发布时间:2018-04-02 15:36 原文链接: XPS表征的是样品的表面还是体相?

XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在于:尽管X射线可穿透样品很深只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。


样品的探测深度(d)由电子的逃逸深度(λ, X射线波长和样品状态等因素影响)决定,通常,取样深度d = 3λ。对于金属而言λ0.5-3 nm;无机非金属材料为2-4 nm; 有机物和高分子为4-10 nm


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