基于X射线荧光的指纹元素成像
中国科学院高能物理研究所王萌研究员 中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素，生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹，得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比值，并且用酸消化和ICP-MS分析方法验证了X射线荧光的数据结果。数据显示，基于X射线荧光的分析方法可同时得到指纹中元素信息和指纹成像图。......阅读全文
基于X射线荧光的指纹元素成像
中国科学院高能物理研究所王萌研究员 中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素，生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹，得到了钛和锌的指纹成像图
基于X射线荧光光谱法测定饰品中的有害元素
有害元素对人体的危害和环境的污染日益受到重视，世界各国都在研究制定相关法律法规对其进行控制和检测。在首饰业中，我国亦制定了相关国家强制性标准对饰品中有毒有害物质的使用做出了限量的规定。目前多采用电感耦合等离子体发射光谱法（即ICP-AES法）对首饰中的有害元素进行检测，但该方法具有破坏性，因此，建立
X射线荧光光谱法---痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，
X射线荧光光谱仪测量元素范围
X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。 X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（
基于计算层析成像扫描数据的X射线能谱估计方法
X射线能谱分布在双能谱X射线计算层析(CT)成像、CT图像的硬化校正、CT成像的定量分析等方面起着重要的作用。传统的X射线能谱估计方法是通过直接测量X射线穿过不同厚度物质后的衰减数据,间接估计X射线的能谱分布。与传统方法相比,提出一种由已知结构模体的CT数据间接估计X射线能谱的方法。该方法的特点是:
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
质子激发X射线荧光分析的X 射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
基于MARS系统的X射线能谱K-edge特性CT成像技术
针对传统的X射线CT系统因采用积分探测器难于鉴别材质的关键技术问题,基于MARS系统的X射线能谱CT,开展了X射线能谱K-edge特性的CT成像技术研究。通过对单一材质和混(复)合材质组成的物理模型的多个X射线能量段进行CT断层扫描,获得了材质的K-edge特性曲线,以此重建出了材质的CT图像。借助
X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。 实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？微源实