“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”获得Antop奖
分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步，2021年第一期ANTOP奖正式起航。在历经网友投票和专家评审后，优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”正式获得2021年第一期ANTOP奖。 奖项主体：优尼康科技有限公司 奖项名称：薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者 获奖理由： 优尼康科技有限公司自2012年成立，一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域，为半导体、面板、LED、消费电子、生物医疗等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。多年的耕耘，让优尼康在国内桌面式膜厚与表面形貌测量设备的市场占有率上遥遥领先国内其他企业。现优尼康已服务近千家客户，为45个行业的用户提供数百种应用及工艺方面的支持，以强大的研发能力和丰富的经验，在设备设计和集成上也帮助客户解决诸多行业特殊应用问题。......阅读全文
“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”获得Antop奖
分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步，2021年第一期ANTOP奖正式起航。在历经网友投票和专家评审后，优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”正式获得2021年第一期ANTOP奖。 奖项主体：优尼康科技有限公司 奖项名称：薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄
“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”进入评审阶段
分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步，2021年第一期ANTOP奖正式起航。在万物复苏之际，由优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”Antop奖已经进入大众评审阶段。 奖项主体：优尼康科技有限公司 奖项名称：薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄膜厚度与表面形
“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”专家评审阶段
分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步，2021年第一期ANTOP奖正式起航。经过2020年新冠疫情的洗礼，我国分析测试行业不仅经受住了考验，同时也得到了长足的发展。在这一片欣欣向荣环境下，由优尼康申报的“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”Antop奖已经进入大众评审阶段。 奖项主
“独”得之见，优尼康携“明星”亮相BCEIA展会
分析测试百科网讯 在第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会上，优尼康科技有限公司（以下简称“优尼康”）展出了一系列具有代表性的膜厚仪、光学轮廓仪等产品。分析测试百科网作为大会支持媒体，全程跟踪报道。 优尼康现场展台 优尼康成立于2012年，一直潜心专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域，为半导体
表面电阻与薄膜厚度的关系
一般来说，本身这个薄膜什么电阻都是固定的，和厚度无关。 但是当薄膜表面有水分子时，表面电阻会下降，通常为了降低薄膜的表面电阻，都是采用加入抗静电剂，薄膜厚度大，析出慢，因而电阻值会大点，但是也是在11次方这个样子，好的话，能达到8次方。 如果是加导电，3-7次方。 外涂的7-10次方
2021第一期ANTOP奖揭幕－8款产品摘得大奖！
分析测试百科网讯 入夏才几日，新晴已不禁。时光飞转，转眼间，2021已将近过半。在一片欣欣向荣之际，海光申报的“快速溶剂萃取技术品质创新奖”，安东帕申报的“智能真密度仪领航者奖”、“智能化多功能微波化学反应平台”，仪电科仪申报的“全自动滴定仪卓越品质奖”，雷尼绍申报的“最受好评共焦显微拉曼光谱仪
薄膜测厚仪－塑料薄片厚度测量仪－薄膜厚度仪
薄膜测厚仪 塑料薄片厚度测量仪 薄膜厚度仪型号：LT/CHY-C2薄膜测厚仪/薄膜厚度仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块
【科普】表面形貌测量大全
①机械探针式测量方法： 探针式轮廓仪测量范围大，测量精度高，但它是一种点扫描测量，测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究最充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面，当探针沿被测表面移动时，被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动，其移动量由与探针组合在一起的位移传感器测量，所
高精薄膜厚度测厚仪薄膜企业必备仪器
薄膜测厚仪中的高精薄膜厚度测厚仪的适用范围很广，可以测量的塑料、金属、涂层材料等多种材料的厚度，是我们设计制作物品的测量工具，帮助我们判断物体的质量是否合格，而且还能帮助我们节约物体设计制作成本，可以说购买了高精度薄膜厚度测厚仪就是提高了物体设计制作的质量。 高精薄膜厚度测厚仪 济南辰驰
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统
NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随膜厚的不同而变化，
薄膜厚度检测仪器如何选择？
薄膜厚度检测仪器，顾名思义是是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。厚度的大小影响着产品整体的拉伸强度、抗冲击性、阻隔性等综合的物理特性，因此是生产厂家不可忽视的重点监测指标。企业如何选
薄膜应力大小与厚度有关吗
薄膜引力大小，一个电视和后头有相关的越厚的薄膜应力应该越大，这是一个基本的常识。
薄膜应力大小与厚度有关吗
薄膜引力大小，一个电视和后头有相关的越厚的薄膜应力应该越大，这是一个基本的常识。
涂层测厚仪可进行薄膜厚度测量
涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。 可应用于 电镀层 ，油漆层，搪瓷层，铝瓦，铜瓦，巴氏合金瓦，磷化层，纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构的附着物的厚度测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化
GB/T6672－薄膜测厚仪－薄膜厚度测量仪
Labthink兰光CHY-C2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、
表面形貌和成分信息同时展现
表面形貌和成分信息同时展现 背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用4分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式， 模式之间可迅速切换： 成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨。 形貌模式：去除成份信息，样品
SEM接观察固体表面的形貌
要用于直接观察固体表面的形貌,其原理如图2扫描电子显微镜的原理图所示。先利用电子透镜将一个电子束斑缩小到几十埃，用偏转系统使电子束在样品面上作光栅扫描。电子束在它所到之处激发出次级电子，经探测器收集后成为信号，调制一个同步扫描的显像管的亮度，显示出图像。样品表面上的凹凸不平使某些局部朝向次级电子探测
阴极荧光可以分析物质表面形貌吗
阴极荧光可以分析物质表面形貌吗利用阴极荧光谱,可以在进行表面形貌分析的同时,研究半导体材料的发光特性,尤其适合...光致发光光谱(PL谱)的激发源是能量较大的光子,可以反映测试物质的内部结构
表面三维形貌分析仪
表面三维形貌分析仪是一种用于化学领域的分析仪器，于2017年1月1日启用。 技术指标 1、分辨率：二维分辨率要求达到0.12微米。垂直分辨率0.01微米。 2、激光光源：采用405nm短波长半导体激光,寿命≥10000小时；双光路共焦系统。 3、放大倍数108倍——17000倍。 4、精度要
采购薄膜厚度检测仪器如何选择？
薄膜厚度检测仪器，顾名思义是是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。厚度的大小影响着产品整体的拉伸强度、抗冲击性、阻隔性等综合的物理特性，因此是生产厂家不可忽视的重点监测指标。企业如何选
塑料薄膜厚度测量简要操作步骤
试验样品：普通PE塑料膜试验仪器：济南兰光自主研发的测厚仪型号C640，厚度测试采用接触式测试方法试验开始：1.首先仪器需通电预热30分钟，清洁测量头和下砧铁。2.取宽100mm、无褶皱和其他缺陷的试样放在测试台上。3.设置试测量参数，开始试验。4.仪器自动计算试样结果。
SEM表面形貌和成分信息同时展现
表面形貌和成分信息同时展现 背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用4分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式， 模式之间可迅速切换： 成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨。 形貌模式：去除成份信息，样品
金属表面漆膜厚度检测方法
金属表面漆膜的厚度也会直接影响金属表面漆膜附着力降低，金属表面漆膜的厚度过厚或过薄都是不可以的； 为了方便管控金属表面漆膜厚度，我们可以使用林上漆膜仪来检测并管控。 漆膜仪也称涂层测厚仪，是检测金属表面油漆厚度的专用仪器。 像汽车等的覆盖面基本都有油漆涂层，用漆膜测厚仪检
薄膜如何降低表面应力
在真空镀膜机镀制膜层后，薄膜表面会存在一种有叫表面应力的力，这种力在很多物质上都存在，所以薄膜也不例外，但由于薄膜的厚度非常薄膜，所以能够承受的表面应力是极度小的。 其实薄膜的表面应力就是对其拉伸或弯曲时因改变薄膜表面的面积从而产生的能量，而这种能量超过了薄膜能承受的范围，就会引起膜层裂开。另以为对
薄膜如何降低表面应力
在真空镀膜机镀制膜层后，薄膜表面会存在一种有叫表面应力的力，这种力在很多物质上都存在，所以薄膜也不例外，但由于薄膜的厚度非常薄膜，所以能够承受的表面应力是极度小的。 其实薄膜的表面应力就是对其拉伸或弯曲时因改变薄膜表面的面积从而产生的能量，而这种能量超过了薄膜能承受的范围，就会引起膜层裂开。另以为对
薄膜厚度对氧气透过量的影响研究
摘要：薄膜的厚度是影响氧气透过量的重要因素。本文分别测试了厚度为10 μm、12 μm、15 μm、25 μm的同种材质的薄膜材料的氧气透过量，对比了该材质薄膜的氧气透过量随相应厚度变化情况，并介绍了试验原理、相关压差气体渗透仪的参数及适用范围、试验过程等内容，为材料氧气透过量的研究及测试提
从试样表面形貌获得多方面资料
⑨进行动态观察。在扫描电子显微镜中，成象的信息主要是电子信息，根据近代的电子工业技术水平，即使高速变化的电子信息，也能毫不困难的及时接收、处理和储存，故可进行一些动态过程的观察，如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，则可以通过电视装置，观察相变、断烈等动态的变化过程。 ⑩从试样
如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”？
扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号，对样品进行分析研究。 扫描电镜在表征样品时，受诸多参数的影响，不同类型样品应选用合适的参数，才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下，电子束
探针式台阶仪的功能及应用
探针式轮廓仪（台阶仪）主要用于材料的结构及表面解析，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。同时按照应用的领域不同，要求不同，台阶仪的型号也多种多样，下面以我们优尼康提供的一款型号为P-17的台阶仪为例，简单介绍下这款仪器的功能以及应用，以供大家参考了解
薄膜厚度测量仪原理和薄膜测厚测量仪应用介绍
国际标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到分析化学、长度和角度测量、罐、听、管、无损检测、涂料和清漆、非金属矿。 在中国标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到工业技术玻璃、材料防护、包装材料与容器、金属理化性能试验方法综合、金属无损检验方法、长度计量、涂料、建材原料矿。薄膜厚度测量仪 济南三泉中石实验仪器有限