 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开,会上,来自中科院、北京大学、北京工业大学、北京建筑大学、钢铁研究总院等多位专家学者带来了关于电镜在教学科研、纳米材料、生物医药、探伤等方面应用的精彩报告,科扬、FEI、蔡司、布鲁克、牛津

2011年度北京市电子显微学年会在国家图书馆成功举行

  报告题目:GL-69系列离子减薄仪的最新进展   报告人:钢铁研究总院钢拓冶金技术研究所李树强先生 钢铁研究总院钢拓冶金技术研究所 李树强 先生   在透射电子显微学的研究领域,样品制备技术是极为重要的环节。目前用离子减薄技术制备透射电镜的薄膜样品是最为理想的方法,主要有一下几个优

从原理到实践 如何拍出高质量TEM照片

作为材料研究人员,最关心的问题之一就是材料性能与微观结构之间的关系。透射电子显微镜自上个世纪三十年代发明以来,就一直为材料的结构和成分表证提供强有力的支持。废话不多说,咱们直奔主题吧,相信点进来看这篇文章的各位都是有一定电镜基础的童鞋,但是为了更好的理解透射电镜的操作和拍摄技巧,咱们还是不妨先回顾一

高分辨透射电镜的原理

  一、基本原理和特点  透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上(片状< 100 nm,颗粒< 2 um),电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

架起沟通的桥梁 看2019年全国电子显微学年会

  分析测试百科网讯 2019年10月17日,2019年全国电子显微学学术年会进入第二天。今天将由浙江大学张泽教授、中国学院大学徐涛研究员和上海大学张统一教授等多位国内外电子显微学领军人物为与会者带来精彩学术报告。分析测试百科网与中国电子显微镜学会共同为您带来精彩报导。大会现场浙江大学 张泽教授  

6款产品 精心之作,赛默飞之夜带您进入电镜的神奇领域

  分析测试百科网讯 在2019年全国电子显微学学术年会上,赛默飞为广大参会人员展示其最新产品、技术、解决方案和创新软件。在赛默飞之夜的晚宴上,赛默飞正式发布了Spectra 扫描/透射电子显微镜、Krios G4新一代冷冻电镜、Aquilos 2 新一代冷冻双束电镜等共计6款新品。晚宴发布会赛默飞

聚焦离子束(FIB)技术介绍

1.引言     随着纳米科技的发展,纳米尺度制造业发展迅速,而纳米加工就是纳米制造业的核心部分,纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束(FIB)技术利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,配合扫描电镜(SEM)等高倍数电子显

高分辨TEM答疑

  1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别?   XPS采样深度为2-5nm,我想知道EDS采样深度大约1um。  2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像,即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像?  原子分辨率STEM并不是HAADF的专利,ADF或明场探头也可以做到,只是可

2011年度北京市电子显微学研讨会日程安排公布

2011年度北京市电子显微学研讨会暨第八届全国实验室科学管理交流会   日程安排表(2011年7月15日—20日)   7月15日全天报到   7月16日上午时 间报告人单    位报   告   题 &

中国科学院连发两则2020年仪器集中采购公告!总价2.27亿

  分析测试百科网讯 6月19日,中国科学院连续发布两则2020年仪器设备部门集中采购项目公开招标公告,涉及高分辨等离子体质谱仪、超高分辨场发射扫描电子显微镜、四极杆-静电场轨道阱组合超高分辨质谱仪等,总金额22701.9万元(人民币)。  项目名称:中国科学院2020年仪器设备部门集中采购项目  

电子背散射衍射(EBSD)样品的两种有效制备方法

  扫描电子显微镜中电子背散射衍射技术已广泛地成为金属学家、陶瓷学家和地质学家分析显微结构及织构的强有力的工具。EBSD系统中自动花样分析技术的发展,加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成,从采集到的数据可绘制取向成像图OIM、极图和反极图,还可计算取向(差)分