工程热物理所微纳热电薄膜材料热物性表征研究获进展
将热电材料制作成纳米柱状薄膜结构是一种理论上能有效降低热导率、大幅提升热电优值的操控手段。但随之而来的问题是纳米柱状薄膜热导率的精确获取困难，由于Bi2Te3取向纳米柱状薄膜是由直径为微米量级的纳米柱阵列组成的多孔结构，其表面粗糙度较大，因此在表面上直接沉积百纳米厚的微型金属探测器的实验方案无法适用。常规的热物性测试手段已无法适用于该类表面多孔、厚度为微米量级结构热输运特性的表征。 近日，中国科学院工程热物理研究所传热传质研究中心在多年从事微纳尺度热物性测量的基础上，发展了基于谐波探测的3ω方法，实现了Bi2Te3取向纳米柱状微纳复合薄膜热导率的测试。课题组提出一种新型的3ω法测试结构：在玻璃基底上直接沉积3ω法的四电极微型镍传感器，然后在其上沉积绝缘层，最后生长Bi2Te3取向纳米柱状薄膜。各层材料的布置及厚度示于图1，其中微型镍传感器的形状示于图2。通过此新型测试结构，实验获得的Bi2Te3纳米柱状薄膜的热导率和热扩......阅读全文
活塞式柱状沉积物采样器操作使用
使用注意事项：1. T型手柄、延长杆、全部通过扳手连接，根据取样深度，选择用几个1米的延长杆。2. 不锈钢土壤采样钻，或者有机玻璃采样管，根据需要，装在最顶头的延长杆上3. 用土壤钻头取样，直接插入底泥中，旋转手柄，提拉，用刮刀取出土壤样品用透明有机玻璃采样管取样，装配好后，慢慢旋转插入河底污泥中，
沉积物柱状采泥器的使用注意事项
沉积物柱状采泥器是将地面或水体底部沉积物以柱状形采出的装置，采集柱状试样的目的是研究沉积物各层次的化学成分和底栖生物在泥中的垂直分布状况。因此在采集样品时不能打乱沉积的自然层次。主要用于河流、湖泊、水库及浅海区等水域的沉积物（底泥）泥样采集，采样管内含活塞连杆，可轻松将样品推出。 浅水和深水皆
哈勃发现7500光年外船底星云巨大氢气柱状物
哈勃望远镜发现船底星云巨大氢气柱状物 北京时间9月22日消息，据美国太空网报道，美国宇航局“哈勃”太空望远镜近期公开的一幅太空照片显示，在距离地球7500光年外的船底星云中，出现数个巨大的氢气和尘埃柱状物。科学家认为，这些浓密的柱状结构可能是恒星托儿所。 据科学家
实验的粒径数据怎么会绘制成柱状图
实验的粒径数据绘制成柱状图步骤是：实验的粒径数据分析仪是通过代表性地扫描颗粒数目进行统计，蓝色曲线代表每个粒度所占百分比，对应横坐标粒度和左边纵坐标百分比，红色曲线代表粒度的累积百分比，对应横坐标粒度和右边纵坐标百分比。这样实验的粒径数据绘制成柱状图就完成了。
物理所等基于碳纳米管薄膜的柔性储能器件研究取得进展
单壁碳纳米管作为典型的一维纳米材料，由于其独特的结构而具有许多优异的物理及化学性质，在力学，电学，光学及电化学等方面有着潜在的应用。如何实现碳纳米管的潜在应用，以及提高碳纳米管在实际应用中的性能是目前研究者们关注的焦点。 中科院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室(筹)先进材料与结构分析实
物理所实现柔性碳纳米薄膜的透明导电协同提升和大面积制备
未来，电子、光电、能源等领域需要大面积柔性透明导电薄膜（TCF）。由于铟是不可再生资源且价格昂贵以及氧化铟锡固有的脆性，现代技术广泛应用的氧化铟锡TCF难以满足科技发展尤其是新一代柔性电子器件的需求。目前，科学家已开发出碳纳米薄膜、金属纳米线、导电高分子等替代氧化铟锡的透明导电材料。其中，碳纳米薄膜
物理所碳纳米管薄膜简洁超级电容器研究取得新进展
最近，中科院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室（筹）先进材料与结构分析实验室“纳米材料与介观物理”课题组提出了一种结构简单、重量轻、能量密度和功率密度高的碳纳米管薄膜简洁式超级电容器及其制备方法。相关研究结果发表在Energy & Environmental Science（2011, 4,
椭偏仪和反射式膜厚测量仪在测量纳米薄膜时有何差别
1.二者原理不同:椭偏仪：通过测量光波经样品反射后偏振态的变化来获得样品的信，可测量膜层厚度d、折射率n和消光系数k，或者直接测量固相材料的折射率n和消光系数k。反射式膜厚测量仪：一般是利用白光干涉的原理，通过测量光波经样品反射后幅值（或者说光强）的变化来获得膜层的厚度d、折射率n和消光系数k信息。
全固态薄膜锂电池负极薄膜的研究
全固态薄膜锂电池的负极薄膜目前多采用金属锂薄膜。 金属锂具有电位低、比容量高等优点，而其安全性差、充放电形变大的缺点由于薄膜电极很薄而近于忽略，但考虑到全固态薄膜锂电池未来在微电子方面的用途，采用锂薄膜作为负极不能耐受回流焊的加热温度（锂熔点l80.5℃，回流焊温度245℃），因此，薄膜锂电池
全固态薄膜锂电池正极薄膜的研究
薄膜锂电池的正极材料初期主要是Ti2S3、MoS2、MnO₂等，随后被电位更高的正极材料代替，如V2O3、LiCoO2、LiNiO2、LiMn2O4。薄膜制备技术也从初期的蒸镀、旋涂、溅射等技术不断完善增加。 钒氧化物和钒酸锂类正极材料一直是正极材料研究的重要方向，其作为薄膜锂电池的正极材料具
活塞式柱状沉积物采样器使用方法：
活塞式柱状沉积物采样器用途：采集河、湖泊、池塘的水下沉积物（底泥、底质、污泥）、沼泽土、泥碳土。适于水深：3m；采样管：长100cm、直径4cm；不锈钢切割头（常规分析采样）、工程塑料切割头（重金属分析采样）、 活塞式柱状沉积物采样器使用方法：1：将活塞杆穿过固定器，再把活塞装在活塞杆上，然后将活塞
竖直柱状分层重力型采泥器操作步骤及保养方法
操作步骤：一步：将采样管装在采泥器主体上，旋紧采样管固定装置。第二步：将密封活塞往上提，用力提住采样绳，使活塞处于打开状态。第三步：将采泥器缓慢放入水中，待沉到水底，抖动绳子，使采样绳不再受力，密封活塞自动闭合，使采样管处于真空状态。第四步：通过采样绳将采泥器提上岸，松开采样管旋紧装置，取下采样管，
沉积物柱状采样器的特点及使用方法
沉积物柱状采样器用于采集湖泊、河流等柱状沉积样品，通过插入水体底部沉积物中采集沉积物样品，可保证在采集过程中不会打乱沉积物的自然层次。普森提供的沉积物柱状采样器具有操作简单、独特锁水设计及不会打乱沉积物的自然层次的特点。它的使用简单，既可以从浅水中取样，也可从深水中取样。使用方法如下： 1、当取
沉积物柱状采样器的特点及使用方法
沉积物柱状采样器用于采集湖泊、河流等柱状沉积样品，通过插入水体底部沉积物中采集沉积物样品，可保证在采集过程中不会打乱沉积物的自然层次。普森提供的沉积物柱状采样器具有操作简单、独特锁水设计及不会打乱沉积物的自然层次的特点。它的使用简单，既可以从浅水中取样，也可从深水中取样。使用方法如下： 1
薄膜测厚仪－塑料薄片厚度测量仪－薄膜厚度仪
薄膜测厚仪 塑料薄片厚度测量仪 薄膜厚度仪型号：LT/CHY-C2薄膜测厚仪/薄膜厚度仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块
GB/T6672－薄膜测厚仪－薄膜厚度测量仪
Labthink兰光CHY-C2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、
二维有序介孔材料应用于微型超级电容器研究获进展
二维材料，如石墨烯，是一类具有重要应用前景的平面微型超级电容器电极材料。发展二维材料基复合介孔纳米片，不仅可有效抑制片层的堆叠，增加比表面积，而且可大大缓冲电极的体积膨胀，提高电解液离子的扩散和电化学性能。但是，目前报道的都是关于面内垂直柱状的介孔纳米片，而面内平行柱状的有序介孔纳米片的可控制备
新型防伪标签：哈口气就能鉴别真假
防伪商标是一个复杂又昂贵的工艺，而且一些简单的防伪技术很容易被造假者模仿。现在，一种新的纳米印刷技术制成的防伪标签，只需哈一口气就能显出“水印”，让人轻松鉴别真假。 这项技术是由密歇根大学的研究人员发明的，他们最初研究这项防伪技术的目的是帮助人们识别假药。因为假药的危害很大，严重时甚至致命，据
电脑式薄膜测厚仪
电脑式薄膜测厚仪适用于用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量,济南三泉中石小编主要介绍了台式测厚仪的用途、标准及相关技术指标。 电脑薄膜测厚仪CHY-U适用薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度测量,是一款超高测试误差的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检机
光学薄膜概论
光学薄膜概论光学工业除了镜片的研磨，系统之设计以外，有一项科技是发展高级光学仪器所不可缺的，就是光学薄膜的蒸镀技术。何谓光学薄膜，就是在镜片上镶上一层或多层非常薄的特殊材料，使镜片能达到某种特定的光学效果。我们所常见的太阳眼镜，抗反射镜片就是一个光学薄膜在日常生活上zui简单的应用 。其他如各种反射
薄膜分配色谱
薄膜色谱是环境物质常用的一种分析方法。 一、正常分配 硅胶或氧化铝上的薄膜色谱是一种吸附过程,吸附剂上的微量水份被强力吸附,使分配对于分离不起任何作用。由于这一物质的吸附活性,当薄膜在喷浸适当的固定相物质后,可做分配色谱之用。用市场上特制的担体硅藻土G,因为没有吸附性能,可专作分配色谱之用。
薄膜测厚仪选择方法
说起薄膜测厚仪，塑料薄膜生产厂家、薄膜研发机构和质检机构非常的了解。薄膜测厚仪的使用范围却非常广泛，在各个地方都有应用，比如对塑料薄膜进行厚度测试，若是检测出金属涂层厚度不均匀就证明产品是会影响质量和美观的，所以在薄膜测厚仪的选择上也是非常重要的。 薄膜测厚仪那么，薄膜测厚仪如何挑选呢？1.在选择薄
[光学]薄膜的定义
中文名称[光学]薄膜英文名称optical coating定 义为改变光学零件表面光学特性而镀在光学零件表面上的一层或多层膜。可以是金属膜、介质膜或这两类膜的组合。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学仪器一般名词（三级学科）
高精度薄膜测厚仪
ZH5922型高精度薄膜测厚仪适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。技术特征1.微电脑控制、液晶显示2.接触式测量原理3.测量头自动升降4.智能化操作，实现自动进样5.手动、自动双重测量模式6.数据实时显示、自动统计7.显示zui大值、zui小值、平均值8.
吹塑薄膜制作原理
塑料薄膜就其成型方式而言,主要分为挤出法和压延法两大类,而挤出法又分为吹塑和流延两种。与挤出流延和压延法相比,挤出吹塑设备投资少,占地面积小,薄膜纵横向性能较均衡。由于市场对功能性薄膜等的强劲需求以及共挤技术的发展,近年来吹塑薄膜法得到了迅猛发展。吹塑薄膜法的三种类型，根据挤出和牵引方向的不同，分成
吹塑薄膜制作原理
塑料薄膜就其成型方式而言,主要分为挤出法和压延法两大类,而挤出法又分为吹塑和流延两种。与挤出流延和压延法相比,挤出吹塑设备投资少,占地面积小,薄膜纵横向性能较均衡。由于市场对功能性薄膜等的强劲需求以及共挤技术的发展,近年来吹塑薄膜法得到了迅猛发展。吹塑薄膜法的三种类型，根据挤出和牵引方向的不同，分成
薄膜干涉条纹间距
因为等厚干涉现象的两任意相邻条纹之间的厚度差等于λ／2,即薄膜层介质中光的波长的一半,而条纹间距△X*sinΘ=λ／2因为角度小的时候可以认为sinΘ=Θ,所以推出：△X＝λ／2Θ
PI薄膜的优点
PI薄膜(PolyimideFilm)是世界上性能好的薄膜类绝缘材料，由均苯四甲酸二酐(PMDA)和二胺基二苯醚(DDE)在强极性溶剂中经缩聚并流延成膜再经亚胺化而成。 下面让我们一起来了解一下PI薄膜的优点吧 (1)优异的耐热性。聚酰亚胺的分解温度一般超过500℃,有时甚至更高,是目前
薄膜干涉条纹间距
因为等厚干涉现象的两任意相邻条纹之间的厚度差等于λ／2,即薄膜层介质中光的波长的一半,而条纹间距△X*sinΘ=λ／2因为角度小的时候可以认为sinΘ=Θ,所以推出：△X＝λ／2Θ
各种薄膜的密度
常用塑料薄膜的密度，如下尼龙薄膜密度 1.16PE薄膜密度 0.93CPP薄膜密度 0.91BOPP薄膜密度 0.91PVC薄膜密度 1.38PET薄膜密度 1.38 BOPP珠光薄膜的密度 0.75