电子探针显微镜之定量分析准确度高
电子探针是目前微区元素定量分析最准确的仪器。电子探针的检测极限(能检测到的元 素最低浓度)一般为（0.01－0.05）wt%， 不同测量条件和不同元素有不同的检测极限，但 由于所分析的体积小，所以检测的绝对感量极限值约为 10-14 g，定量分析的相对误差为(1— 3)%，对原子序数大于 11，含量在 10wt% 以上的元素，其相对误差通常小于 2%。......阅读全文
电子探针显微镜之定量分析准确度高
电子探针是目前微区元素定量分析最准确的仪器。电子探针的检测极限(能检测到的元 素最低浓度)一般为（0.01－0.05）wt%， 不同测量条件和不同元素有不同的检测极限，但 由于所分析的体积小，所以检测的绝对感量极限值约为 10-14 g，定量分析的相对误差为(1— 3)%，对原子序数大于 1
电子探针显微镜之不损坏试样探测
现在电子探针均与计算机联机，可以连续自动进行多种方法分析，并自动进行数据处理 和数据分析，对含 10 个元素以下的样品定性、定量分析，新型电子探针在 30min 左右可以 完成，如果用 EDS 进行定性、定量分析，几 min 即可完成。对表面不平的大样品进行元素 面分析时，现在可以自动聚焦分析
电子探针显微镜之元素分析范围广
电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线，而氢和氦原子只有 K 层电子，不能产生特征 X 射线， 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线，但产生的特征 X 射线波长太长，通常无法进 行检测，少数电子探针
电子探针显微镜之显微结构分析
电子探针是利用 0.5μm－1μm 的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相 互作用产生的特征 X 射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样 品的微区内(μm 范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm 范围内的 微区分析， 微区分析是它的一个重要
种子自动计数系统准确度高
种子计数工作对于种子检验人员而言，是枯燥而繁琐的，需要花费大量的时间和精力。因此寻找一种简单有效且准确度高的种子自动计数系统，是提高种子检验效率的有效途径。托普云农研发的种子自动计数系统采用傻瓜式的自动计数模式，不仅操作简单，而且方便高效，准确度高，能够满足现代种子技术的需要。 以
矿物的成分测试方法（电子探针显微分析）
电子探针X射线显微分析仪（EPM），简称电子探针，是一种现代成分分析仪器。由于它可以获得矿物微米量级微区内的化学成分，并且无需分离和破坏样品，费用也不高，尤其是对于那些含量少、颗粒微小以及成分不均匀样品的成分分析，提供了有效的分析方法，因此目前在矿物成分研究中应用最广。它除了可以给出一个微区的成分外
简介电子探针显微分析的特点
1.显微结构分析 电子探针是利用0.5μm－1μm的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样品的微区内(μm范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm范围内的微区分析， 微区分析是它的一个重要
电子探针在鉴别黄金饰品中有何作用？
K金首饰的成色鉴定，古老的方法是试金石（比色）与比重法，这虽然可以大致确定首饰的含金量，但只是一种近似方法。化学法虽具较高精确度，但耗时，破坏样品，且只能测定金的含量。使用电子探针检测K金首饰可弥补上述不足，因它不仅不破坏样品，而且分析速度快，准确度高，可同时检测K金中各种成分含量。
电子薄膜的电子探针能谱分析技术研究
对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分和厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分和厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术（电子探针能谱）能够观察微观形貌和分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜
影响色谱仪定量分析结果准确度的因素
影响色谱仪定量分析结果准确度的因素有样品制备、样品储存条件、进样技术和检测器特性等。一、样品制备：样品制备方法有溶解、浓缩、萃取和衍生化等。1、样品溶剂应与洗脱液互溶性好。2、将干扰组分尽可能分离。3、含量低时必须富集。二、样品储存条件：低温，干燥，避光。三、进样技术：1、进样装置的准确度和精度。2