Antpedia LOGO WIKI资讯

导波雷达物位计的概述

导波雷达物位计的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行,接触到被测介质后,微波脉冲被反射回来,并被电子部件接收,并分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波,分析计算后将它转换成物位信号给出。由于测量原理简单,可以不带料调整,从而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短,使之更加适应现场的应用。对于蒸汽不敏感,即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下,测量精度也不受到影响。不受介质特性变化的影响,被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。粘附:没有问题,在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。容器内安装物如果采用同轴套管式的测量完全不受容器内安装物的影响,不需要特殊调试。可以提供不同形式的探头用于不同应用:缆式,用于测量液体介质或重量大的固体介质,量程可达60米;棒式,用于测量液体介质或重量轻的固体介质,量程可达6米;同轴套管,用于测量低黏度的介质,不受过程条件的影响,量程可达6米。......阅读全文

导波雷达物位计的概述

   导波雷达物位计的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行,接触到被测介质后,微波脉冲被反射回来,并被电子部件接收,并分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波,分析计算后将它转换成物位信号给出。由于测量原理简单,可以不带料调整,从而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短,使之更加适应现场

导波雷达物位计的特点

  1.可以测量介电常数大于等于1.4的任何介质。  2.一般用于测量粘度≤500cst而且不容易产生粘附的介质。  3.杆式雷达最大量程可以达到6米。  4.对蒸汽和泡沫有很强的抑制能力,测量不受影响。  5.对于介电常数比较小的液体物料可以采用双探杆式测量方式,以保障良好的准确测量。  ●测量范

导波雷达液位计概述

  导波雷达液位计-化学工业中的一种液位测量仪表。  导波雷达液位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播,当遇到被测介质表面时,部分脉冲被反射回来形成回波,并沿相同路径返回到脉冲发射装置,发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比,回波的极性和振幅取决于上层介质与下层介质的介电常数εr。一

导波雷达物位计的主要技术参数

  ★ 工作频率: 100MHz-1.81212SYz  ★ 测量范围: 缆式:0-35m杆式、同轴式:0-6m  ★ 重复性: ±3mm  ★ 分辨率: 1mm  ★ 采样: 回波采样54次/s  ★ 响应速度: >0.2S(根据具体使用情况而定)  ★ 精度:<0.1%  ★ 输出电

雷达物位计概述

  雷达物位计运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号的一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。它是通过发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。JTD800系列和AL900系列雷达物位计即使在工况比较复杂,存在虚假回波的情况下,其用最新的微处理技术和调试软件也可以准确的

高频雷达物位计概述及应用

  高频雷达物位计是目前雷达物位计最新的产品。其常见的测量频率为24G或者26G,而传统低频的雷达物位计,测量频率普遍在6.3G或者6.8G。  概括及应用  高频雷达物位计目前已成为市场上的主流产品,主要分为脉冲雷达物位计和导波雷达物位计。低频脉冲雷达物位计尽管具有价格相对低廉的优点,但在主要应用

高频雷达物位计概述及应用

  高频雷达物位计是目前雷达物位计最新的产品。其常见的测量频率为24G或者26G,而传统低频的雷达物位计,测量频率普遍在6.3G或者6.8G。  概括及应用  高频雷达物位计目前已成为市场上的主流产品,主要分为脉冲雷达物位计和导波雷达物位计。低频脉冲雷达物位计尽管具有价格相对低廉的优点,但在主要应用

雷达液位计与导波雷达液位计的区别

  雷达液位计发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和的测量。即使工况比较复杂的情况下,存在虚假回波,用的微处理技术和调试软件也可以准确的分析出物位的回波。   一、测量范围不同

导波雷达料位计的特点

  NIVELCO 导波雷达料位计是依据时域反射原理( T D R T i m eDomain Reflectometry)为基础的雷达料位计,时域反射原理首先是用于通讯电缆的故障检测,今天我们将导波雷达料位计成功应用于工业测量领域.  导波雷达料位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达料位计,

雷达液位计和导波雷达液位计的区别

  雷达液位计   原理:发射—反射—接收就是雷达液位计的基本工作原理。   雷达传感器的天线以波束的形式发射电磁波信号,发射波在被测物料表面产生反射,反射回来的回波信号仍由天线接收。   发射及反射波束中的每一点都采用超声采样的方法进行采集。信号经智能处理器处理后得出介质与探头之