【科普】表面形貌测量大全

①机械探针式测量方法: 探针式轮廓仪测量范围大,测量精度高,但它是一种点扫描测量,测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究最充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面,当探针沿被测表面移动时,被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动,其移动量由与探针组合在一起的位移传感器测量,所测数据经适当的处理就得到了被测表面的轮廓。机械探针是接触式测量,易损伤被测表面; ②光学探针式测量方法: 光学探针式测量方法原理上类似于机械探针式测量方法,只不过探针是聚集光束。根据采用的光学原理不同,光学探针可分为几何光学原理型和物理光学原理型两种。几何光学探针利用像面共轭特性来检测表面形貌,,有共焦显微镜和离焦检测两种方法:物理光学探针利用干涉原理通过测量程差来检测表面形貌,有外差干涉和微分干涉两种方法。光学探针是非接触测量,,但需要一套高精度的调焦系统。 ③干涉显微测量方法:&nb......阅读全文

【科普】表面形貌测量大全

  ①机械探针式测量方法:   探针式轮廓仪测量范围大,测量精度高,但它是一种点扫描测量,测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究最充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面,当探针沿被测表面移动时,被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动,其移动量由与探针组合在一起的位移传感器测量,所

表面形貌测量仪应用在手机外壳的检测

  表面形貌测量仪应用在手机外壳的检测   表面形貌测量仪是一种非接触式光学3D轮廓仪,具有测量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度测量功能,还可以提供两种类型的膜厚测量,测量较薄的涂层被证实为难度更高。   采用这种新型方法,可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等

“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”专家评审阶段

  分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步,2021年第一期ANTOP奖正式起航。经过2020年新冠疫情的洗礼,我国分析测试行业不仅经受住了考验,同时也得到了长足的发展。在这一片欣欣向荣环境下,由优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”Antop奖已经进入大众评审阶段。  奖项主

“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”进入评审阶段

  分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步,2021年第一期ANTOP奖正式起航。在万物复苏之际,由优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”Antop奖已经进入大众评审阶段。  奖项主体:优尼康科技有限公司  奖项名称:薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄膜厚度与表面形

“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”获得Antop奖

  分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步,2021年第一期ANTOP奖正式起航。在历经网友投票和专家评审后,优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”正式获得2021年第一期ANTOP奖。  奖项主体:优尼康科技有限公司  奖项名称:薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄

表面三维形貌分析仪

  表面三维形貌分析仪是一种用于化学领域的分析仪器,于2017年1月1日启用。  技术指标  1、分辨率:二维分辨率要求达到0.12微米。垂直分辨率0.01微米。 2、激光光源:采用405nm短波长半导体激光,寿命≥10000小时;双光路共焦系统。 3、放大倍数108倍——17000倍。 4、精度要

表面形貌和成分信息同时展现

表面形貌和成分信息同时展现  背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom(飞纳)采用4分割半导体背散射电子探测器,为您提供两种成像模式,  模式之间可迅速切换:  成份模式:同时给出样品表面形貌与成份信息,不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨。  形貌模式:去除成份信息,样品

阴极荧光可以分析物质表面形貌吗

阴极荧光可以分析物质表面形貌吗利用阴极荧光谱,可以在进行表面形貌分析的同时,研究半导体材料的发光特性,尤其适合...光致发光光谱(PL谱)的激发源是能量较大的光子,可以反映测试物质的内部结构

SEM接观察固体表面的形貌

要用于直接观察固体表面的形貌,其原理如图2扫描电子显微镜的原理图所示。先利用电子透镜将一个电子束斑缩小到几十埃,用偏转系统使电子束在样品面上作光栅扫描。电子束在它所到之处激发出次级电子,经探测器收集后成为信号,调制一个同步扫描的显像管的亮度,显示出图像。样品表面上的凹凸不平使某些局部朝向次级电子探测

SEM表面形貌和成分信息同时展现

表面形貌和成分信息同时展现  背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom(飞纳)采用4分割半导体背散射电子探测器,为您提供两种成像模式,  模式之间可迅速切换:  成份模式:同时给出样品表面形貌与成份信息,不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨。  形貌模式:去除成份信息,样品

实验室样品形貌测量技术汇总!

①机械探针式测量方法:    探针式轮廓仪测量范围大,测量精度高,但它是一种点扫描测量,测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究zui充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面,当探针沿被测表面移动时,被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动,其移动量由与探针组合在一起的位移传感器测量,

从试样表面形貌获得多方面资料

⑨进行动态观察。在扫描电子显微镜中,成象的信息主要是电子信息,根据近代的电子工业技术水平,即使高速变化的电子信息,也能毫不困难的及时接收、处理和储存,故可进行一些动态过程的观察,如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件,则可以通过电视装置,观察相变、断烈等动态的变化过程。  ⑩从试样

如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”?

扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号,对样品进行分析研究。 扫描电镜在表征样品时,受诸多参数的影响,不同类型样品应选用合适的参数,才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下,电子束

3D形貌微结构测量用什么仪器

一般都是测厚仪,大成精密3D轮廓测量及分析仪的设计与实现,为微观三维形貌和表面特征分析提供可靠依据,降低了劳动强度,提髙了生产效率。多种功能使得测量更方便准确。一键式测量及分析,并自动生成测试报告后,不但节约了大量资金,易于维护,方便工人操作;又提高了产品的质量,提升效率,是现代化常用的检测设备。

形貌分析

形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有:光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmissi

屏显摩擦磨损试验机试验表面形貌的分析系列

 屏显摩擦磨损试验机进行试验的时候,由于摩擦现象发生在表面层,表层组织结构的变化是研究摩擦磨损规律和机理的关键,现代表面测试技术已先后用来研究摩擦表面的各种现象。小编首先和大家了解一下*种分析方法——摩擦磨损表面形貌的分析  摩擦过程中表面形貌的变化可以采用表面轮廓仪和电子显微镜来进行分析。  表面

扫描电子显微镜样品的处理及表面形貌

对待扫描样品进行什么处理?  对样品表面进行导电处理,常用导电处理法包括:真空镀膜法和离子溅射镀膜法。本次采用离子溅射镀膜法。即在低真空状态下,在阴极与阳极两个电极之间加上几百至上千伏的直流电压时,电极之间会产生辉光放电。在放电的过程中,气体分子被电离成带正电的阳离子和带负电的电子,并在电场的作用下

原子力显微镜扫描样品表面形貌,通过什么方式驱动探针

原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表

材料形貌分析

相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有:光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmis

表面张力仪测量考虑因素表面效应

  1.表面张力仪表面张力的测量    将铂金环插在吊杆臂上,把被测溶液倒在玻璃杯中约20—25mm,将此玻璃杯放在样品座的中间位置上,旋转螺母B,铂金环便与座一起上升到溶液的表面位置上,且使臂上的指针与上的红线重合,旋转蜗轮把手M来增加钢丝的扭力,当液体的表面被铂金环拉得很紧时,指针L始终保持与红

动态表面张力的测量

表面活性剂可起到洗涤、乳化、发泡和消泡、湿润、浸透和分散等多种作用,被广泛应用于化工产品和生产过程中。其作用原理主要是基于调节(降低)体系的表面/界面张力。当一新的表面或界面形成时,表面活性剂只有从体相扩散到表/界面时,才能起到其作用,而这一过程需要时间,其长短从几毫秒到几秒甚至几分,取决于体系本身

表面轮廓仪测量原理

  光学轮廓仪是确定轧材表面特征缺陷的一种非常有用的工具。传统意义上,光学轮廓仪被用来测量样品的表面特性。但是,在测量过程中,所测量的样品需保持在静止的状态下,如果样品不稳定或者处于运动状态则会引起图像混乱模糊、数据不完整或者数据丢失等现象。  然而,很多轧材都需要确定其处于运动状态时的形貌特征,了

扫描隧道显微镜发明前微观表面形貌检测技术有哪几种

扫描隧道显微镜发明前微观表面形貌检测技术有光成像和对试件表面进行扫描。1、扫描隧道显微镜是用来检测微观形貌的,在其发明以前,就有几种微观形貌检测技术了,只是分辨率较低。表面微观形貌的测量,从原理上可以分为两类。2、第一类是光成像,包括光折射放大成像和光干涉成像,光折射放大成像检测方法的代表是光学显微

nsplorion传感器涂层与蛋白质表面形貌等相互作用的影响

   支持的脂质双层(SLBs)已被证明是研究蛋白质、肽和纳米颗粒与生物膜相互作用的有价值的模型系统。固体衬底的物理化学性质(例如,形貌、涂层)可能会影响负载型磷脂双层的形成和性质,从而影响随后与生物分子或纳米粒子的相互作用。       这里,我们用具有耗散监测和NPS技术石英晶体微量天平分析支持

什么是动态表面张力测量

表面张力是一个有明确释义的专有名词,而动态表面张力是没有明确释义的非专有名词。各个行业对动态表面张力的理解和需求都有不同,有的是表面张力随时间的变化、有的是表面张力随气泡压力的变化、有的是表面张力随浓度的变化等等。比如石油行业大多采用以下第2种,偶尔采用以下第1种:1、动态表面张力可以理解为随时间变

测量人体皮肤表面自由能

应用领域:医疗/卫生发布时间:2016-07-12检测样品:皮肤检测项目:表面能参考标准:化妆品,接触角,表面自由能,润湿性浏览次数:65次下载次数:1 次方案优势早期只有援手足够的时候化妆品润湿性可被测量。当产品应用的时候开始测试得到结果。它在预测皮肤润湿性及不同表面活性剂相互作用带来的影响时有用

白光干涉式表面测量仪

  白光干涉式表面测量仪是一种用于机械工程领域的计量仪器,于2011年1月1日启用。  1、技术指标  白光干涉式表面测量仪:(1)高度测量范围为 10nm ---200μm;(2)表面测量范围为 0.1×0.1mm;(3)垂直分辨率可以达1nm。 。  2、主要功能  干涉仪是利用干涉原理测量光程

什么是动态表面张力测量?

表面张力是一个有明确释义的专有名词,而动态表面张力是没有明确释义的非专有名词。各个行业对动态表面张力的理解和需求都有不同,有的是表面张力随时间的变化、有的是表面张力随气泡压力的变化、有的是表面张力随浓度的变化等等。比如石油行业大多采用以下第2种,偶尔采用以下第1种:1、动态表面张力可以理解为随时间变

什么是动态表面张力测量?

表面张力是一个有明确释义的专有名词,而动态表面张力是没有明确释义的非专有名词。各个行业对动态表面张力的理解和需求都有不同,有的是表面张力随时间的变化、有的是表面张力随气泡压力的变化、有的是表面张力随浓度的变化等等。比如石油行业大多采用以下第2种,偶尔采用以下第1种:1、动态表面张力可以理解为随时间变