能谱仪
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。......阅读全文
能谱仪
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
能谱仪
原理编辑各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一 [1] 特点来进行成分分析的。性能指标编辑固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好检出角：理论上该角度越大越好探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步
什么是能谱仪？能谱仪的原理简介
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。 原理 各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子
能谱仪用途
简单说，就是根据射线粒子的能量，来分析物质的成份、含量。如γ射线能谱仪主要根据射线的能量判定核素，并分析放射性核素含量，在环境检测、辐射防护、反应堆监控等广泛应用。
能谱仪（EDS）
能谱仪：EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是电子显微镜（扫描电镜、透射电镜）的重要附属配套仪器，结合电子显微镜，能够在1-3分钟之内对材料的微观区域的元素分布进行定性定量分析。 原理：利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析。 EDS与WDS(Wave D
能谱仪EDS
能谱仪EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是电子显微镜（扫描电镜、透射电镜）的重要附属配套仪器，结合电子显微镜，能够在1-3分钟之内对材料的微观区域的元素分布进行定性定量分析。 原理：利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析。 与WDS(Wave Dis
电子能谱仪概述
电子能谱仪：对固体表面进行微区成份分析及元素分布。可应用于半导体材料、冶金、地质等部门。X光光电子能谱仪：对固体进行化学结构测定、元素分析、价态分析。可应用于催化、高分子、腐蚀冶金、半导体材料等部门。 电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器
四道γ能谱仪
四道γ能谱仪是放射性矿产找矿勘探中常用的γ谱仪之一，目的是一次同时测量矿石、土壤中铀、钍、钾的含量。有地面四道γ能谱仪和四道γ能谱测井仪等。为了说明原理，先从基本的单道γ能谱仪的分析器说起。入射不同能量的γ射线，在探测器中产生不同幅度的脉冲电信号输出；经过线性放大器放大之后，输入到单道脉冲幅度分析器
什么是能谱仪
能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜使用。包括以下几指标：探头：一般为Si(Li)锂硅半导体探头探测面积：几平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV探测元素范围：Be4～U92使用范围：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；2、金属材料的相分
能谱仪测试原理
当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉
能谱仪是什么？能谱仪与波谱议相比有哪些优点？
波谱仪全称为波长分散谱仪(WDS)。在电子探针中，X射线是由样品表面以下 m数量级的作用体积中激发出来的,如果这个体积中的样品是由多种元素组成，则可激发出各个相应元素的特征X射线。 被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光（色散），即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2方向上
γ能谱仪的相关叙述
能谱仪主要有探测器、脉冲幅度分析器、记录显示电路三部分组成。工作时，探测器将不同能量的射线变成相应幅度的电脉冲并加以放大。放大的脉冲送到脉冲幅度分析器加以分离，然后由记录显示电路记录。它既可以测量γ能谱，又可以测量总γ照射量率。野外轻便γ能谱仪常用于测量岩石或地层的铀、镭、钍、钾等含量。一般实验
能谱仪使用范围
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
电子能谱仪的分类
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。光电子能谱仪光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样品成分的信息。试
电子能谱仪的构成
一台电子能谱仪的基本组成由所研究的试样、一个初级激发源和电子能量分析器组成。它们安装在超高真空(UHV)下工作。实际上，经常再备有一个UHV室安装各种试样制备装置，和可能的辅助分析装置。此外还有数据采集与处理系统。 (1)真空系统。电子能谱分析技术本身的表面灵敏度要求必须维持超高真空。现代电子能谱仪
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
电子能谱仪的简介
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素，还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。
多功能电子能谱仪
多功能电子能谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2007年10月31日启用。 技术指标 X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空间分辨率＜3
俄歇电子能谱仪
俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
牛津仪器超级能谱仪
近日，牛津仪器成功为西安交大、上海科技大学、中国科技大学、华为4家单位安装调试了最新的超级能谱仪Extreme，取得到了客户的一致好评。 Extreme超级能谱仪拥有独到的设计，可以满足在极低加速电压下工作的需要，实现10nm左右空间分辨率的能力，是纳米材料、薄膜材料分析的利器。 同
能谱仪的功能介绍
来自样品的X光子通过铍窗口进入锂漂移硅固态检测器。每个X光子能量被硅晶体吸收将在晶体内产生电子空穴对。不同能量的X光子将产生不同的电子空穴对数。例如，Fe的Kα辐射可产生1685个电子空穴对，而Cu为2110。知道了电子空穴对数就可以求出相应的电荷量以及在固定电容（1μμF）上的电压脉冲。多道脉冲高
能谱仪有哪些缺点？
(1)能量分辨率低,峰背比低。 由于能谱仪的探头直接对着样品，所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到，从而使得Si(Li)检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时，背底也相应提高,谱线的重叠现象严重。故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差。能谱仪的能量分辨率(130eV
能谱仪和波谱仪区别
刚刚学了这个，希望对同学你有用。波谱仪和能谱仪的范围基本一样，在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪，可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析。而能谱仪以快速分析见长。但是现在波谱仪也有了进步，分析起来已经很快，对于定量要求不高的样品，能谱仪有以下优点：1、分析速度快 2、灵敏度高 3、谱线重复性好。缺点：
XPS能谱仪XPS谱图分析技术
在XPS谱图中,包含极其丰富的信息,从中可以得到样品的化学组成,元素的化学状态及其各元素的相对含量。XPS谱图分为两类,一类是宽谱(wide)。当用AlKα或MgKα辐照时,结合能的扫描范围常在0-1200eV或 0-1000eV。在宽谱中,几乎包括了除氢和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光电子
关于电子能谱仪的简介
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素，还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。
平插式能谱仪概述
平插式能谱仪是一种用于材料科学、矿山工程技术、能源科学技术领域的分析仪器，于2018年10月17日启用。 技术指标 能量分辨率：MnKa优于127eV，主能谱仪在400,000CPS内MnKa始终优于127eV。元素分析范围: B5～Cf98。谱峰稳定性：1,000cps到100,000cp
简述能谱仪的性质指标
固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好 检出角：理论上该角度越大越好 探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步取代锂硅Si(Li)探测器 能量分辨力：最高级别的能谱仪分辨力可达121eV 探测元素范围：Be4～U92
电子能谱仪的分类介绍
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。 光电子能谱仪 光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样品成
能谱仪的测试原理简介
当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电