上海交通大学尖端物质结构研究中心成立
国际先进电镜技术研讨会同时举行 3月29日，国际先进电镜技术研讨会暨上海交通大学尖端物质结构研究中心揭牌仪式在上海交通大学闵行校区举行。上海交通大学校长张杰院士与日本电子株式会社社长栗原権右卫门共同为尖端物质结构研究中心揭牌。 清华大学副校长薛其坤院士、清华大学朱静院士、浙江大学张泽院士、上海交通大学潘健生院士等出席。日本东北大学樱井利夫教授，上海交大林栋梁教授、张国定教授，晶澳太阳能控股有限公司副总裁黄新明教授，以及来自其他高校、企业代表、上海交大机关部处、上海交大材料学院领导等70余人出席会议，全校师生100余人参加研讨会。开幕暨揭牌仪式由上海交大材料科学与工程学院院长孙宝德教授主持。尖端物质结构研究中心主任陈明伟教授向与会人员致了欢迎词。 张杰院士首先代表上海交通大学致辞。他对中心的成立表示了热烈的祝贺，他还详细的介绍了该中心建立的目的，讲述了中心建立过程中的故事，强调了中心的建立对材料学科甚至整个学校的重......阅读全文
JEOL携手加州大学创建超级电镜和材料研究平台
JEOL USA和加州大学欧文分校的材料研究所(IMRI)达成战略合作伙伴关系，将创建超级电镜和材料科学研究平台。IMRI将成为新材料研发的跨学科研究平台，将促进太阳能电池、电池、半导体、生物科学和医疗技术的进步发展。 IMRI的负责人为Dr. Xiaoqing Pan，国际知名的材料物理研
电镜“老玩家”袁建忠：专注电镜20年，共筑科技强国梦
分析测试百科网讯 显微系统作为人们观察微观物质结构的伟大发明，已经被用于各行各业中，成为现代分析的重要工具之一。在显微界中，有这样一家公司，从诞生之日起不断追求更高的显微技术，同时也一直引领着全球显微技术的发展潮流，她就是知名电子光学系统制造商——日本电子（中国地区称为“捷欧路”）。
透射电镜江湖纷争（一）：日本电子JEOL
如今的透射电子显微镜市场，可谓是呈三足鼎立之势：日本电子，日立和FEI。 今天主要介绍一下老大哥日本电子株式会社JEOL。 提起日本电子，大家都不陌生，目前在我国各大科研院所都不难看到JEOL电镜的影子。日本电子株式会社，是一家世界顶级的科学仪器生产制造商。在这么多的仪器制造商中说它顶级，其
JEOL发布新型电子显微镜JEM1400Flash
分析测试百科网讯 近日，JEOL有限公司发布了新的电子显微镜JEM-1400Flash。 透射电子显微镜（TEM）用于生物学，纳米技术，聚合物和先进材料等广泛领域。在生物标本或大分子材料的观察中，通常首先在低放大倍率下确认细胞组织或材料的整个结构，然后在高倍率下仔细研究感兴趣的细小结构。为了顺
透射电镜江湖纷争（二）：FEI
上一篇文章主要介绍了日本电子，今天，我们就一起来看看JEOL在透射电镜领域最有力的竞争者——FEI。 FEI是一家美国的高科技公司，是为全球纳米技术团体提供解决方案的创新者和领先供应商, “TOOLS FOR NANOTECH”，生产的产品主要面向半导体、数据存储、结构生物学、材料和工业领域。
上海交通大学尖端物质结构研究中心成立
国际先进电镜技术研讨会同时举行 3月29日，国际先进电镜技术研讨会暨上海交通大学尖端物质结构研究中心揭牌仪式在上海交通大学闵行校区举行。上海交通大学校长张杰院士与日本电子株式会社社长栗原権右卫门共同为尖端物质结构研究中心揭牌。 清华大学副校长薛其坤院士、清华大学朱静院士、浙江大学张泽院士
TEM球差
球差不完美透镜导致的直接结果就是引入了让显微学者最头疼的球差。电子的聚焦是靠洛伦兹力来实现的，在洛伦兹力的作用下，电子以旋进的方式聚焦。在TEM里有一条光轴，就和光学显微镜中的光轴一样，偏离光轴时，透镜对光的聚焦能力和靠近光轴的聚焦能力是不同的。当然了，原则上是希望穿过透镜的光都能聚焦到焦点上。这点
如何选择电镜：不妨看看这75篇重要文献
这是一篇有关电子显微镜的综述，是根据75篇发表使用实验的文章归纳的。可以帮助读者找到最适合的电子显微镜。日立高新Hitachi High Technologies America为研究碳酸酐酶可通过spidroin蛋白末端功能域促进蜘蛛丝的形成，采用Hitachi的H7100 electr
日本电子发布截至3月31日的2020年财报：收入1172亿日元
分析测试百科网讯，日本电子（JEOL）发布截止到2020年3月31日的2020年财报，销售收入1172.43亿日元，相比去年1112.89亿日元增长5.4%。2019年毛利润448.65亿日元，毛利率为38.27%，运营利润7.03亿日元，相比去年增5.4%，净利润为5.389亿日元，净利润率为4.
最高分辨率的球差过滤分析型透射电镜问世
日本电子株式会社今年迎来了开业60周年庆典，随着庆祝活动大幕的徐徐拉开，最新发布的S/TEM球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F也在本月开始全球接受订单。JEM-ARM200F是目前全球分辨率最高的商业化透射电镜，分辨率可达0.08nm。第一台该型号的透射电镜将安装在美国的德克萨斯大学(
只需3分钟，2018年电镜重点大事了然于胸
500万以上电镜中标汇总及分析 #abcd2 td{border:1px solid #666666} 采购单位
2011年度JEOL材料科学透射电镜举办用户会
2011年度日本电子(JEOL)材料科学透射电镜用户会会议通知(第二轮) 感谢中国广大用户对日本电子株式会社(JEOL)长期以来的支持和信赖，近年来，日本电子在国内共销售130台六硼化镧透射电镜、52台场发射透射电镜和5台球差校正透射电镜JEM-ARM200F。 为了加强用户和厂家之间的
2025年度前三季度电镜中标盘点：最受欢迎的明星型号都有谁？
电镜是材料科学、生命科学、半导体工业、纳米技术等领域不可或缺的分析工具。电子显微镜主要包括：扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM），还有一种分类把聚焦离子束（FIB-SEM）单独分出来，但在本文的统计中，FIB-SEM算到扫描电镜中进行统计。 本文首先介绍了不同类型显微镜的工作原理、技术特点及
世界首台JEMARM200F拍摄图像堪比哈勃
2010年1月开始在University of Texas at San Antonio安装的世界首台JEM-ARM200F在2月初已获得惊人结果。 能在短短3周内就能获得至少78皮米分辨率彰显了该仪器的超级稳定性和UTSA-JEOL出色的合作与技巧。 世界著名显微学及纳米技术学
JEOL宣布JEMARM200F获得一项重要订单
日本电子株式会社(JEOL)9月20日荣幸的宣布美国国家标准技术研究院(NIST)决定采购一台原子级分辨率分析型透射电子显微镜JEM- ARM200F。该仪器将被安装在科罗拉多州Boulder市美国国家标准技术研究院精确测量实验室(NIST Precision Measurement L
JEOL发布高灵敏度多通道检测器“4DCanvas”－可应用于多款电镜
分析测试百科网讯 2017年7月26日，日本JEOL有限公司发布新型STEM检测器“4DCanvas”（像素化STEM检测器）。“4DCanvas”记录了所有传输、衍射和散射电子的位置和强度，作为STEM图像的每个像素的二维（2D）图案。该像素化检测器的传感器是具有264×264像素的直接电子检
探索物质结构之透射电子显微镜
眼睛是人类认识客观世界的第一架“光学仪器”，但它的能力却是有限的，通常认为人眼睛的分辨率为0.1 mm。17世纪初，光学显微镜（图1）出现，可以把细小的物体放大到千倍以上，分辨率比人眼睛提高了500 倍以上，这也是人类认识物质世界的一次巨大突破。随着科学技术的不断发展，直接观察到原子是人们一直以来的
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析2017-12-04 07:00透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短
透射电子显微镜TEM系统组件
电子枪：发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。 ● 聚光镜：将电子束聚集，可用已控制照明强度和孔径角。 ● 样品室：放置待观察的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热、冷却等设
透射电子显微镜TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况： ● 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 ● 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应
什么是透射电子显微镜－TEM？
透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、组织分析、晶体结构等。透射电镜显微成像原理是：通过钨丝电极的阴极发射电子束，再用阳极加速电子束，当电
TEM透射电子显微镜的简介
TEM透射电子显微镜（Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显
日本电子最新球差校正透射电镜观察到氢(H)原子
日本东京大学IKUHARA教授使用JEOL的球差校正透射电镜上的最新ABF技术，观察到氢(H)原子。该论文上周五2010年11月5日发表在APEX上并引起轰动。论文资料将于近日上传，敬请期待。
助力半导体工业－日本电子推出高通量分析电镜JEMACE200F
分析测试百科网讯 近日，日本电子总裁Gon-emon Kurihara对外宣布，日本电子将在2018年12月发布一款新型高通量分析电子显微镜—JEM-ACE200F，公司预设销售数量为30台/年。 产品开发背景 随着半导体工业中元器件进一步小型化，透射电镜已经成为元器件表征多种手段中必不可少
透射电子显微镜TEM的原理知识
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件
透射电子显微镜的TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不
透射电子显微镜（TEM）的工作原理
工作原理透射电镜和扫描电镜一样，利用聚焦电子束作为照明源，不同的是，透射电镜是以透射电子为成像信号，而扫描电镜是以二次电子、背散射电子等为成像信号（如下图所示）。由于透射电镜样品需要很薄，大部分电子会穿透样品，其强度分布与所观察样品的形貌、组织、结构一一对应。透过样品后的电子束经物镜汇聚调焦和初级放
透射电子显微镜(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、