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合肥研究院提出下层原子散射表面电子扫描隧道显微学证据

一直以来,人们对下层原子与表面电子态之间的关系缺乏认识,因而导致了一系列的争议。近期,中国科学院强磁场科学中心陆轻铀教授课题组提出了一种“集体干涉”理论模型,通过引入层间作用因子,能够定量地揭示它们之间的关联。相关研究以《下层原子散射表面电子的扫描隧道显微学证据》(Scanning tunneling microscopy evidences for surface electron scattering by underlying atoms)为题,发表于最新一期《碳》(Carbon)杂志上。 借助自主研发的高质量超高真空扫描隧道显微镜,课题组首次观测到石墨中原子分辨率的第二层刃型位错(亚表面原子台阶),这一发现直观地展现了表面电子态的分布随着层间作用的变化而显著改变这一现象。进一步的研究发现,通过对石墨样品热处理,在石墨晶界附近观测到大量奇异的超结构(superstructure)。课题组提出了一种简单明晰的“集体干涉......阅读全文

反射电子能量损失能谱学中的Monte Carlo方法

最近几十年随着纳米材料研究的兴起与发展,材料表面与其所处的环境相互作用所导致的表面性质越来越吸引研究者的目光。一大批专门表征材料表面的分析手段被发明,而对这些表面分析手段的进一步研究,逐渐成为物理领域中的一个重要分支-表面分析科学。在表面分析领域的种种表征手段中,表面电子能谱分析技术应用相当广泛。表

sem主要用于观察?

  46个知识点扫盲  1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。  2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:  

扫描电子显微镜的二次成像原理

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X

扫描电镜的45个知识点汇总

扫描电子显微镜,是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器,被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。如图1所示,是扫描电子显微镜的外观图。特点制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大、保真度高、有真实的三

量子与经典方法研究粒子与固体的相互作用

电子显微技术以及电子能谱技术已成为材料表征特别是定量分析的重要工具。作为这些技术的物理基础,电子与固体相互作用的研究对定量解释实验电子显微成像或电子能谱起着至关重要的作用,成为凝聚态物理研究的一个非常重要的研究领域。本论文分别采用经典Monte Carlo方法、波动力学方法和玻姆力学方法,从不同角度

扫描电镜SEM的使用——视频

  1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。  2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:  λe=h / mv=

SEM扫描电镜知识点扫盲

   1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。  2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:  λe=h / mv

物理所等在石墨烯表面碱金属吸附与相互作用研究中获进展

  研究和理解固体表面上原子或分子间的相互作用是表面物理领域的基本科学问题之一,由此控制它们的自组装结构对发展纳米器件具有重要的意义。吸附在固体表面的原子或分子可以通过衬底的电子散射或者弹性扭曲而发生间接相互作用,这种衬底调制的长程原子或分子间相互作用在原子和分子自组装中扮演着重要的角色。之前的实验

扫描电镜的46个知识点扫盲

1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:λe=h / mv= h / (

表面分析(二)

表面分析的主要内容表面科学研究的是表面和与表面有关的宏观和微观过程,从原子水平认识和说明表面原子的化学、几何排列、运动状态、电子态等性质及其与表面宏观性质的联系。表面分析的主要内容有:(1)表面化学组成:表面元素组成,表面元素的分布,表面元素的化学态,表面化学键,化学反应等;可用技术:XPS(X-

金属和合金微观分析常用技术盘点

  一种金属或合金的性能取决于其本身的两个属性:一个是它的化学成分,另一个是它内部的组织结构。所以,对金属材料的成分和组织结构进行精确表征是金属材料研究的基本要求,也是实现性能控制的前提。材料分析的内容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、热性能分析、电性能分析等。本文就金属材料的形貌分析、物相分析

SEM扫描电镜知识点扫盲

1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。  2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:  λe=h / mv= h

扫描电镜和透射电镜之间的对比

  电子显微镜  电子显微镜是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。  电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代,透射式电子显微镜的分辨率约为0.3纳米(人眼的分辨本领约为0.1毫米)。现在电子显微

必收藏丨超全面拉曼光谱、红外光谱、XPS的原理及应用干货

  拉曼光谱的原理及应用  拉曼光谱由于近几年来以下几项技术的集中发展而有了更广泛的应用。这些技术是:CCD检测系统在近红外区域的高灵敏性,体积小而功率大的二极管激光器,与激发激光及信号过滤整合的光纤探头。这些产品连同高口径短焦距的分光光度计,提供了低荧光本底而高质量的拉曼光谱以及体积小、容易使用的

经典材料分析七种方法:成分,光谱,质谱 ,能谱

  材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段,也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析,从认识材料的分析仪器着手。  成分分析简介  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量

常用材料测试方法总结

成分分析:  成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同,又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。  体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析,其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方

电子能谱分析的类型

根据所采用的激发源的不同,电子能谱分析主要可分为以下两大类:一是以光电子能谱(简称PES);二是电子束作激发源去照射样品,测量样品所发射出的俄歇电子能量,称为俄歇电子能谱(简称AES)。1、光电子能谱以一定能量的X射线或光(如紫外光)照射固体表面时,被束缚于原子各种深度的量子化能级上的电子被激发而产

对比学习扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)

  1 STM  1.1 STM工作原理  扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近(通常小于1nm)时,在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。  尖锐金属探针在样品表面扫描,利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效

扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)的对比

1.1 STM工作原理扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近(通常小于1nm)时,在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。尖锐金属探针在样品表面扫描,利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效应引起隧道电流与间隙大小呈

光学显微镜

1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:λe=h / mv= h / (

科研常用的几种显微镜原理及应用介绍

       在科研中常见的几种科研型显微镜主要有扫描探针显微镜,扫描隧道显微镜和原子力显微镜几种,下面对这几种显微镜逐一做以介绍:扫描探针显微镜       扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscop

拉曼光谱、红外光谱、XPS的工作原理和应用(二)

  红外光谱的原理及应用  (一)红外吸收光谱的定义及产生  分子的振动能量比转动能量大,当发生振动能级跃迁时,不可避免地伴随有转动能级的跃迁,所以无法测量纯粹的振动光谱,而只能得到分子的振动-转动光谱,这种光谱称为红外吸收光谱  红外吸收光谱也是一种分子吸收光谱。当样品受到频率连续变化的红外光照射

四大电镜原理(SEM,TEM,AFM,STM)

  材料的显微分析能获得材料的组织结构,揭示材料基本性质和基本规律,在材料测试技术中占重要的一环。对各种显微分析设备诸如,SEM、TEM、AFM、STM等,各位材料届的小伙伴一定不会陌生。最近小编发现一些电镜图片,被惊艳到,原来枯燥无味的电镜可以变得这么生动,闲言少叙,下面就和大家一起来分

3分钟了解xps基本原理及特点

  (1)固体表面的激发与检测  X射线光电子能谱(XPS):激发源为X射线,用X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析光电子的能量分布得到光电子能谱。用于研究样品表面组成和结构。又称为化学分析光电子能谱法(ESCA)。  紫外光电子能谱(UPS):激发源为紫外光,只能激发原子的价电子,用于量子化

二次离子质谱的原理组成和结构

二次离子质谱Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:离子探针分析仪,即离子探针(Ion Probe Analyzer,IPA),又称二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrum,SIMS),是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加

拉曼测试

 简要介绍:先进材料表征方法利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术,统称为先进材料表征方法。先进材料表征方

基于环形电子能量分析器的扫描探针电子能谱仪的性能

表面科学中,扫描隧道显微镜(STM)己成为一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测。但是它无法直接识别表面原子的种类。结合扫描探针技术与电子能谱测量技术是实现表面原子识别的一种方案,该方案中,STM针尖作为场发射源激发表面原子,通过探测次级电子的能谱而实现表面原子

电子能谱分析

电子能谱分析方法是20世纪70年代以来迅速发展起来的表面成分分析方法。这种方法是对用光子(电磁辐射)或粒子(电子、离子、原子等)照射或轰击材料(原子、分子或固体)产生的电子能谱进行分析的方法。其中俄歇电子能谱、光电子能谱、X射线光电子能谱和紫外光电子能谱等对样品表面的浅层元素的组成能给出比较精确的分

二次离子质谱的原理

    二次离子质谱是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。它利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚

化学吸附仪原理介绍

  化学吸附是吸附质分子与固体表面原子(或分子)发生电子的转移、交换或共有,形成吸附化学键的吸附。由于固体表面存在不均匀力场,表面上的原子往往还有剩余的成键能力,当气体分子碰撞到固体表面上时便与表面原子间发生电子的交换、转移或共有,形成吸附化学键的吸附作用。  化学吸附可分3种情况:①气体分子失去电