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近场光学显微镜的近场光学显微镜原理

传统的光学显微镜由光学镜头组成,可以将物体放大至几千倍来观察细节,由于光波的衍射效应,无限提高放大倍数是不可能的,因为会遇到光波衍射极限这一障碍,传统的光学显微镜的分辨率不能超过光波长的一半。比如,以波长λ=400nm的绿光作为光源,仅能分辨相距为200nm的两个物体。实际应用中λ>400nm,分辨率要更低些。这是因为一般的光学观察都在距离物体很远的位置(>>λ)。近场光学显微镜根据非辐射场的探测和成像原理,能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限,可以在超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。近场光学显微镜 由探针、信号传输器件、扫描控制、信号处理和信号反馈等系统组成。近场产生和探测原理:入射光照射到表面上有许多微小细微结构的物体上,这些细微结构在入射光场的作用下,产生的反射波包含限制于物体表面的倏逝波和传向远处的传播波。倏逝波来自于物体中的细微结构(小于波长的物体)。而传播波则来自于物体中粗糙......阅读全文

近场光学显微镜的近场光学显微镜原理

传统的光学显微镜由光学镜头组成,可以将物体放大至几千倍来观察细节,由于光波的衍射效应,无限提高放大倍数是不可能的,因为会遇到光波衍射极限这一障碍,传统的光学显微镜的分辨率不能超过光波长的一半。比如,以波长λ=400nm的绿光作为光源,仅能分辨相距为200nm的两个物体。实际应用中λ>400nm,分辨

近场光学的近场光学显微镜的基本类型

      近场光学显微镜 的主要目标是获得与物体表面相距小于波长K的近场信息, 即隐失场的探测。虽然已经出现了许多不同类型的近场光学显微仪器, 但它们有一些共同的结构。如同其他扫描探针显微镜( STM、AFM…), 近场光学显微镜包括: ( 1)探针,(2) 信号采集及处理,(3)探针-样品间距

近场光学显微镜的近场光学显微镜的组成部分

由于光子的特性,近场光学显微镜在生物研究中具有许多优点:(1)超越光学衍射极限的分辨率,甚至可达到亚纳米量级;(2)光学显微技术,无侵入性,可在生物的自然状态环境下进行观测研究;(3)能够观测吸收、 反射、 荧光、 偏振对比度,透视生物样品内部光学性质;(4)光谱学分析,对化学状态具有高分辨率;(5

近场光学显微镜 原理及应用

     近场光学显微镜(英文名:SNOM)是根据非辐射场的探测与成像原理,能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限,采用亚波长尺度的探针在距离样品表面几个纳米的近场范围进行扫描成像的技术,在近场观测范围内,在样品上进行扫描而同时得到分辨率高于衍射极限的形貌像和光学像的显微镜。   近场光学显微镜适用

传统光学显微镜与近场光学显微镜

      近场光学显微镜是对于常规光学显微镜的革命。它不用光学透镜成像,而用探针的针尖在样品表面上方扫描获得样品表面的信息。分析了传统光学显微镜与近场光学显微镜成像原理的物理本质和两种显微镜系统结构的异同点。介绍了光纤探针的制作方法。重点讨论了近场探测原理、光学隧道效应及非辐射场的性质。  传统光

什么是近场光学显微镜?

近场光学显微镜(MO-SNOM)是扫描近场光学显微镜的一种形式。一种扫描近场光学显微镜(SMOM),用于可视化样品表面的形状和磁通量分布。用于分析磁性材料中磁光效应引起的光的偏振度的光学系统已添加到透射SNOM中。入射的激光束通过声光调制器(AOM)以15 kHz的频率闪烁,然后用偏振器线性偏振,然

散射式近场光学显微镜

      散射式近场光学显微镜NeaSNOM,具有如下的特点:独有的极高空间分辨率10nm;可适用于可见、红外和太赫兹光谱范围;近场振幅和相位分辨测量功能;纳米尺度下,用于FTIR吸收光谱研究;极高的分辨率下,研究有机或无机样品,整个操作仅需要常规的AFM样品准备过程。因此,推动了等离激元研究、

扫描近场光学显微镜概述及应用

扫描近场光学显微镜(SNOM——ScanningNear-fieldOeticalMicr0SCOPP)是依据近场探测原理发展起来的一种光学扫描探针显微(SPM)技术。其分辨率突破光学衍射极限,达到10~.200。m。在技术应用上.SNOM为单分子探测,生物结构、纳米微结构的研究,半导体外陷分析及z

近场光学显微镜对介质的最佳分辨

    与传统的光学显微镜相比,近场光学显微镜突破了瑞利衍射极限的限制,为我们提供了纳米级的分辨率.而相对于分辨率更高的扫描隧道电子显微镜来说,近场光学显微镜具有非接触和非破坏的优点,对于有机生命体的观测具有更高的实用价值.由于其广泛的应用,近年来对于近场光学显微镜的研究在实验和理论上都得到了较大的

散射式近场光学显微镜的特点及实际应用

   散射式近场光学显微镜建立在基于具有先进地位的纳米光学表征工具原子力显微镜AFM的基础之上。s-SNOM设计具有非常优秀的性能,高度集成,全面自动化,使用灵活,为研究生产力和易用性设定了新的标准。  特别适用于硬质材料,特别是具有高反射率、高介电常数或强光学共振的材料,可以完成对所有物质纳米尺度