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FT160XRF横空出世应对晶片级材料分析极限挑战

分析测试百科网讯 芯片已经超过原油,成为我国第一进口商品大类,年进口超3000亿美元,芯片对于我国的重要性不言而喻。芯片数量如此之多,面积越做越小,如何快速、精确测定芯片表面纳米级厚度的镀层?难度可想而知。今年2月,日立推出FT160 XRF分析仪,专门针对晶片级封装检测。近日,分析测试百科网小编采访了日立分析仪器公司镀层分析产品经理马特•克林纳(Matt Kreiner),他将带我们一览FT 160的几大亮点,分享应用实例;并通过该产品,带我们更深入地认识日立分析仪器,这个材料和镀层领域测试的高手。日立分析仪器公司镀层分析产品经理马特•克林纳(Matt Kreiner)日立分析的光辉历程 马特(Matt Kreiner) 首先介绍了日立分析仪器公司,他说:“日立分析仪器公司是日立高新技术会社下属的分支机构,主要从事分析和测量仪器的制造和销售。全球集团的使命是帮助我们的客户成为快速、成功、尖端的企业。在中国,我们在上海、北......阅读全文

FT160 XRF横空出世应对晶片级材料分析极限挑战

  分析测试百科网讯 芯片已经超过原油,成为我国第一进口商品大类,年进口超3000亿美元,芯片对于我国的重要性不言而喻。芯片数量如此之多,面积越做越小,如何快速、精确测定芯片表面纳米级厚度的镀层?难度可想而知。今年2月,日立推出FT160 XRF分析仪,专门针对晶片级封装检测。近日,分析测试百科网小

日立分析仪器推出新型FT160 XRF镀层分析仪

  日立高新技术公司(TSE:8036)的全资子公司日立分析仪器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)致力于分析和测量仪器的制造和销售,现推出新型FT160XRF光谱仪,该分析仪提供三种基座配置选择方案用于纳米级镀层分析。  随着新型FT160系列在日本的推出,日

日立发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪 X-Strata920

  英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。  日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子

日立凭借新型XRF仪器FT230掀起镀层分析改革浪潮

  2022年4月28日,日立高新技术集团旗下的全球性公司日立分析仪器推出了革命性的XRF仪器FT230,扩大了电镀和镀层分析范围。FT230的设计大幅简化和加快了部件和组件的测试流程,助力电子产品和组件制造商、一般金属表面处理厂和塑料电镀厂实现全方位镀层检测并符合严格的规范要求。FT230 消除了

日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪

  2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。  日立分析仪器XR

日立分析仪器在上海迁址新生产基地

  中国上海,2021年5月18日—日立分析仪器(日立高新技术集团全资子公司)致力于从事分析和测量仪器的制造和销售,如今其在中国上海迁址新生产基地。  这家先进的制造厂位于上海市闵行区涞港芯湾科创园,占地4118平方米,旨在支持高科技分析设备开发和生产的快速升级,以满足全球不断增长的需求。  新工厂

XRF镀层测厚仪的原理

1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。2、XRF镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能:精密测量金属电镀层

XRF镀层测厚仪的原理

1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。2、XRF镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能:精密测量金属电镀层

XRF2000镀层测厚仪规格

儀器功能 : 測量電鍍層厚度(单镀层 双镀层 合金镀层 电镀液分析 元素定性分析)系統結構 :主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機主機尺寸610 x 670 x 490 mm主機箱重量 : 75 公斤配件重量 : 約 35 公斤以电脑鼠标移動方式,驅動 XYZ 三軸移動,步進馬達XYZ 樣片台移動尺寸

XRF镀层测厚仪的相关介绍

  XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致;否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息,或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样