2012年度北京市电子显微学年会在京顺利召开
2012年12月17日，北京天文馆，2012年度北京市电子显微学年会隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。 旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自科研院所、高等院校、仪器耗材厂商的300余位专家学者、技术工程师，参加了此次年会，共同探讨了电镜产品的最新进展和相关应用技术。年会现场北京服装学院 张大省教授 北京服装学院张大省教授作了《服装学院电镜技术在服装研究中应用现状及其展望》的报告。 张教授介绍了服装材料纤维的分类。依据原料的来源，纤维分为天然纤维、化学纤维（人造有机纤维）、人造无机纤维（由无机原料制取）。展示了众多纤维的显微照片：羽绒的显微结构，蜘蛛丝的显微结构；世界上最细的超细纤维的结构；防弹衣用无纬布；高强高模聚乙烯纤维；静电纺丝纤维；各种高分子纤维材料的电池隔膜......阅读全文
电解双喷减薄仪和离子减薄仪的区别
这么薄的铜片一般的手段已经很难做了，最简单的的方法是利用电解双喷减薄仪进行电解双喷减薄。这种方法常常用于TEM（透射电镜）试样的制备。TEM也需要这么薄的试样。你现在要是有这个仪器的话就好做了。我们学校有这仪器，只是我们没用过，一般都是老师把试样做好给我们用。希望对你有帮助。
电解双喷减薄仪和离子减薄仪的区别
这么薄的铜片一般的手段已经很难做了，最简单的的方法是利用电解双喷减薄仪进行电解双喷减薄。这种方法常常用于TEM（透射电镜）试样的制备。TEM也需要这么薄的试样。你现在要是有这个仪器的话就好做了。我们学校有这仪器，只是我们没用过，一般都是老师把试样做好给我们用。希望对你有帮助。
扫描电子显微镜看到的图像是怎么样的？
扫描电子显微镜看到的图像是黑灰白，就像黑白电视机，通过衬度对比突显出样品结构，所谓彩色都是软件加上去的伪彩色。这是由电子显微镜的工作原理决定的。扫描电子显微镜常用两种是透射电子显微镜和扫描电子显微镜。其镜筒和样品室都是密闭的真空环境，所谓光源是电子束。电子束通过电磁透镜发生汇聚，透射电镜是电子束穿透
第9次华北五省市电镜会在呼伦贝尔召开－新技术层出不穷
分析测试百科网讯 2016年7月23日，由华北五省电子显微镜学会和北京理化分析测试技术学会组织的“第九次华北五省市电子显微学研讨会及2016年全国实验室协作服务交流会”在内蒙古呼伦贝尔市召开。会议囊括了透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜、激光共聚焦显微镜等在材料、生命科学、
TEM制样离子轰击减薄法
离子轰击减薄法离子轰击减薄法多用于矿物、陶瓷、半导体及多相合金等。1. 将待观察的试样按预定取向切割成薄片,再经机械减薄抛光等过程预减薄至30-40μm的薄膜。2. 把薄膜钻取或切取成尺寸为2.5-3mm的小片。3. 装入离子轰击减薄装置进行离子轰击减薄和离子抛光。原理：在高真空中，两个相对的冷阴极
透射镜块状样品制备电解减薄方法
1．电解减薄方法 用于金属和合金试样的制备。（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚；（3）抛光研磨到约100μm厚；（4）冲成Ф3mm 的圆片；（5）选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔；（6）迅速取出减薄
关于透射电子显微镜测量样品的要求
1．透射电子显微镜测量样品要求—粉末样品基本要求 （1）单颗粉末尺寸最好小于1μm； （2）无磁性； （3）以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪； 2．透射电子显微镜测量样品要求—块状样品基本要求 （1）需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；
透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)测试常见问题5问
1.在透射电镜上观察到纳米晶,在纳米晶的周围有非晶态的区域,我想对非晶态的区域升温或者给予一定的电压(电流),使其发生变化,原位观察起变化情况？用原子力显微镜应该可以解决这个问题。2.Mg-Al合金怎么做SEM，二次电子的？这种样品的正确测法应该是先抛光，再腐蚀。若有蒸发现象，可以在样品表面渡上一层
透射电镜试样的制备
粉末样品的制备 用超声波分散器将需要观察的粉末在溶液中分散成悬浮液。用滴管滴几滴在覆盖有碳加强火棉胶支持膜的电镜铜网上。待其干燥后，再蒸上一层碳膜，即成为电镜观察用的粉末样品。 薄膜样品的制备 块状材料是通过减薄的方法制备成对电子束透明的薄膜样品。制备薄膜一般有以下步骤： （1）切取厚度
电子显微镜看到的图像是怎么样的？
我毕业之前在北京电子显微镜中心，电子显微镜常用的有两种：扫描电镜（SEM），透射电镜（TEM）。另外还有扫描隧道显微镜，原子力显微镜。为什么用电子显微镜，电子显微镜不是像电子计算机的那种电气化，而是用电子打在样品上，用电子束成像。这主要是因为电子的波长小，光的波长在400到700纳米量级，而电子的波
离子减薄方法制备块状样品的介绍
用于陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。块状样制备 （1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片； （2）均匀薄片用石蜡粘贴于超声波切割机样品座上的载玻片上； （3）用超声波切割机冲成Ф3mm 的圆片； （4）用金刚砂纸机械研磨到约100μm厚； （5）用磨坑仪在圆片中央部位磨成
透射镜块状样品制备离子减薄方法介绍
用于陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。块状样制备（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）均匀薄片用石蜡粘贴于超声波切割机样品座上的载玻片上；（3）用超声波切割机冲成Ф3mm 的圆片；（4）用金刚砂纸机械研磨到约100μm厚；（5）用磨坑仪在圆片中央部位磨成一个凹坑，凹坑深度约
透射电子显微镜
透射电子显微镜，简称透射电镜，英文名为Transmission Electron Microscope，缩写为TEM，是一种利用高速运动的电子束作为光源，穿透固体样品，再经过电磁透镜成像的显微镜。透射电镜由电子光学系统、观察记录系统、真空和冷却系统以及电源系统等组成。电子光学系统又可分为照明系统和成
6款产品－精心之作，赛默飞之夜带您进入电镜的神奇领域
分析测试百科网讯 在2019年全国电子显微学学术年会上，赛默飞为广大参会人员展示其最新产品、技术、解决方案和创新软件。在赛默飞之夜的晚宴上，赛默飞正式发布了Spectra 扫描/透射电子显微镜、Krios G4新一代冷冻电镜、Aquilos 2 新一代冷冻双束电镜等共计6款新品。晚宴发布会赛默飞
透射电镜的样品制备
透射电镜的样品制备是一项较复杂的技术，它对能否得到好的ＴＥＭ像或衍射谱是至关重要的．透射电镜是利用样品对入射电子的散射能力的差异而形成衬度的。 电子束穿透固体样品的能力主要取决加速电压，样品的厚度以及物质的原子序数．一般来说，加速电压愈高，原子序数愈低，电子束可穿透的样品厚度就愈大．对于１００～
关于电解减薄方法制备块状样品的介绍
用于金属和合金试样的制备。 （1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片； （2）用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚； （3）抛光研磨到约100μm厚； （4）冲成Ф3mm 的圆片； （5）选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔； （6）迅速取出
2015北京市电子显微学研讨会报告集锦
分析测试百科网讯 2015年7月18日，2015年度北京市电子显微学研讨会暨第十届全国实验室科学管理交流会在东北黑龙江省牡丹江市举办。本次会议由北京理化分析测试技术学会以及北京市电镜学会主办，旨在推动电子显微技术的进步和发展，提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平，促进电镜分析技术
生物显微镜的扫描电镜电子枪
生物显微镜的扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜中那样高，通常设定在1—50kv。电子枪的阴极可以是热钨丝型的，但近年来已更多采用IjB6阴极，部分电镜上采用场发射枪，甚至肖特基热场发射枪。以热钨丝阴极为例，在前述加速电压下电子发射所形成的光源zui小交叉截面区直径为10一50ym。为了保证较好的分辨率
冷冻细胞精准减薄技术路线：细胞原位研究新进展
细胞内部的纳米机器与超微结构是参与生命活动的基本单元，通过彼此之间的紧密协作执行特定的生理功能。在细胞原位研究这些复杂精密的纳米结构的组装与功能是生命科学的前沿热点。冷冻电子断层扫描成像（cryo-ET）是目前主要的原位结构解析技术，但受电子束穿透能力限制，需要利用聚焦离子束将细胞和组织样品减薄
－2012年度北京市电子显微学年会在京顺利召开
2012年12月17日，北京天文馆，2012年度北京市电子显微学年会隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。 旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来
透射电镜(TEM)、扫面电镜(SEM)测试常见问题20问
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少? TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。 2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？ 在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中
扫描电镜的操作步骤及日常维护
扫描电镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。 扫描电镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构，主要用于观察固体表面的形貌，也能与X射线衍射仪或电子能谱仪相结合，构成电子微探针，用于物质成分分析；发射式电子显微镜用于自发射电子表
高分辨透射电镜的原理
一、基本原理和特点 透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体
高分辨透射电镜的原理
一、基本原理和特点 透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不
2025深圳13届国际减薄机展「半导体展会」
官网」2025深圳13届国际半导体技术展「半导体展会」展会时间：2025年4月9日-11日论坛时间：2025年4月9日-11日举办地点深圳福田会展中心 (深圳市福田中心区福华三路)展会规模： 面积10万平米，展商1800余家，展位3600多个，观众近10万人次展会报名：136 （李先生）中间四位数：
透射样品用双喷还是离子减薄比较好
而用离子减薄则不存在这样一个问题当然也可以用电解双喷 ：只是有些合金的耐腐蚀性能很差，电解双喷的时候不易值得较好的样品，薄区很少，离子减薄也会比较困难，比较容易获得较好的薄区。其实，对于不能用电解双喷的样品
离子减薄树脂与G1胶有什么不同
G1胶和离子减薄专用树脂只是生产厂家和配方不同，使用情况基本类似，但是G1胶耐电子速要比610胶好一些。
透射样品用双喷还是离子减薄比较好
而用离子减薄则不存在这样一个问题当然也可以用电解双喷 ：只是有些合金的耐腐蚀性能很差，电解双喷的时候不易值得较好的样品，薄区很少，离子减薄也会比较困难，比较容易获得较好的薄区。其实，对于不能用电解双喷的样品
透射镜块状样品制备离子减薄方法注意事项
注意事项： （1）凹坑过程试样需要精确的对中，先粗磨后细磨抛光，磨轮负载要适中，否则试样易破碎； （2）凹坑完毕后，对凹坑仪的磨轮和转轴要清洗干净； （3）凹坑完毕的试样需放在丙酮中浸泡、清洗和凉干； （4）进行离子减薄的试样在装上样品台和从样品台取下这二过程，需要非常的小心和细致的动作，因
透射样品用双喷还是离子减薄比较好
而用离子减薄则不存在这样一个问题当然也可以用电解双喷 ：只是有些合金的耐腐蚀性能很差，电解双喷的时候不易值得较好的样品，薄区很少，离子减薄也会比较困难，比较容易获得较好的薄区。其实，对于不能用电解双喷的样品