XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（钠Na）到92号元素（铀U）。 全反射X-光荧光分析仪 (Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF ) 传统 X-光荧光分析仪 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )......阅读全文
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF检测仪器产品特点
XRF检测仪器是一款具有三重X射线防护措施；人性化的操作界面；应用α算法、FP法、经验系数法、基本参数法分析软件。满足RoHS/WEEE相关管控要求，完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。 EXF-10A适用于工厂来料及制程控制中的有害物质检
XRF分析仪检测什么？
分析仪分析可以通过探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎我们可以直接指向任何样件进行系统检测，并获得更加准确的结果。使用网络分析仪完成的常见技术应用主要包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属设备制造业的质量管理控制（QC）、地质勘探或采矿、工业建筑材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及社会消费金
XRF的基本原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量(单位:千电子伏特，keV)和波长(单位:nm)描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱
简述XRF的基本原理
X射线光管发射的原级X射线射入至样品，激发样品中各元素的特征谱线； 探测器记录特征波长的X射线光子N； 根据特定波长X射线光子N的强度，计算出该波长对应的元素浓度。
便携式XRF仪器工作原理
便携式X射线荧光（XRF）仪器检测样品时，仪器向样品发射高能X射线，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,内层电子因外力被撞出，内层电子运行轨道上出现空位,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到内层空位时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而击出较外层的另
XRF镀层测厚仪的原理是什么
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
如何利用XRF技术进行检测？
分析仪发出X射线。X射线撞击到被测样品，使样品中的元素发出荧光，然后再返回到分析仪中的X射线探测器。分析仪对返回的X射线进行计数，并通过数学运算，得出分析结果。
XRF(RoHS检测仪器)选择秘籍
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 方法详另见附件。该方法建议对来料先便携式（手持式）荧光光谱仪检
溴在XRF中的检测参考
一、PBB and PBDEs EDXF 设备 ( 便携式以及台式 ) 能够检测出是否存在溴化物，但是不能区分违禁物质 PBB/PBDEs 和其他种类的溴化阻燃剂，例如 TBBPA （四溴双酚 A ）。 TBBPA 应用广泛，举例来说，实际上在每个电器的电路板上都使用了该材料。因此，只有运用昂贵
XRF合金分析仪的原理介绍
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。 每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道
XRF镀层测厚仪的基本原理
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。 对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。在进行测量时，X射线管产生的高能量x射线通过
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
XRF在镍合金检测中的应用
镍，是一种硬而有延展性并具有铁磁性的金属，它能够高度磨光和抗腐蚀。耐腐蚀性和耐氧化性都较强。而镍合金 则是以镍为基加入其他元素组成的合金。 哪些领域会用到镍合金呢？ 01.航空航天行业 镍合金被广泛用于制造飞机引擎、涡轮机组件和航天器部件，因其高温强度和耐腐蚀性能可以满足严苛的工作条件
XRF在镍合金检测中的应用
镍，是一种硬而有延展性并具有铁磁性的金属，它能够高度磨光和抗腐蚀。耐腐蚀性和耐氧化性都较强。而镍合金 则是以镍为基加入其他元素组成的合金。 哪些领域会用到镍合金呢？ 01.航空航天行业 镍合金被广泛用于制造飞机引擎、涡轮机组件和航天器部件，因其高温强度和耐腐蚀性能可以满足严苛的工作条件
XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
XRF矿石分析仪铁矿检测方法
在105℃的鼓风干燥箱中，对客户提供的铁矿粉末标样干燥4h。然后，对铁矿二次标样进行压片；使用X荧光光谱仪EDX9000B矿石分析仪测量铁矿粉末压片和客户提供的铁矿玻璃熔片，使用归一压片法测量铁矿中主、次组分，并且查看铁矿组分的测量值和理论值的线性相关度。铁矿压片法歩骤：用电子天平称量9.00g硼酸
金属元素分析XRF检测技术解析
1895年，伦琴在研究阴极射线时偶然发现一种能穿透物质产生荧光的未知射线，并将它命名为X射线， 这一发现引起了许多物理学家的关注。1908年，物理学家Barkla发现物质被激发产生的X射线中含有两种成分，除了原入射X射线外，还含有一种与元素有关的标识谱线成分，又称为特征X射线。随后，Barkla
xrf测试的基本原理是什么
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比如表
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
了解XRF中的常用“密语”，为检测加速
查看X射线荧光（XRF）相关的内容时，您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南，来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。 XRF XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有: EDXRF