中科院物理所时间分辨电子显微镜研制成功

10月30日,中科院条件保障与财务局组织专家对物理所李建奇课题组承担的2012年中科院科研装备研制项目“时间分辨透射电子显微镜”进行了现场验收。项目技术测试专家组检查了设备的现场运行情况,进行了技术测试。项目验收专家组听取了项目组的工作报告、财务报告、用户使用报告以及测试报告,审核了相关文件档案。经讨论认为承担单位完成了实施方案规定的研制任务和技术指标,实现了研制目标,一致同意通过验收。 时间分辨透射电子显微镜也称为四维超快电子显微镜(4D-UTEM)或动态电子显微镜,是近期发展起来的一种新型电子显微技术,是超快激光和高分辨电子显微术有机结合的产物,超快电子显微术已经成为国际超快结构动力学和电子显微学的前沿领域。4D-UTEM可以在极高时间(皮秒至飞秒)和空间分辨率(纳米至埃)下观察材料中复杂的瞬态动力学过程,是研究物理、化学、生物以及材料科学中许多基本现象和机理的重要技术手段。 在研制过程中,李建奇项目小组以......阅读全文

透射电子显微镜简介

  电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样,所不同的是前者用电子束作光源,用电磁场作透镜。另外,由于电子束的穿透力很弱,因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机(ultramicrotome)制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真

透射电子显微镜功能

  早期的 透射电子显微镜功能主要是观察样品形貌,后来发展到可以通过 电子衍射 原位分析样品的 晶体结构。具有能将形貌和晶体结构原位观察的两个功能是其它结构分析仪器(如光镜和X射线衍射仪)所不具备的。  透射电子显微镜增加附件后,其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察(TEM)、原位的电子衍射分析(

透射电子显微镜概述

  透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的

透射电子显微镜结构

透射电子显微镜结构  透射电子显微镜的结构透射电子显微镜(TEM)是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具。TEM用聚焦电子束作照明源,使用对电子束透明的薄膜试样,以透过试样的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析试样内部的显微组织结构。  图1(a)(b)是两种典型的透射电镜的实物照片。透射

中科院物理所时间分辨电子显微镜研制成功

  10月30日,中科院条件保障与财务局组织专家对物理所李建奇课题组承担的2012年中科院科研装备研制项目“时间分辨透射电子显微镜”进行了现场验收。项目技术测试专家组检查了设备的现场运行情况,进行了技术测试。项目验收专家组听取了项目组的工作报告、财务报告、用户使用报告以及测试报告,审核了相

如何提高透射电镜分辨率

透射电子显微镜分辨率的提高取决于电磁透镜的制造水平不断提高,球差系数逐渐下降;透射电子显微镜的加速电压不断提高。为了获得高亮度且相干性好的照明源,电子枪由早期的发夹式钨灯丝,发展到LaB6单晶灯丝,现在又开发出场发射电子枪,

什么是透射电子显微镜

透射电子显微镜(Transmission electron microscopy,TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为

透射电子显微镜的由来

  因电子束穿透样品后,再用电子透镜成像放大而得名。它的光路与光学显微镜相仿,可以直接获得一个样本的投影。通过改变物镜的透镜系统人们可以直接放大物镜的焦点的像。由此人们可以获得电子衍射像。使用这个像可以分析样本的晶体结构。在这种电子显微镜中,图像细节的对比度是由样品的原子对电子束的散射形成的。由于电

什么是透射电子显微镜

透射电子显微镜(Transmission electron microscopy,TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为

透射电子显微镜-背景知识

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如

透射电子显微镜结构原理

  透射电镜的总体工作原理是:由电子枪发射出来的电子束,在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜,通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑,照射在样品室内的样品上;透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息,样品内致密处透过的电子量少,稀疏处透过的电子量多;经过物镜的会聚调焦和初级放大后,电子束进

透射电子显微镜应用举例

透射电子显微镜价格  200KV场发射透射电子显微镜参考价格:150万  LVEM5台式透射电子显微镜参考价格:130万  日立120kV透射电镜HT7800参考价格: 900~1000万元  HT7700日立高新透射电子显微镜参考价格: 300~400万元  H-9500透射电子显微镜参考价格: 

透射电子显微镜的特点

  1、由于样品制备技术的限制,对大多数生物样品来说,一般只能达到2nm的分辨率。   2、电镜图像的分辨能力不仅取决于电镜本身的分辨率,而且取决于样品结构的反差。   3、电镜所用的光源是电子波,波长在非可见光范围内无颜色反应,所形成的图像是黑白图像,要求图像必须具有一定的反差。   4、生

透射电子显微镜的简介

  电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样,所不同的是前者用电子束作光源,用电磁场作透镜。另外,由于电子束的穿透力很弱,因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机(ultramicrotome)制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真

扫描透射电子显微镜简介

  扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。

透射电子显微镜的结构

  透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是目前使用最普遍的一种电镜,占使用电镜的80%,其分辨率、放大倍数及各项性能都比其他类型电镜高。透射电镜是用电子束照射标本,用电子透镜收集穿透标本的电子并放大成像,用以显示物体超微结构的装置。透射电镜的分辨

透射电子显微镜的优点

透射电子显微镜的优点扫描透射电镜是在20世纪50年代开发的。 而不是光,透射电镜使用的电子聚焦光束,它通过一个样本,以形成图像发送。 通过光学显微镜透射电子显微镜的优点是它能够产生更大的放大倍率,光学镜不能显示详细信息。 在显微镜的工作原理透射电子显微镜光学显微镜类似工作,而不是光或光子,他们使用的

什么是透射电子显微镜

透射电子显微镜(Transmission electron microscopy,TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为

透射电子显微镜的应用

  透射电镜具有分辨率高、可与其他技术联用的优点,在材料学、物理、化学和生物学等领域有着广泛地应用。  材料的微观结构对材料的力学、光学、电学等物理化学性质起着决定性作用。透射电镜作为材料表征的重要手段,不仅可以用衍射模式来研究晶体的结构,还可以在成像模式下得到实空间的高分辨像,即对材料中的原子进行

透射电子显微镜的简介

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射

透射电子显微镜的应用

透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体

透射电子显微镜的结构

 透射电子显微镜的结构  透射电子显微镜结构包括两大部分:主体部分为照明系统、成像系统和观察照相室;辅助部分为真空系统和电气系统。  1、照明系统  该系统分成两部分:电子枪和会聚镜。电子枪由灯丝(阴极)、栅级和阳极组成。加热灯丝发射电子束。在阳极加电压,电子加速。阳极与阴极间的电位差为总的加速电压

透射电子显微镜的简介

电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样,所不同的是前者用电子束作光源,用电磁场作透镜。另外,由于电子束的穿透力很弱,因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机(ultramicrotome)制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系

透射电子显微镜的结构

  透射电子显微镜由以下几大部分组成:照明系统,成像光学系统;记录系统;真空系统;电气系统。成像光学系统,又称镜筒,是透射电镜的主体。(详见右图)  照明系统主要由电子枪和聚光镜组成。电子枪是发射电子的照明光源。聚光镜是把电子枪发射出来的电子会聚而成的交叉点进一步会聚后照射到样品上。照明系统的作用就

时间分辨荧光计的主要组成

时间分辨荧光计由三大部分组成:光源:脉冲光源:氙灯(每秒闪烁1000次);小型N2激光器;输出脉冲波长:337nm荧光信号获取系统;数据处理系统医学教|育网搜集整理。

为何选用时间分辨荧光检测?

我们知道,以常用荧光素作为标记物的荧光免疫测定往往受本底荧光的干扰影响,例如包括样本载体、血清成分、仪器激发光源的杂射光的干扰,使得灵敏度受到很大限制。时间分辨荧光免疫测定(timeresolvedfluorescenceimmunoassay,TR-FIA)是针对这缺点加以改进的一种新型检测技术。

时间分辨荧光免疫分析增强原理

  解离增强镧系元素荧光免疫分析(DELFIA)是时间分辨荧光免疫分析中的一种。它用具有双功能基团结构的螯合剂,使其一端与铕(Eu)连接,另一端与抗体/抗原分子上的自由氨基连接,形成EU标记的抗体/抗原,经过免疫反应之后生成免疫复合物。由于这种复合物在水中的荧光强度非常弱,因此加入一种增强剂,使Eu

时间分辨荧光免疫分析原理(图)

荧光法是一种非常有用的工具,各种各样的分析领域都在利用它。由于它具有高灵敏度、好的选择性以及可提供多参数信息(如,荧光强度、荧光寿命、荧光各向异性)等特点,所以被广泛用于生物制药研究、临床诊断、宇宙空间环境监测、免疫分析中分子间作用原理研究、DNA序列分析、荧光原位杂交以及细胞成分分析等。镧系系复合

时间分辨荧光分析法(TRFIA)

 时间分辨荧光分析法(Time resolved fluoroisnmunoassay,TRFIA)是近十年发展起来的一测微量分析方法,是目前最灵敏的微量分析技术,其灵敏度高达10-19,较放射免疫分析(RIA)高出3个数量级。  时间分辨荧光分析法(TRFIA)实际上是在荧光分析(FIA)的基础上

时间分辨荧光免疫测定原理

时间分辨荧光免疫(TR-FIA)测定基本原理是以镧系元素如铕(Eu)螯合物作为荧光标记物,利用这类荧光物质有荧光寿命长的特点,延长荧光测量时间,待短寿命的自然本底荧光完全衰退后再行测定,所得信号完全为长寿命镧系螯合物的荧光,从而可以有效地消除非特异性本底荧光的干扰,可以用于定量测定。