XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 2、XRF（X射线用于元素分析技术），是一种全新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域；每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量；根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得......阅读全文
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
XRF的基本原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量(单位:千电子伏特，keV)和波长(单位:nm)描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱
简述XRF的基本原理
X射线光管发射的原级X射线射入至样品，激发样品中各元素的特征谱线； 探测器记录特征波长的X射线光子N； 根据特定波长X射线光子N的强度，计算出该波长对应的元素浓度。
便携式XRF仪器工作原理
便携式X射线荧光（XRF）仪器检测样品时，仪器向样品发射高能X射线，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,内层电子因外力被撞出，内层电子运行轨道上出现空位,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到内层空位时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而击出较外层的另
XRF镀层测厚仪的基本原理
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。 对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。在进行测量时，X射线管产生的高能量x射线通过
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
xrf测试的基本原理是什么
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比如表
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
X荧光光度计（XRF）的工作原理
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
XRF合金分析仪的基本原理
每个荧光 X 射线的能级是激发元素的特征。因此，通过分析发射的 X 射线的能量，人们可以确定元素存在于样品中。 此外，通过分析发射的 X 射线的强度，人们可以确定存在于一样本。 在“合金分析”中，人们可以将分析与已知的几种合金的成分，并对合金进行正面鉴定。
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF分析的基本介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
afm的基本工作原理
异步:定子绕组产生旋转磁场切割转子绕组产生感应电势、感应电流，电流产生电磁转矩驱动转子旋转。 同步:定子绕组产生旋转磁场;转子绕组通直流电产生直流磁场;两个磁场异性相吸，转子被旋转磁场拉动旋转。
afm的基本工作原理
异步:定子绕组产生旋转磁场切割转子绕组产生感应电势、感应电流，电流产生电磁转矩驱动转子旋转。 同步:定子绕组产生旋转磁场;转子绕组通直流电产生直流磁场;两个磁场异性相吸，转子被旋转磁场拉动旋转。
光栅的基本工作原理
1、莫尔条纹 光栅是利用莫尔条纹现象来进行测量的。所谓莫尔(Moire)，法文的原意是水面上产生的波纹。莫尔条纹是指两块光栅叠合时，出现光的明暗相间的条纹，从光学原理来讲，如果光栅栅距与光的波长相比较是很大的话，就可以按几何光学原理来进行分析。图1所示为两块栅距相等的光栅叠合在一起，并使它们的刻线
CCD的基本工作原理
CCD的基本工作原理：在N型或 P型硅衬底上生长一层二氧化硅薄层，再在二氧化硅层上淀积并光刻腐蚀出金属电极，这些规则排列的金属-氧化物-半导体电容器阵列和适当的输入、输出电路就构成基本的 CCD移位寄存器。对金属栅电极施加时钟脉冲，在对应栅电极下的半导体内就形成可储存少数载流子的势阱。可用光注入或电
酶标仪基本工作原理
酶标仪实际上就是一台变相的光电比色计或分光光度计,其基本工作原理与主要结构，和光电比色计基本相同.是一种单通道自动进样的酶标仪工作原理图.光源灯发出的光波经过滤光片或单色器，变成一束单色光,进入塑料微孔极中的待测标本.该单色光一部分被标本吸收,另一部分则透过标本照射到光电检测器上,光电检测器将这一
酶标仪基本工作原理
酶标仪实际上就是一台变相的光电比色计或分光光度计,其基本工作原理与主要结构，和光电比色计基本相同.是一种单通道自动进样的酶标仪工作原理图.光源灯发出的光波经过滤光片或单色器，变成一束单色光,进入塑料微孔极中的待测标本.该单色光一部分被标本吸收,另一部分则透过标本照射到光电检测器上,光电检测器将这一
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
X荧光光谱仪（XRF）的基本原理
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和x射
关于XRF的基本分析
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据
XRF仪器的基本理论
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到
熔点仪的基本工作原理
熔点仪是按照药典规定的熔点检测方法而设计的，该仪器利用电子技术实现温度程控，初熔和终熔数字显示。应用了线性校正的铂电阻作检测元件，并用电子线路实现了快速“起始温度”设定及四档可供选择的线性的升温速率。仪器采用药典规定的毛细管作为样品管，通过高倍率的放大镜观察毛细管内样品的熔化过程，清晰直观，是制药、
恒温摇床的基本工作原理
它的基本结构分为床面、床头和机架三个主要部分。 （1）床面，可用木材、玻璃钢、金属等材料制成。其形状常见的有矩形、梯形和菱形。沿纵向在床面上钉有许多平行的床条或刻有沟槽，床面由机架支承或由框架吊起。摇床的床面是倾斜的，在横向呈1.5-5度由给矿端向对边倾斜，这样由给矿槽及冲洗槽给入的水流就在床
纯水设备的基本工作原理
纯水设备的作用就是应用于各种超纯材料、试剂、实验室、生物实验、电子产品、的生产和清洗等，可以说目前大部分行业都需要用到纯水设备，一些特殊行业还会用到超纯水、无菌水等，这些水质都是通过纯水处理设备来实现的，那么纯水设备是如何进行制水的呢，今天水思源就为大家介绍一下纯水机设备的工作原理，让您对纯水设
恒温摇床的基本工作原理
恒温摇床的基本结构和工作原理它的基本结构分为床面、床头和机架三个主要部分。 （1）床面，可用木材、玻璃钢、金属等材料制成。其形状常见的有矩形、梯形和菱形。沿纵向在床面上钉有许多平行的床条或刻有沟槽，床面由机架支承或由框架吊起。摇床的床面是倾斜的，在横向呈1.5-5度由给矿端向对边倾斜，这样由给
质谱仪质谱仪基本工作原理
基本工作原理：以电子轰击或其他的方式使被测物质离子化，形成各种质荷比（m/e）的离子，然后利用电磁学原理使离子按不同的质荷比分离并测量各种离子的强度，从而确定被测物质的分子量和结构。
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作