光学经纬仪简介
测量水平角和垂直角的仪器。英国人西森(Sisson)约于1730年首先研制，成型后，用于英国大地测量。1904年，德国开始生产玻璃度盘经纬仪。1920年，瑞士H.威特(H.Wild)等人制成世界上第一台Th1型光学经纬仪。随着电子技术的发展，60年代出现装有电子扫描度盘，在读数窗能自动显示水平度盘和垂直度盘读数的数字电子经纬仪。经纬仪主要部件有望远镜、度盘、水准器、读数设备和基座等。......阅读全文
光学经纬仪简介
测量水平角和垂直角的仪器。英国人西森(Sisson)约于1730年首先研制，成型后，用于英国大地测量。1904年，德国开始生产玻璃度盘经纬仪。1920年，瑞士H.威特(H.Wild)等人制成世界上第一台Th1型光学经纬仪。随着电子技术的发展，60年代出现装有电子扫描度盘，在读数窗能自动显示水平度盘和
DJ6光学经纬仪的结构组成简介
DJ6光学经纬仪是一种广泛使用在地形测量、工程测量及矿山测量中的光学经纬仪 1.指标水准器观察镜 2.竖盘指标水准器 3.指标水准器改正护盖 4.望远镜调焦圈 5.读数照明反光镜 6.照准部水准器 7.校正螺钉 8.换盘手轮 9.脚螺旋 10.防扭簧片 11.望远镜制动器
光学经纬仪的功能介绍
光学经纬仪是水平度盘和竖直度盘均用光学玻璃制成的经纬仪。是用于测量学(surveying)中测量地平和垂直角度的一种仪器。它包括一架望远镜，目镜上的十字线用于对准目标。望远镜可沿水平轴和垂直轴转动。这些轴穿过两个圆形标尺。它有一个水平尺，当支在可调整的三角架上时，处于水平状态，能指示显示结果。
光学经纬仪的工作原理
经纬仪是根据测角原理设计的。为了测定在O点的水平角AOB，必须在通过空间两方向线交点O的铅垂线上，水平地放置一个带有角度分划的水平度盘。竖直面OAA1与水平度盘的交线得到读数a，竖直面OBB1与水平度盘的交线得到读数b。b减a即为水平角A1O1B1值β。为了测定垂直角，竖放一个垂直度盘，在垂直度盘上
光学经纬仪的分类介绍
按物理特性划分,经纬仪经历了机械型、光学机械型和集光、机、电及微电子技术于一体的智能型三个发展阶段,各阶段的标志性产品分别为游标经纬仪、光学经纬仪和电子经纬仪,目前主要使用的是光学经纬仪和电子经纬仪.光学经纬仪利用集合光学的放大、反射、折射等原理进行度盘读数；电子经纬仪利用的物理光学、电子学和光
光学经纬仪的工作原理
经纬仪是根据测角原理设计的。为了测定在O点的水平角AOB，必须在通过空间两方向线交点O的铅垂线上，水平地放置一个带有角度分划的水平度盘。竖直面OAA1与水平度盘的交线得到读数a，竖直面OBB1与水平度盘的交线得到读数b。b减a即为水平角A1O1B1值β。为了测定垂直角，竖放一个垂直度盘，在垂直度盘上
光学经纬仪的功能介绍
光学经纬仪是水平度盘和竖直度盘均用光学玻璃制成的经纬仪。是用于测量学(surveying)中测量地平和垂直角度的一种仪器。它包括一架望远镜，目镜上的十字线用于对准目标。望远镜可沿水平轴和垂直轴转动。这些轴穿过两个圆形标尺。它有一个水平尺，当支在可调整的三角架上时，处于水平状态，能指示显示结果。
光学经纬仪的主要种类介绍
按物理特性划分，经纬仪经历了机械型、光学机械型和集光、机、电及微电子技术于一体的智能型三个发展阶段，各阶段的标志性产品分别为游标经纬仪、光学经纬仪和电子经纬仪，目前主要使用的是光学经纬仪和电子经纬仪。光学经纬仪利用集合光学的放大、反射、折射等原理进行度盘读数；电子经纬仪利用的物理光学、电子学和光电转
光学经纬仪测风相关介绍
有单经纬仪测风和双经纬仪测风两种。单经纬仪只能测定气球的角坐标（方位、仰角）。气球高度一是根据气球升速（决定于气球净举力、气球大圆周长和地面空气密度）和升空历经的时间来确定。但由于大气湍流、铅直气流速度和空气密度随高度变化等因素对气球升速的影响，这种方法确定的高度误差大，测风精度低，一般只在数千
光学经纬仪的主要类型介绍
按物理特性划分，经纬仪经历了机械型、光学机械型和集光、机、电及微电子技术于一体的智能型三个发展阶段，各阶段的标志性产品分别为游标经纬仪、光学经纬仪和电子经纬仪，目前主要使用的是光学经纬仪和电子经纬仪。光学经纬仪利用集合光学的放大、反射、折射等原理进行度盘读数；电子经纬仪利用的物理光学、电子学和光电转
光学经纬仪的发明与发展
测量水平角和垂直角的仪器。英国人西森(Sisson)约于1730年首先研制，成型后，用于英国大地测量。1904年，德国开始生产玻璃度盘经纬仪。1920年，瑞士H.威特(H.Wild)等人制成世界上第一台Th1型光学经纬仪。随着电子技术的发展，60年代出现装有电子扫描度盘，在读数窗能自动显示水平度盘和
光学经纬仪的读数系统介绍
光学经纬仪的读数系统包括水平和垂直度盘、测微装置、读数显微镜等几个部分。水平度盘和垂直度盘上的度盘刻划的小格值一般为1°或30′，在读取不足一个格值的角值时，必须借助测微装置，DJ6级光学经纬仪的读数测微器装置有测微尺和平行玻璃测微器两种。 （1）测微尺读数装置 目前新产DJ6
光学经纬仪的主要结构组成
光学经纬仪有以下部件组成：1、望远镜，2、照准部，3、度盘,4、测微器系统，5、轴系,6、水准器，7、基座及脚螺旋，8、光学对点器几大部分组成； 电子经纬仪有以下部件组成：1、望远镜，2、照准部，3、光栅盘或光学码盘,4、测微器系统，5、轴系,6、水准器，7、基座及脚螺旋，8、光学对点器，9、读数面
电子经纬仪简介
电子经纬仪是集光、机、电、计算为一体的自动化、高精度的光学仪器。 它是在光学经纬仪的电子化智能化基础上，采用了电子细分、控制处理技术和滤波技术，实现测量读数的智能化。可广泛应用于国家和城市的三、四等三角控制测量，用于铁路、公路、桥梁、水利、矿山等方面的工程测量。
电子经纬仪和光学经纬仪的原理结构分别是什么
光学经纬仪和电子经纬仪测量的原理和结构上有所不同。 光学经纬仪有以下部件组成： 1、望远镜， 2、照准部， 3、度盘, 4、测微器系统， 5、轴系, 6、水准器， 7、基座及脚螺旋， 8、光学对点器 电子经纬仪有以下部件组成： 1、望远镜， 2、照准部， 3、光栅盘或光
光学经纬仪的主要功能
光学经纬仪的主要功能是测量纵、横轴线（中心线）、垂直度以及水平角度和竖直角度的控制测量等。光学经纬仪主要应用于机电工程建（构）筑物建立平面控制网的测量以及厂房（车间）柱安装铅垂度的控制测量，用于测量纵向、横向中心线，建立安装测量控制网并在安装全过程进行测量控制。
电子测距光学经纬仪的功能介绍
中文名称电子测距光学经纬仪英文名称electronic range theodolite定 义带有电子测距装置的经纬仪。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），大地测量仪器-经纬仪（三级学科）
电子测距光学经纬仪的功能特点
中文名称电子测距光学经纬仪英文名称electronic range theodolite定 义带有电子测距装置的经纬仪。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），大地测量仪器-经纬仪（三级学科）
光学经纬仪的主要功能
光学经纬仪的主要功能是测量纵、横轴线（中心线）、垂直度以及水平角度和竖直角度的控制测量等。光学经纬仪主要应用于机电工程建（构）筑物建立平面控制网的测量以及厂房（车间）柱安装铅垂度的控制测量，用于测量纵向、横向中心线，建立安装测量控制网并在安装全过程进行测量控制。
光学经纬仪的主要技术参数
经纬仪按精度指标划分为若干等级。精度指标以野外一测回的水平方向中误差表示。中国1982年颁发的经纬仪系列标准(GB3161-82)将经纬仪分为DJ07、DJ1、DJ2、DJ6和DJ30五个等级。以DJ2、DJ6为例，一测回水平方向中误差分别为2″和6″；望远镜放大倍数分别不小于28倍和25倍；照准部
光学经纬仪的主要技术参数
经纬仪按精度指标划分为若干等级。精度指标以野外一测回的水平方向中误差表示。中国1982年颁发的经纬仪系列标准(GB3161-82)将经纬仪分为DJ07、DJ1、DJ2、DJ6和DJ30五个等级。以DJ2、DJ6为例，一测回水平方向中误差分别为2″和6″；望远镜放大倍数分别不小于28倍和25倍；照准部
黄道经纬仪简介
黄道经纬仪是清朝制造的八件大型铜铸天文仪器之一，是我国重要的古天文观测仪器，也是中国第一台以现代的黄道坐标系统作观测的仪器。适用于作观测太阳和行星等天体的运动。1673年制成，至今仍完好地保存在北京古观象台的观测平台上。它代表着中国和西方文化与科技交流的重要成果。
光学经纬仪的主要功能介绍
水平度盘和坚直度盘均用光学玻璃制成。读数设备由比较复杂的光学系统组成。通过读数系统，把两个度盘的分划影象或度盘对径分划影象呈现在同一读数显微镜内。其测角设备的测微方式有显微带尺光学测微器，单玻璃平板光学测微器和符合读数光学测微器等。光学经纬仪的读数显微镜就在望远镜的目镜旁边，便于观测者读数。近年光学
光学经纬仪的主要功能介绍
水平度盘和坚直度盘均用光学玻璃制成。读数设备由比较复杂的光学系统组成。通过读数系统，把两个度盘的分划影象或度盘对径分划影象呈现在同一读数显微镜内。其测角设备的测微方式有显微带尺光学测微器，单玻璃平板光学测微器和符合读数光学测微器等。光学经纬仪的读数显微镜就在望远镜的目镜旁边，便于观测者读数。近年光学
磁偏计和地磁经纬仪简介
磁偏计 测量地磁偏角的仪器。主要由磁系、悬丝、照准望远镜和水平度盘等组成。测量精度可达数秒，受悬丝的残余扭力的影响。 地磁经纬仪 测量地磁场水平强度的绝对磁力仪。它是C.F.高斯等于19世纪30年代发明的。它是根据两个磁棒间的相互作用和悬挂着的磁棒的振荡周期与地磁场强度的关系设计的。仪器的
光学镀膜简介
光学镀膜由薄膜层组合制作而成，它产生干扰效应来提高光学系统内的透射率或反射性能。光学镀膜的性能取决于层数、个别层的厚度和不同的层接口折射率。用于精密光学的zui常见镀膜类型：增透膜(AR)、高反射（镜）膜、 分光镜膜和过滤光片膜。增透膜包括在高折射率的光学中并用于zui大化光
光学测量的简介
光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。借用计算机技术，可以实现快速，准确的测量。方便记录，存储，打印，查询等等功能。 据中国仪器超市介绍，光学测量主要应用在现代工业检测，主要检测产品的形位公差以及数值孔径等是否合格，
光学平台的简介
光学平台追求水平，首先加工的时候整个台面是极平的。之后台面置放与四个联通的气囊上，以保证台面水平。台面上布满成正方形排列的工程螺纹孔，用这些孔和相应的螺丝可以固定光学元件。这样，当你完成光学设备的搭建，系统基本不会受外来扰动而产生变化。即使按动台面，它也会因为气囊而自动回复水平。[1]
自动光学检测简介
AOI（Automated Optical Inspection缩写）的中文全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点
光学克尔效应简介
光学克尔效应，或AC克尔效应是指其电场由光本身所产生的情况。这导致变异的折射率与辐射光本身的辐照度成正比。这种折射率的变化导致了的非线性光学效应的自聚焦、自相位调制以及调制不稳定性，并且是克尔透镜锁模的基础。此效应仅在非常强烈的光束下才能较明显的表现出来，比如激光。