电子显微镜“变身”立体微雕机

最近,美国能源部橡树岭国家实验室研究人员开发出一种独特的、制作三维结构的方法,用扫描透射电子显微镜发出的电子束做“雕刻刀”,做出的三维结构不仅有精细可控的形状,而且大小只有几纳米。 雕刻结构以一种完美的、晶体排列的形式向外生长而成,保证了整个材料有着一致的电子和机械性质。由于雕刻品的精细程度达到单个原子水平,这一技术在制作微芯片等功能性纳米设备方面极为有用。该研究负责人阿尔宾娜·玻利谢维奇说,这种方法能让他们以更高精度做出更小的结构,更主动地控制材料性质。 据物理学家组织网近日报道,研究人员发现这一方法纯属偶然。当时他们正在观察一片有瑕疵的钛酸锶薄膜,样本底层是晶体态,上层是非晶体态。当电子束穿过时,材料发生了变形。玻利谢维奇说:“当我们把非晶体层放在电子束下时,好像促进它向更完美的结晶态衍化,电子束确实起了这种作用。” 利用扫描透射电子显微镜,射出电子束通过一块材料,这有点像光刻技术,但光刻只是改变材料的表面。而用精......阅读全文

扫描透射电子显微镜简介

  扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。

扫描透射电子显微镜的应用

扫描透射电子显微镜是指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式。扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种发展。扫描线圈迫使电子探针在薄膜试样上扫描,与扫描电子显微镜不同之处在

扫描透射电子显微镜的优点

1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

扫描透射电子显微镜的优点

  1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。  2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。  3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。  4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

扫描透射电子显微镜应用特征

1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

扫描透射电子显微镜的优点

1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

扫描透射电子显微镜的来源

  扫描透射电子显微镜是指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式。  扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种发展。扫描线圈迫使电子探针在薄膜试样上扫描,与扫描电子显微镜不

扫描透射电子显微镜的优点

1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

扫描透射电子显微镜的工作原理

  STEM成像不同于一般的平行电子束TEM, EDS 成像,它是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下,场发射电子源发射出电子,通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后,通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时,样品下面的探测器同步

扫描透射电子显微镜的功能介绍

扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。

扫描透射电子显微镜的结构功能

扫描透射电子显微镜是指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式。扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种发展。扫描线圈迫使电子探针在薄膜试样上扫描,与扫描电子显微镜不同之处在

扫描透射电子显微镜的技术原理

扫描透射电子显微镜是指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式。扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种发展。扫描线圈迫使电子探针在薄膜试样上扫描,与扫描电子显微镜不同之处在

扫描透射电子显微镜的工作原理

STEM成像不同于一般的平行电子束TEM, EDS 成像,它是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下,场发射电子源发射出电子,通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后,通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时,样品下面的探测器同步接收

扫描透射电子显微镜的技术特点

扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。

扫描透射电子显微镜的工作原理

STEM成像不同于一般的平行电子束TEM, EDS 成像,它是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下,场发射电子源发射出电子,通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后,通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时,样品下面的探测器同步接收

扫描透射电子显微镜的技术优势

1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。2. 利用扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现微区衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。4. 进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察

实验概要本实验详细介绍了透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察。主要试剂醋酸戊脂,浓硫酸,无水乙醇,无菌水,2%磷钨酸钠(pH6.5-8.0)水溶液,0.3%聚乙烯甲醛(溶于三氯甲烷)溶液,细胞色素c,醋酸铵,质粒pBR322。主要设备普通光学显微镜,铜网,瓷漏斗,烧杯,平皿,无菌滴管,无菌镊子,大头

透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察

实验概要本实验详细介绍了透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察。主要试剂醋酸戊脂,浓硫酸,无水乙醇,无菌水,2%磷钨酸钠(pH6.5-8.0)水溶液,0.3%聚乙烯甲醛(溶于三氯甲烷)溶液,细胞色素c,醋酸铵,质粒pBR322。主要设备普通光学显微镜,铜网,瓷漏斗,烧杯,平皿,无菌滴管,无菌镊子,大头

扫描透射电子显微镜的工作原理和分析过程

STEM成像不同于一般的平行电子束TEM, EDS 成像,它是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下,场发射电子源发射出电子,通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后,通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时,样品下面的探测器同步接收

扫描电子显微镜与透射电子显微镜成像原理有什么不同

扫描电镜主要是电子束照射到样品后的二次电子成像,透射电镜的明场像是透射电子成像。电子显微镜简称电镜,英文名Electron Microscope(简称EM)经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光

扫描电子显微镜和透射电子显微镜的效果有什么不同?

1.   1932年Ruska发明了以电子束为光源的(transmission electron microscope,TEM),电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。  与的成像原理基本一样

扫描电子显微镜与透射电子显微镜成像原理有何不同

扫描电镜主要是电子束照射到样品后的二次电子成像,透射电镜的明场像是透射电子成像。电子显微镜简称电镜,英文名Electron Microscope(简称EM)经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光

扫描透射像的形成原理

在扫描电镜中,电子束与薄样品相互作用时,会有一部分电子透过样品,这一部分透射电子也可用来成像,其形成的像就是扫描透射像(STEM像)。如图1所示,扫描电镜的STEM图像跟透射电镜类似,也分为明场像(bright field,BF)和暗场像(dark field,DF),明场像的探测器安装在扫描电镜样

扫描电镜透射模式(STEM)

扫描电子显微镜已成为表征物质微观结构不可或缺的仪器。在扫描电镜中,电子束与试样的物质发生相互作用,可产生二次电子、特征X射线、背散射电子等多种的信号,通过采集二次电子、背散射电子得到有关物质表面微观形貌的信息,背散射电子衍射花样得到晶体结构信息,特征X-射线得到物质化学成分的信息,这些得到的都是接近

扫描透射像的形成原理

扫描透射像的形成原理:在扫描电镜中,电子束与薄样品相互作用时,会有一部分电子透过样品,这一部分透射电子也可用来成像,其形成的像就是扫描透射像(STEM像)。如下图所示,扫描电镜的STEM图像跟透射电镜类似,也分为明场像(bright field,BF)和暗场像(dark field,DF),明场像的

扫描透射像的形成原理

在扫描电镜中,电子束与薄样品相互作用时,会有一部分电子透过样品,这一部分透射电子也可用来成像,其形成的像就是扫描透射像(STEM像)。如图1所示,扫描电镜的STEM图像跟透射电镜类似,也分为明场像(bright field,BF)和暗场像(dark field,DF),明场像的探测器安装在扫

扫描透射电镜(STEM)

扫描透射电镜(STEM)   成像方式与扫描电镜相似,不过接收的不是次级电子而是透射电子(包括部分小角散射电子)。样品也必须是薄膜,STEM的分辨本领与电子束斑直径相当。专门的STEM用高亮度场致发射电子枪(要求10-10托的超高真空)。分辨本领能达3 ? 。利用这种STEM已观察到轻元素支持膜上的

透射电子显微镜

   1、基本原理    在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构,这些结构称为亚显微结构(submicroscopic structures)或超微结构(ultramicroscopic structures;ultrastructures)。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,

透射电子显微镜

1、基本原理在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构,这些结构称为亚显微结构(submicroscopic structures)或超微结构(ultramicroscopic structures;ultrastructures)。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨

透射电子显微镜

因电子束穿透样品后,再用电子透镜成像放大而得名。它的光路与光学显微镜相仿,可以直接获得一个样本的投影。通过改变物镜的透镜系统人们可以直接放大物镜的焦点的像。由此人们可以获得电子衍射像。使用这个像可以分析样本的晶体结构。在这种电子显微镜中,图像细节的对比度是由样品的原子对电子束的散射形成的。由于电子需