AFM发展历程：从原理到应用

　　原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（scanning force microscopy，SFM)）是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的比宁（Gerd Binning）、魁特（Calvin Quate）和格勃（Christoph Gerber）于1986年发明的。AFM测量的是探针顶端原子与样品原子间的相互作用力——即当两个原子离得很近使电子云发生重叠时产生的泡利（Pauli）排斥力。工作时计算机控制探针在样品表面进行扫描，根据探针与样品表面物质的原子间的作用力强弱成像。

　　世界上第一台原子力显微镜和发明人之一比宁

　　以一种简单的方式进行类比，如同一个人利用一艘小船和一根竹竿绘制河床的地形图。人可以站在小船上将竹竿伸到河底，以此判断该点的位置河床的深度，当在一条线上测量多个点后就可以知道河床在这条线上的深度。同样道理绘制多条深度线进行组合，一张河床的地形图就诞生了。与此类似，在AFM工作时的，原子力传感器相当于人和他手中的竹竿，探针顶端原子与样品原子间作用力的大小就相当于竹竿触及河底时水面下的长度。这样，在一艘小船（控制系统）的控制下进行逐点逐行的扫描，AFM就可以绘制出一张显微图像啦。

　　原理解释起来并不算十分复杂，但是AFM的发明、使用与改进汇聚了大批科学家们的辛劳努力和创造性思维。特别是拍摄到氢键实空间图像所使用的非接触式原子力显微镜，经过分子沉积、温度控制、防振、探针、真空、控制系统等多方面的摸索与改造才最终具有如此强大的分辨能力。