ThermoScientificKAlpha光电子能谱仪网络讲座已开始
赛默飞世尔科技“光电子能谱仪(XPS)技术特点及其在工业方面的应用”网络讲座已经开始，点击下面的链接即可参加： http://www.antpedia.com:81/ant_video/thermo/thermo5/web3.html 然后输入您的用户名、邮箱便可直接进入讲座 Thermo Scientific K-Alpha光电子能谱仪 XPS，是一种基于光电效应，采用X射线激发被测样品表面nm尺度内的原子发射光电子，通过系统探测到所发射光电子的动能等信息，进而分析样品表面的元素种类及化合态的定性和定量分析的一种技术。XPS技术目前已有超过40年的应用历史。目前广泛应用于科研和工业测试领域，包括化工、催化、薄膜、半导体、钢铁、纳米材料以及微器件等。本讲座介绍Thermo Scientific K-Alpha性能特点及其在钢铁/太阳能/镀膜玻璃/聚合物/纤维/纺织方面的应用。......阅读全文
网络讲座火热报名中－|－INVENIO科研型光谱仪稳操胜券
会议信息 会议主题：布鲁克INVENIO科研型光谱仪—— 傅立叶红外科研稳操胜券 会议时间：12月17日(周二) 16:30-17:30 讲师介绍：布鲁克德国红外应用专家 吴瑕博士 2006年本科毕业于波鸿市鲁尔大学化学系；硕博连读物理化学于鲁尔大学和卡尔斯鲁厄理工学院（KIT），并于201
新型轨道阱质谱－－解决食品安全难题网络讲座进行中。。。
瘦肉精猪肉，塑化剂饮料，染色馒头等层出不穷的食品安全事件使得食品安全检测技术人员一直在思索：有没有一种方法能够有效快速的监控这类食品安全问题呢? Thermo Scientific 2011年推出的全新Q Exactive四极杆静电场轨道阱质谱仪的诞生为解决这类
近红外光谱在制药行业的应用正网络讲座在进行。。。
赛默飞世尔科技近红外光谱在制药行业的应用网络讲座即将开始，点击参加：近红外光谱在制药行业的应用 讲座时间：2011年6月16日15:00-16:00 主讲人：赛默飞世尔科技产品专家 潘璐 主要内容：在制药行业近红外光谱技术已广泛用于原料进货验收时的质量鉴别、原料投放前的质量
网络讲座：表面增强拉曼散射(SERS)在食品安全中的应用
讲座主题：表面增强拉曼散射(SERS)在食品安全中的应用: 外源蛋白质检测 时间：9月24日(周一)上午9:00-10:30 诚邀您参加! 内容简介： 1. 表面增强拉曼光谱技术介绍 2. 如何采用增强拉曼探测外源蛋白? ――表面增强拉曼散射(SERS)技术在
分析测试百科网五月份网络讲座预报
2013年5月份，分析测试百科网将举办多场精彩网络讲座！讲座主题涵盖质谱、液相、红外光谱等在食品分析、环境分析、中药分析等应用；以及移动式红外仪器
AB－SCIEX－测定食品中多种邻苯二甲酸酯网络讲座
食品安全一直以来是国家和百姓的关注，近来的塑化剂事件更是闹得沸沸扬扬。塑化剂究竟是什么?为什么会到食品中去?我们对此就束手无策了?为了解决这种种疑问，2011年7月6日，AB SCIEX公司的亚太应用支持中心小分子邻域高级应用专家古珑与厦门出入境检验检疫局实验室副主任徐敦
LIBS在农业和环保在线检测中的应用网络讲座进行中。。。
作为一种新型光学检测手段，LIBS因其具有反应快速、实时在线、高灵敏度等优势而被应用于多个领域。结合多年农业传感技术、环境污染监测技术研究和开发经验，介绍LIBS技术在农业土壤养分、土壤重金属污染、大气污染、工业污水在线检测中的应用前景和最新进展，并对研究中的热点问题进行分析和探讨。 点击
“ITQ－离子阱气相色谱质谱联用仪”网络视频讲座成功举办
3月16日，赛默飞世尔科技“ITQ 离子阱气相色谱质谱联用仪”网络视频讲座在分析测试百科网成功举办。赛默飞世尔科技色谱质谱部应用工程师朱曼洁女士主要介绍了Thermo Fisher全新一代气相色谱离子阱质谱ITQ系列的特性优势，包括：外置离子源技术；使维护
XPS能谱仪XPS谱图分析技术
在XPS谱图中,包含极其丰富的信息,从中可以得到样品的化学组成,元素的化学状态及其各元素的相对含量。XPS谱图分为两类,一类是宽谱(wide)。当用AlKα或MgKα辐照时,结合能的扫描范围常在0-1200eV或 0-1000eV。在宽谱中,几乎包括了除氢和氦元素以外的所有元素的主要特征能量的光电子
XPS应用举例
（1）例1 硅晶体表面薄膜的物相分析对薄膜全扫描分析得下图，含有Zn和S元素，但化学态未知。为得知Zn和S的存在形态，对Zn的最强峰进行窄扫描，其峰位1022eV比纯Zn峰1021.4eV更高，说明Zn内层电子的结合能增加了，即Zn的价态变正，根据含有S元素并查文献中Zn的标准谱图，确定薄膜中Zn是
xps－样品要求
定性分析首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态，为了是结果准确在每一次扫描得结果分别进行荷电校正。XPS谱图中化学位移的分析一般规律为：1
XPS图谱解释
（1）谱线识别X射线入射在样品上，样品原子中各轨道电子被激发出来成为光电子。光电子的能量统计分布（X射线光电子能谱）代表了原子的能级分布情况。不同元素原子的能级分布不同，X射线光电子能谱就不同，能谱的特征峰不同，从而可以鉴别不同的元素。电子能量用E = Enlj 表示。光电子则用被激发前原来所处的能