工程热物理所微纳热电薄膜材料热物性表征研究获进展
将热电材料制作成纳米柱状薄膜结构是一种理论上能有效降低热导率、大幅提升热电优值的操控手段。但随之而来的问题是纳米柱状薄膜热导率的精确获取困难，由于Bi2Te3取向纳米柱状薄膜是由直径为微米量级的纳米柱阵列组成的多孔结构，其表面粗糙度较大，因此在表面上直接沉积百纳米厚的微型金属探测器的实验方案无法适用。常规的热物性测试手段已无法适用于该类表面多孔、厚度为微米量级结构热输运特性的表征。 近日，中国科学院工程热物理研究所传热传质研究中心在多年从事微纳尺度热物性测量的基础上，发展了基于谐波探测的3ω方法，实现了Bi2Te3取向纳米柱状微纳复合薄膜热导率的测试。课题组提出一种新型的3ω法测试结构：在玻璃基底上直接沉积3ω法的四电极微型镍传感器，然后在其上沉积绝缘层，最后生长Bi2Te3取向纳米柱状薄膜。各层材料的布置及厚度示于图1，其中微型镍传感器的形状示于图2。通过此新型测试结构，实验获得的Bi2Te3纳米柱状薄膜的热导率和热扩......阅读全文
浸渍提拉涂膜机简介
应用本产品主要用于溶胶-凝胶法等液相法制备薄膜材料。把洁净干燥的基片浸入溶液中，通过预先设置的浸渍时间、提拉速度、提拉高度、镀膜次数等参数，将浸渍后的基片以一定速度慢慢提拉起来，在基片的表面形成一层纳米级的薄膜。膜层厚度由提拉速度，液体浓度和液体粘度决定。采用溶胶-凝胶法镀膜，随着基片从溶胶中提拉出
第六届全国磁性薄膜与纳米磁学会议在宁波召开
由中国物理学会磁学专业委员会、中国电子学会应用磁学分会主办，中国科学院宁波材料技术与工程研究所、宁波市科技局承办的“第六届全国磁性薄膜与纳米磁学会议”于6月1日至4日在宁波市金港大酒店顺利召开。杨应昌院士、都有为院士、王鼎盛院士、张裕恒院士、詹文山研究员、沈保根研究员、金晓锋教授
疲劳加载下纳米尺度金属薄膜晶粒长大机制研究获新进展
在多晶金属中，尽管晶界具有阻碍位错运动、强化材料的重要作用，但当材料的晶粒尺寸减小到纳米尺度时，晶界将变得不稳定。主要表现为：室温下的各种机械加载(单向拉伸、疲劳、压痕加载等)能够诱发明显的晶粒长大和晶界迁移。另一方面，由于晶粒尺寸的减小，面心立方金属中不全位错运动及由此而引发的孪生行为变得更加
广东开发出高性能铜铟硒纳米材料及薄膜晶体管
相关研究以封面文章的形式发表于Chemistry of Materials 近日，广东省科学院半导体所新型显示团队开发出高性能环境友好型铜铟硒纳米材料并成功应用于薄膜电子器件。相关研究以封面文章的形式发表于Chemistry of Materials。广东省科学院半导体所庞超博士为该论文第一作者，
苏州纳米所薄膜太阳能电池能级排布研究取得新进展
近年来，新型薄膜太阳能电池，例如有机/无机杂化钙钛矿器件、有机光伏器件等，以其低成本、高效率、结构简单、柔性携带等优点，引起了广泛关注。对于薄膜太阳能电池而言，器件能级排布决定着光生载流子的分离、复合、传输和收集等微观物理过程，是器件性能的重要决定因素之一。如何有效调控和表征器件能级排布，是理解
我国学者在碳纳米管透明导电薄膜研究方面取得重要进展
在国家自然科学基金项目（项目编号：51625203、51532008、51521091）等的资助下，中国科学院金属研究所成会明、刘畅研究团队在碳纳米管透明导电薄膜研究方面取得突破。研究成果以“Ultrahigh-performance Transparent Conductive Films o
广东开发出高性能铜铟硒纳米材料及薄膜晶体管
相关研究以封面文章的形式发表于Chemistry of Materials 近日，广东省科学院半导体所新型显示团队开发出高性能环境友好型铜铟硒纳米材料并成功应用于薄膜电子器件。相关研究以封面文章的形式发表于Chemistry of Materials。广东省科学院半导体所庞超博士为该论
碳纳米管薄膜电学输运性能与其手性结构的依存关系
建立碳纳米管电学输运性能与其手性结构的依存关系，对于设计和构建高性能碳基器件具有重要意义。十多年前，科研人员尝试基于单根碳纳米管构建晶体管，探测其电学输运性能与结构的关系。由于单根碳纳米管电学信号弱，手性结构表征困难，揭示其性能与手性结构的关系颇具挑战性。多种类单一手性碳纳米管的宏量制备是解决这
薄膜测厚仪
薄膜测厚仪 型号：CHY-CACHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。 ◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持用户的各种非标定制 ◆ 测试过程
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
（浅水）－柱状沉积物采样器－使用方法：
浅水) 柱状沉积物采样器用途：采集河流、湖泊、池塘的水下沉积物（底泥、底质、污泥）、沼泽土、泥碳土。适于水深：5m；采样管：长100cm、直径4cm； 使用方法：1：将活塞杆穿过固定器，再把活塞装在活塞杆上，然后将活塞和活塞杆插入采样管。2套上切割头，然后用钢带将切割头、取样管和固定器固定在一起。3
假复层纤毛柱状上皮形态学观察实验
实验步骤1. 染色：HE2. 肉眼观察：标本为气管横切面，腔面有一薄层紫蓝色组织，此即假复层纤毛柱状上皮。注意勿将切片中一"C形"的着蓝色的软骨环当作上皮。3. 低倍镜观察：假复层纤毛柱状上皮的细胞高矮不等，故相应的细胞核高低错落、形似复层。此种上皮的基膜较明显。选择杯状细胞较多的部位，转高倍镜观察
柱状支气管扩张的病因学及发病机制
先天性支气管扩张症较少见.由于肺的外周不能进一步发育,导致发育支气管呈囊状扩张.获得性支气管扩张症是由于：(1)因感染,吸入毒性化学物质,免疫反应或血管畸形影响支气管营养从而导致支气管壁直接破坏；(2)因肺不张或肺实质体积缩小,对气道壁牵拉增加造成的机械改变,导致支气管扩张和继发感染.细菌的内毒
假复层纤毛柱状上皮形态学观察实验
1. 染色：HE2. 肉眼观察：标本为气管横切面，腔面有一薄层紫蓝色组织，此即假复层纤毛柱状上皮。注意勿将切片中一"C形"的着蓝色的软骨环当作上皮。3. 低倍镜观察：假复层纤毛柱状上皮的细胞高矮不等，故相应的细胞核高低错落、形似复层。此种上皮的基膜较明显。选择杯状细胞较多的部位，转高倍镜观察。4.
薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪
薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪拉伸、撕裂、剥离等力学性能，当使用反向器时，可进行材料的压缩试验。 本机是一种新型经济性电子拉力试验机，配备力传感器,在试验过程中，微机不断采集力传感器的信号，并根据试验要求，进行格式化数据处理，其特点是使用简单，性能稳定，技术先进，自动化水平高，测试精度高。 2 主要技术
xrd薄膜法能够测定薄膜什么性质
不知道你所说的薄膜法指什么.一般对于薄膜材料,XRD能够做:掠入射(GIXRD): 分析晶态薄膜物相,残余应力反射率测量(XRR): 对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度掠入射小角散射(GISAXS): 分
镁合金表面PVD膜层的制备与腐蚀破坏
镁合金在汽车、电子以及航空航天工业上的应用日益广泛,但较差的耐蚀性限制了其在这些领域的推广应用。气相沉积技术作为一种绿色防腐技术正开始受到镁合金表面处理工作者的关注。本文采用磁控溅射、离子注入等现代化技术手段在AZ31镁合金表面制备了多种防护性膜层,利用场发射扫描电镜（FESEM）、原子力显微镜（A
碳纳米管复合薄膜/硅异质结太阳能电池研究获进展
目前，传统硅基太阳能电池依然占据主流光伏市场，然而，限制硅基光伏产业发展的主要因素是其生产成本偏高、制备过程繁琐。所以发展高效率、低成本、大面积和适合大规模生产的太阳能电池已迫在眉睫。宏观碳纳米管薄膜具有良好的力学、电学、光学等性质，而且是柔性的。通过调节生长参数，可以获得高透光率（可达95%）
物理所制备出基于单壁碳纳米管薄膜的透明弹性导体
过去几十年，硅基电子学在小型化、高集成度和高速度方面取得了巨大的成功。但是，传统的电子学器件是基于平面结构的，具有不可弯折、不可拉伸的缺点，这在很大程度上限制了电子器件的应用。近二十年发展起来的柔性电子学和最近刚刚兴起的可拉伸电子学为人们带来了全新的概念，使得电子学器件可以应用在
物理所碳纳米管薄膜基人工肌肉致动器研究取得进展
碳纳米管自上世纪九十年代初发现以来，一直是人们研究的热点。各种类型的碳纳米管及其宏观聚集体陆续被报道，其优异的力学、电学性能也不断地被挖掘，用以制备高性能的多功能纳米复合材料、超级电容器及致动器等。 中科院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室（筹）先进材料与结构分析实验室“纳米材料与介观物
科学家构建了大面积、可任意转移的碳纳米管薄膜
二维非对称（Janus）薄膜材料因其独特的物理/化学性质，在柔性传感、能源存储与转换、仿生驱动器等领域具有巨大的应用价值，近年来受到越来越广泛的关注和研究。为实现二维Janus薄膜材料在特定领域的应用，功能单元的选择、界面集成和功能协同极为关键。 碳纳米材料（碳纳米管、石墨烯等）因其优越的物理
XRD实验样品如何制作
XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。 对于块状、板状、圆柱状样品，必须将其磨成一个平面，面积不能小于10*10mm。如果面积太小可以用几块粘贴在一起。 如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向，衍射强度异常，给定性定量分析带来麻烦。因此测试时应该合理选择响应的方向平面。 对于
XRD实验样品如何制作
XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。 对于块状、板状、圆柱状样品，必须将其磨成一个平面，面积不能小于10*10mm。如果面积太小可以用几块粘贴在一起。 如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向，衍射强度异常，给定性定量分析带来麻烦。因此测试时应该合理选择响应的方向平面。 对于
其他薄膜沉积设备的薄膜沉积技术分类
薄膜沉积技术可以分为化学气相沉积（CVD）和物理气相沉积（PVD）。对于CVD工艺，这包括原子层沉积（ALD）和等离子体增强化学气相沉积（PECVD）。PVD沉积技术包括溅射，电子束和热蒸发。CVD工艺包括使用等离子体将源材料与一种或多种挥发性前驱物混合以化学相互作用并使源材料分解。该工艺使用较
高精薄膜厚度测厚仪薄膜企业必备仪器
薄膜测厚仪中的高精薄膜厚度测厚仪的适用范围很广，可以测量的塑料、金属、涂层材料等多种材料的厚度，是我们设计制作物品的测量工具，帮助我们判断物体的质量是否合格，而且还能帮助我们节约物体设计制作成本，可以说购买了高精度薄膜厚度测厚仪就是提高了物体设计制作的质量。 高精薄膜厚度测厚仪 济南辰驰
原子力显微镜探针针尖形貌盲重构
随着微电子学、材料学、精密机械学、生命科学和生物学等的研究深入到原子尺度,纳米加工工艺要求逐步提高,纳米尺度精密测量和量值传递标准需求越来越大。为此,迫切需要具有计量功能的纳米、亚纳米精度测量系统(包括测量仪器和标定样品等)。原子力显微镜(AFM)是目前最重要、应用最广泛的纳米测量仪器之一,是真正意
使用柱状沉积物采样器需要注意什么
1.不锈钢土壤采样钻，或者有机玻璃采样管，根据需要，装在顶头的延长杆上。2.当取样器从水中取出后，通过一个活塞将样品取出进行分析。3.T型手柄、延长杆、全部通过扳手连接，根据取样深度，选择用几个1米的延长杆。4.用土壤钻头取样，直接插入底泥中，旋转手柄，提拉，用刮刀取出土壤样品，用透明有机玻璃采样管
哈勃发现7500光年外船底星云巨大氢气柱状物
哈勃望远镜发现船底星云巨大氢气柱状物 北京时间9月22日消息，据美国太空网报道，美国宇航局“哈勃”太空望远镜近期公开的一幅太空照片显示，在距离地球7500光年外的船底星云中，出现数个巨大的氢气和尘埃柱状物。科学家认为，这些浓密的柱状结构可能是恒星托儿所。 据科学家
沉积物柱状采泥器的使用注意事项
沉积物柱状采泥器是将地面或水体底部沉积物以柱状形采出的装置，采集柱状试样的目的是研究沉积物各层次的化学成分和底栖生物在泥中的垂直分布状况。因此在采集样品时不能打乱沉积的自然层次。主要用于河流、湖泊、水库及浅海区等水域的沉积物（底泥）泥样采集，采样管内含活塞连杆，可轻松将样品推出。 浅水和深水皆