关于X射线荧光仪器的广泛应用
我国XRF分析技术的建立始于20世纪50年代末60年代初。最近三十多年来，为满足生产喝科研工作的需要，引进了众多的一流XRF谱仪，制定了大量有效的试样分析方法，有力地推动了我国X射线荧光光谱分析的发展。X射线经历了几十年的不断探索、不断进步，现已广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。例如，在某些国家和地区可能会存在许多有危险性的有毒金属，如何快速判断是否存在这些污染物并辨别其含量就可以利用到手持式X射线荧光分析仪。在农业方面，利用DELTA手持式XRF分析仪不仅可以快速探测出这些有毒金属，还可以确定诸如钙、镁、磷、钾等营养物质和肥料的存在，为农业的耕作提供了便利。......阅读全文
关于X射线荧光仪器的广泛应用
我国XRF分析技术的建立始于20世纪50年代末60年代初。最近三十多年来，为满足生产喝科研工作的需要，引进了众多的一流XRF谱仪，制定了大量有效的试样分析方法，有力地推动了我国X射线荧光光谱分析的发展。X射线经历了几十年的不断探索、不断进步，现已广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合了多年
X射线荧光仪器的基本介绍
X射线荧光仪器（X Ray Fluorescence，XRF）又称为X射线荧光光谱法，是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它是指根据原子在原级X射线或粒子的激发下发射出的次级的特征X射线（X射线荧光）的波长和长度，对元素进行定性和定量的分析方法。
X射线荧光仪器的分类介绍
X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同，可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管作为激发源，产生入射X射线（一次X射线）用于激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次
X射线荧光仪器的历史介绍
X射线荧光仪器是指波长为0.01~10nm的电磁波，1895年伦琴（W. C. Roentgen）在使用放电管工作时发现了X射线，因为这一个重大发现，伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱（H. G. Moseley）建立了X射线波长与原子序数的关系，奠定了X射线荧光光谱分析的基础，第
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
X射线荧光仪器分析误差的来源
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
x射线荧光光谱仪 SPECTRO XEPOS的广泛应用
斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光谱仪代表了能量色散x射线荧光技术的飞跃。它提供突破性的进步multi-elemental分析专业,小,微量元素浓度。新发展激励和检测提供出色的灵敏度和检测限制收益显著的精密度和准确
X射线荧光仪器的使用形态有哪些？
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化
X射线荧光分析所用仪器的组成介绍
X射线发生系统：产生初级高强X射线，用于激发样品； 冷却系统：用于冷却产生大量热的X射线管； 样品传输系统：将放置在样品盘中的样品传输到测定位置； 分光检测系统：把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光，检测； 计数系统：统计，测量由检测器测出的信号，同时也可以除去过强的信号和干
X射线荧光的简介和相关仪器介绍
通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫做X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线称为原级X射线，所以X射线荧光光谱仪仍然属于X射线范畴。一台典型的X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管主要负责产生入射X射线(一次X射线)，随后该射线
关于荧光X射线的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于X射线荧光光谱的介绍
X射线荧光光谱(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，受激发的样品中的每一种元素会放射出X射线荧光，并且不同的元素所放射出的X射线荧光具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来
关于X射线荧光分析的分类介绍
1、根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长
X射线荧光分析实验所用的仪器介绍
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散
质子激发X射线荧光分析的X 射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
关于X射线荧光分析的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于X射线荧光分析技术应用的误区
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁 分析
关于X 射线荧光仪真空系统的介绍
真空系统是 X射线荧光光谱仪的重要组成部分。仪器工作时，光谱室被抽成真空状态，以减少空气对 X 射线的干扰，提高仪器的分辨率。 真空系统容易出问题的地方主要有 3 部分：真空泵、样品室、光谱室。分析样品时，在快门打开之前，真空泵是与样品室相通的。当采用压片法进行分析时，由于抽真空会使一部分
X射线异物检测仪的广泛应用
广泛应用于机场、地铁、博物馆、大使馆、海关车站、港口码头、旅游景点、工厂企业、及其他公共场所的重要部门。 主要用来检测小件货物、包裹、邮件、小型箱包、手提箱、拎包、背包等物件中所隐藏的违禁物品等。 广泛应用于食品行业、医药行业、纺织行业。 精准地检测出各种包装产品中的异物，如金属、玻璃、陶
x射线衍射、x荧光、直读光谱3种仪器，都有哪些区别
一、直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理，样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽，蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱，发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段，根据每个元素发射波长范围，通过光电管测量每个元素的最佳谱线，每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量，通过内部预制校正曲线
关于X 射线荧光仪检测晶体的清洗介绍
晶体的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面镀有 C，以防止晶体潮解，使用的时候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶体就容易损坏。另外，清洗时应该将晶体在容器洗液中来回晃动，一般不要擦拭。 晶体有很大的温度系数，所以，反射角很大的元素将很容易受温度影响。A
关于X射线荧光分析的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组
关于X 射线荧光仪探测器的介绍
流（充）气正比计数器和闪烁计数器用于探测不同的元素，其中充气正比计数器一般是填充 Ar、Kr 等惰性气体；一定要注意此类计数器头部玻璃很容易破碎，不能碰撞；长期使用后，充气正比计数器头部容易吸附灰尘影响计数，应该定期清理。流气正比计数器是让探测器气体流动，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射线荧光的物理原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的
X射线荧光的物理原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差
产生x射线荧光的原理
处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当光源停止照射时，这种光线随之消失。这种在激发光诱导