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Pittcon2011展会厂商掠影(一)

为期一周的Pittcon 2011展会于3月18日落下帷幕。Pittcon大会可谓是分析化学及光谱学领域内影响力最大的展览会,与分析仪器相关的各大厂商都派出了强大阵容参加此次展会。据主办方统计,此次展会共有978家参展商参加(其中新参展商108个),展位2061个。来自中国的参展商就有超过16家。以下是部分厂商精彩掠影欣赏。 更多阅读: 16余家国内厂商精彩亮相Pittcon 2011 Pittcon 2011展会厂商风采 Bio-Rad 公司信息部软件和数据处理系统解决方案 IonSense公司DART离子源 日本东曹公司展台 日本电子SpirayTOF原理示意图 日本电子SpirayTOF质谱 日立电镜新产品 , 美国流体成像技术(Fluid Imaging Technologies)公司流式细胞摄像系统 CANNONGON公司展台 安捷伦597......阅读全文

Pittcon 2010讨论质谱的成就与挑战

  美国时间本周三上午,Pittcon 2010举行了以“质谱的成就与挑战”为主题的会议。会议由美国科罗拉多大学的Imma Ferrer 和 Michael Thurman教授组织。在会议开场致辞中,Michael教授评论了质谱的地位。  第一个演讲报告来自于美国德克萨斯大学Jennifer, 报告

力可公司TOF质谱评为PITTCON金奖

  2011年PITTCON科学家及业界主编委员会经过集体投票,将业界享有盛誉的编辑选择最佳新产品金奖授予美国力可公司的高分辨飞行时间质谱CitiusTM LC-HRT。这一奖项表彰最具创新性的新产品,而PITTCON是全球规模和影响力最大的实验室科学展会。CitiusTM LC-H

Cerno Bioscience将在Pittcon 2008上展示完整MassWorks 质谱套装软件

[ 2007年12月5日Cerno Bioscience] 思路生科(Cerno Biosciense)将在Pittcon 2008推出MassWorks sCLIPS (自校正线形谱图同位素轮廓搜索) ,是它的获奖产品-MassWoks的最近功能。使用Cerno的专利技术,sCLIPS

日本电子在Pittcon 2011展会上推出质谱和电镜新品

  2011年3月13日~3月18日,在美国亚特兰大举办的Pittcon 2011展会上, 日本电子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。  Spiral Tof-Tof   Spiral Tof-Tof 有15m的飞行时间,比常规的MALDI

Pittcon 2018!赛默飞与您相约质谱研讨会~~

  全球科学仪器行业内历史悠久、享誉盛名的Pittcon展会(匹兹堡分析化学和光谱应用会议暨展览会)将于2018年2月26日至3月1日在美国奥兰多会展中心盛大开幕。  赛默飞世尔将举行免费教育研讨会,与我们的技术专家互动,为您的工作流找到合适的解决方案。另外,每天下午3点至4点30分参加我们的展位,

LECO在Pittcon 2018发布多款元素分析及质谱新品

   2018年2月27日,一年一度的Pittcon展会(匹兹堡分析化学和光谱应用会议暨展览会)在美国奥兰多会展中心正式开展。作为全球科学仪器行业内历史悠久、规模最大的展会,本届Pittcon2018展会展出的全球工业、学术和政府实验室领域产品和服务受到了大家的广泛关注。力可仪器(LECO)发布了多

质谱及质谱的目的

质谱,是一种分析方法,原理就是让带电原子、分子或分子碎片按质荷比的大小顺序排列,打出相应的谱线。待分析的样品分子在离子源中离化成具有不同质量的单电行分子离子和碎片离子,这些单电荷离子在加速电场中获得相同的动能并形成一束离子,进入由电场和磁场组成的分析器中;其中离子束中速度较慢的离子通过电场后编转大,

气体分析质谱质谱原理

    质谱仪配备QuaderaTM 分析软件, 操作简单, 功能强大, 有128 个检测通道,可生成用户特殊应用软件界面. 在参数设置, 多种实测方式, 谱库, 数据统计, 谱图放大, 光标, 输入输出模块等性能的支持下, 可以更方便地进行定性定量分析以及在线离线分析.     Omnistar/

上海谱元仪器将参展PITTCON 2018

  我司将于2018年2月参加第69届美国匹兹堡实验室仪器展—PITTCON。   PITTCON是全球最大的分析化学,科学分析及实验室展,该展会将于2018年2月27日-3月1日在美国奥兰多举行。有关PITTCON 的更多信息,可登陆PITTCON官网站https://pittcon.or

质谱

不同质荷比的离子经质量分析器分离,而后被检测并记录下来的谱图叫作质谱图。简称质谱。质谱图的横坐标是质荷比(m/z) ,纵坐标是离子强度;质谱法(Mass Spectrometry) 即质谱分析法, 一般亦简称为质谱;质谱计(Mass Spectrometer): 采用顺次记录各种质荷比离子的强度的方